Fokussiertes Ionenstrahlscannelektronenmikroskop Crossbeam

ZeissFokussiertes Ionenstrahlscannelektronenmikroskop CrossbeamDie FIB-SEM kombiniert die ausgezeichnete Bildgebungs- und Analyseleistung des Field Emission Scan-Elektronenmikroskops (FE-SEM) mit der ausgezeichneten Bearbeitungsleistung des Focused Ion East (FIB) der neuen Generation. Ob in Forschungs- oder industriellen Experimenten, Sie können mehrere Benutzer gleichzeitig auf einem Gerät betreiben. Dank des modularen Plattformkonzepts der Zeiss Crossbeam-Serie können Sie Ihr Instrumentensystem jederzeit nach Ihren Bedürfnissen aktualisieren. Bei der Bearbeitung, Bildgebung oder der Realisierung von 3D-Rekonstruktionsanalysen verbessert die Crosssbeam-Serie Ihr Anwendungserlebnis erheblich.

Mit dem elektronischen optischen System Gemini können Sie echte Probeninformationen aus hochauflösenden SEM-Bildern extrahieren

Mit den neuen lon-sculptor FlB-Brillen und einer völlig neuen Art der Probenbehandlung können Sie die Probenqualität maximieren, die Probenschäden reduzieren und gleichzeitig den experimentellen Betrieb erheblich beschleunigenMit der Niederspannungsfunktion von lon-sculptor FlB können Sie ultradünne TEM-Proben vorbereiten und gleichzeitig die Nichtkristallisationsschäden auf sehr geringe Werte reduzieren.

Variable Luftdruckfunktion mit Crossbeam 340

Oder für anspruchsvollere Charakterisierung mit dem Crossbeam 550, der Ihnen noch mehr Wahlmöglichkeiten bietet

EM-Probenvorbereitungsprozess

Folgen Sie den folgenden Schritten, um die Probenarbeit effizient und qualitativ hochwertig abzuschließen

Fokussiertes Ionenstrahlscannelektronenmikroskop CrossbeamMit einer Komplettlösung zur Herstellung von ultradünnen, qualitativ hochwertigen TEM-Proben können Sie die Proben effizient vorbereiten und die Analyse von Transmissionsbildmustern auf TEM oder STEM realisieren.

Einfache Navigation in der Region von Interesse (ROI) 1.

Sie können Ihre Interessengebiete (ROI) mühelos lokalisierenMit der Navigationskamera des Probenaustauschraums können Sie Ihre Proben problemlos lokalisieren

Breite Sichtfeld, verzerrungsfreie Bilder auf SEM

2. Automatische Probenarbeit - Vorbereitung von Flächenproben aus dem Körpermaterial

Sie können die Probe in drei einfachen Schritten vorbereiten: Die definierten ASP-Parameter umfassen eine Driftkorrektur, eine Oberflächenablagerung und ein Ionenoptisches System mit groben, fein geschnittenen FIB-Spiegeln, das einen hohen Durchfluss gewährleistet

3. Einfache Übertragung - Probenschneiden, Übertragungsmechanisierung

Suchen Sie nach einem Roboter und schweißen Sie eine dünne Probe an der Nadelspitze des Roboters

Die Folienprobe wird mit dem Verbindungsteil des Probenmaterials geschnitten, so dass die Folie getrennt wird, die anschließend extrahiert und in das TEM-Gitternetz übertragen wird.

4. Probenverdünnung - ein entscheidender Schritt, um eine qualitativ hochwertige TEM-Probe zu erhalten Das Instrument ist entworfen, um es dem Benutzer zu ermöglichen, die Probendicke in Echtzeit zu überwachen und letztendlich die gewünschte Zieldicke zu erreichen. Sie können die Dünnschichtdicke gleichzeitig beurteilen, indem Sie Signale von zwei Detektoren sammeln. Einerseits kann die Enddicke mit hoher Wiederholbarkeit durch einen SE-Detektor erworben werden, andererseits kann die Oberflächengüte durch einen lnlens SE-Detektor kontrolliert werden.

Vorbereiten Sie qualitativ hochwertige Proben und reduzieren Sie die nicht kristallisierten Schäden auf vernachlässigbare Punkte