Röntgenmikroskop von ZEISS Xradia 610 & 620 Versa

Das ZEISS Röntgenmikroskop Versa ist mit seiner hervorragenden hohen Auflösung (RaaD) über große Arbeitsabstände ein „starker Helfer“ für Forscher und Wissenschaftler weltweit. Die hohe Auflösung auch bei relativ großen Arbeitsabständen hilft, wissenschaftliche Erkenntnisse und Entdeckungen von außergewöhnlicher Bedeutung zu erzielen. Mit der rasanten Entwicklung der heutigen Technologie werden auch höhere Anforderungen an die Analyseinrichtungen gestellt, und die Zeiss Xradia 600 Versa-Serie wurde speziell für diese Herausforderung entwickelt.
ZEISS Röntgenmikroskop Xradia 610 & 620 Versa mit verbesserter Lichtquelle und optischer Technologie
Zwei große Herausforderungen im Bereich der Röntgentomographie sind die Realisierung einer hochauflösenden und leistungsstarken Bildgebung bei großen Probengrößen und großen Arbeitsabständen. Die beiden von ZEISS vorgestellten Röntgenmikroskope lösen diese Herausforderungen mit den Vorteilen: Das System liefert eine leistungsstarke Röntgenquelle, die den Röntgenfluss erheblich erhöht und somit die Tomografie beschleunigt. Die Arbeitseffizienz wird bis zum Doppelten erhöht, ohne die räumliche Auflösung zu beeinträchtigen. Gleichzeitig wird die Stabilität der Röntgenlichtquelle verbessert und die Lebensdauer verlängert.
Zu den wichtigsten Merkmalen des ZEISS Röntgenmikroskops Xradia 610 & 620 Versa gehören:
✔ Zui hohe räumliche Auflösung 500nm, Zui kleine Objekte 40 nm
✔ Doppelt so produktiv wie die Zeiss Xradia 500Versa
✔ Einfacher zu bedienen, einschließlich schneller Aktivierungsquellen
✔ Fähigkeit zur Beobachtung von Submikrometer-Charakteristiken von Proben von größeren Probenarten und -größen bei größeren Arbeitsabständen
Höhere Auflösung und Durchfluss
Die herkömmliche tomografische Technik basiert auf einer einzigen geometrischen Vergrößerung, während das ZEISS-Röntgenmikroskop Xradia Versa sowohl optische als auch geometrische Vergrößerungen einsetzt und gleichzeitig eine hochleistungsfähige Röntgenquelle verwendet, die eine schnellere Auflösung auf Submikronenstufe ermöglicht. Die High-Resolution-Bildgebungstechnologie (RaaD) ermöglicht eine verlustfreie, hochauflösende 3D-Bildgebung von größeren und dichteren Proben, einschließlich Teilen und Geräten. Darüber hinaus ermöglicht die optionale Flachplattendetektor-Technologie (FPX) das schnelle Makroscan von großen Proben (bis zu 25 kg) und bietet eine Positionsnavigation für das Scannen von Interessengebieten innerhalb der Probe.
Neue Freiheit erreichen
Verwenden Sie branchenfreundliche 3D-Röntgenbildlösungen für Spitzenforschung und industrielle Forschung: Mit zui können Sie die Absorption und Phasenbeschichtung optimieren, um umfangreichere Materialinformationen und -eigenschaften zu erkennen. Verwenden Sie die Diffraction Linear Tomography Technology (LabDCT), um 3D-Kristallstrukturinformationen zu enthüllen. Fortgeschrittene Bilderfassungstechnologien ermöglichen ein hochpräzises Scannen von großen oder unregelmäßig geformten Proben. Verwenden Sie Algorithmen für maschinelles Lernen zur Nachbearbeitung und Teilung Ihrer Proben.
Ausgezeichnete 4D-Lösungen
Die ZEISS Xradia 600 Versa-Serie ermöglicht die dynamische 3D-Mikrostrukturcharakterisierung in einer kontrollierten Umgebung. Dank der hochauflösenden Bildgebung des Xradia Versa bei großen Arbeitsabständen können Proben für eine hochauflösende Bildgebung in eine Probenkammer oder in eine hochpräzise In-situ-Ladevorrichtung platziert werden. Versa lässt sich nahtlos mit anderen ZEISS-Mikroskopen integrieren, um Herausforderungen bei der Bildgebung in mehreren Skalen zu lösen.