ZEISS Hochgeschwindigkeits-Scan-Elektronenmikroskop MultiSEM

Die Kommission kann die Ära der Innovationen in der Geschwindigkeit des Mikroskops von Shenzhen eröffnen

Mit HilfeZEISS Hochgeschwindigkeits-Scan-Elektronenmikroskop MultiSEMSie können die Erfassungsgeschwindigkeit von 91 parallelen Elektronen East voll nutzen. Heute können Sie Proben im Zentimeter-Maßstab in Nanoauflösung bilden. Dieses ausgezeichnete Scan-Elektronenmikroskop (SEM) ist für einen kontinuierlichen, zuverlässigen Betrieb rund um die Uhr konzipiert. Durch die einfache Einrichtung eines leistungsstarken Datenerfassungsprozesses kann MutiSEM die Bilderfassung mit hoher Linie unabhängig automatisieren. Steuern Sie MultiSEM mit der bewährten ZEN-Bildverarbeitungssoftware: Sie können alle Funktionen dieses leistungsstarken Scan-Elektronenmikroskops intuitiv und flexibel verwalten.

Bilderfassung mit hoher Geschwindigkeit und Nanoauflösung

91 Elektronen arbeiten gleichzeitig und verfügen über eine hervorragende Bildgeschwindigkeit.

Bildgebung einer Region von 1 mm2 in wenigen Minuten mit einer Auflösung von bis zu 4 nm.

Mit einem optimierten Sekundärelektronik-Detektor für die Erfassung von Bildern mit geringem Signal-Rausch-Verhältnis,

Aufnahme und Bildgebung großer Proben

ZEISS Hochgeschwindigkeits-Scan-Elektronenmikroskop MultiSEMAusgestattet mit einer Probenkammer für 10 cm x 10 cm Proben

Bildgebung der gesamten Probe und die Entdeckung aller Details, die zur Forschung beitragen.

Die automatische Erfassung ermöglicht die Bildgebung großer Flächen - Sie erhalten feine Nanobilder, ohne sichtbare Informationen zu verlieren,

ZEN Bildgebungssoftware

Einfache und intuitive Bedienung des MultiSEM mit der bewährten ZEN-Software, die auf alle Zeiss-Bildsysteme eingesetzt wird

Intelligente automatische Einstellung hilft Ihnen bei der Aufnahme von Bildern mit hoher Auflösung und hoher Linie

Erstellen Sie schnell und einfach komplexe, automatisierte Abnahmeprozesse basierend auf der tatsächlichen Situation der Probe

ZEN-Software für MultiSEMM ermöglicht kontinuierliche parallele Bildgebung mit hoher Geschwindigkeit

Offene API-Software-Schnittstelle für flexible und schnelle Anwendungsentwicklung

Datenerfassung für kontinuierliche Schnitttomografien von großen Proben

Sammlung von bis zu 1.000 aufeinanderfolgenden Schnitten in biologischem Gewebe mit dem automatischen Schnittharz ATUMtome