ZEISS Sigma startet Scan-Elektronenmikroskop

ZEISS Sigma Field Launch Scan-Elektronenmikroskop für hochwertige Bildgebung und Analyse

Flexible Prüfung, analytische Leistung in 4 Schritten

Kombinieren Sie die analytische Leistung mit der Field-Launch-Scanning-Technologie und nutzen die bewährten elektronischen optischen Komponenten von Gemin. Eine Vielzahl von Detektoren ist verfügbar: für die Bildgebung von Partikeln, Oberflächen oder Nanostrukturen. Der halbautomatische 4-Schritt-Workflow von Sigma spart viel Zeit: Einrichten von Bildgebungs- und Analyseschritten für höhere Effizienz.

Sigma 300 ist kostengünstig. Der Sigma 500 ist mit einem Rückstreuungsgeometrie-Detektor ausgestattet, der eine grundlegende Analyse schnell und einfach ermöglicht. Präzise, wiederholbare Analyseknoten können jederzeit bei jeder Probe erhalten werden

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Flexible Detektoroptionen für klare Bilder

Mit den innovativeren ETSE- und Inlens-Detektoren erhalten Sie hochauflösende Oberflächenformationen im Hochvakuum.

Verwenden Sie einen VPSE- oder C2D-Detektor, um ein klares Bild im variablen Druckmodus zu erhalten.

Erzeugen Sie hochauflösende transmittierende Bilder mit aSTEM-Detektoren.

Analysieren Sie Komponenten mit einem HDBSD- oder YAG-Detektor.

Benutzerfreundlich und einfach zu bedienen

SmartSEM Touch ist ein Add-on zu bestehenden Betriebssystemen für Multi-User-Umgebungen und eine einfache Benutzeroberfläche, die sowohl erfahrenen Fachanwendern als auch Anfängern eine einfache Bedienung bietet.

Basierend auf der tatsächlichen Laborumgebung kann der Betrieb von SEM ein Spezialgebiet für Elektronenmikroskop-Experten sein. Nicht-professionelle Benutzer (z. B. Studenten, kurz ausgebildete Mitarbeiter oder Qualitätsingenieure) benötigen jedoch auch SEM, um Daten zu erhalten. Die Sigma 300 und Sigma 300 VP berücksichtigen die Bedürfnisse von Nicht-Profi-Anwendern und ihre Benutzeroberflächenoptionen erfüllen die Bedienungsanforderungen von erfahrenen Mikroskop-Experten und Mikroskop-Anfängern.

Eigenschaften:

ZEISS Sigma startet ein Scan-Elektronenmikroskop für eine flexible Erkennung der klaren Bildgebung

Charakterisieren Sie alle Proben mit Siqma nach Ihren Anforderungen

Verwenden Sie den in-lens Doppeldetektor, um Form- und Zusammensetzungsinformationen zu erhalten.

Verwenden Sie die Sekundärdetektoren der neuen Generation, um bis zu 50% des Signalbildes zu erhalten. Mit den innovativen C2D- und variablen Druckdetektoren von Siama können scharfe Bilder mit bis zu 85 % Kontrast in einer niedrigen Vakuumumgebung im variablen Druckmodus erzielt werden.