Xradia 410 Versa Strahlenmikroskop

Xradia 410 Versa StrahlenmikroskopEs schließt die Lücke zwischen einem leistungsstarken Röntgenmikroskop und einem schlecht funktionierenden Computertomographiesystem (CT). Xradia 410 Versa bietet eine nicht-destruktive 3D-Bildgebung mit der branchenbesten Auflösung, Kontrast und in situ-Funktionalität, die es Ihnen ermöglicht, bahnbrechende Untersuchungen für eine breite Probengröße durchzuführen. Verbessern Sie Ihren Bildverarbeitungsworkflow mit dieser leistungsstarken, kostengünstigen „Hauptlösung“, auch in verschiedenen Laborumgebungen
Flexible 4D- und On-Site-Fähigkeiten für Probengrößen und Typen der Industrie
Das Xradia 410 Versa Röntgenmikroskop bietet kostengünstige und flexible 3D-Bildgebung, die es Ihnen ermöglicht, eine Vielzahl von Proben und Forschungsumgebungen zu bearbeiten. Nichtzerstörerische Röntgenbildgebung kann Ihre wertvollen Proben im Laufe der Zeit erhalten und erweitern. Das Instrument erzielt eine reale räumliche Auflösung von 0,9 μm* mit einer kleinen erreichbaren Körpergröße von 100 nm. Der fortschrittliche Absorptions- und Phasenkontrast (geeignet für weiche oder niedrige Z-Materialien) bietet Ihnen zusätzliche Funktionen, um die Einschränkungen herkömmlicher Computertomographiemethoden (industrielle CT) zu überwinden.
Die Xradia Versa-Lösung erweitert die wissenschaftliche Forschung über die Grenzen der projektionsbasierten Mikron- und Nano-CT-Systeme hinaus. Die herkömmliche Tomografie basiert auf einer einstufigen Vergrößerung und der Xradia 410 Versa verwendet einen zweistufigen Prozess, der auf einem Synchronobeschleuniger-Kaliber-Optik-System basiert. Es ist einfach zu bedienen und hat einen flexiblen Kontrast. Mit der Long Distance Breakthrough Resolution (RaaD) können Sie Submikron-Auflösungen in einer Vielzahl von Probengrößen in der natürlichen Umgebung und in verschiedenen Feldbohrgeräten aufrechterhalten. Die nicht-zerstörerische Multi-Length-Skala-Funktion ermöglicht es Ihnen, die gleiche Probe bei verschiedenen Vergrößerungen abzubilden, um die Entwicklung der mikrostrukturellen Eigenschaften des Materials zwischen kontinuierlichen Bearbeitungen (4D) oder unter Einfluss von simulierten Umgebungsbedingungen (vor Ort) zu charakterisieren.
Darüber hinaus ermöglicht das Scout-and-Scan-Steuersystem eine effiziente Workflow-Umgebung durch eine rezeptbasierte Einstellung, was Xradia 410 Versa für Benutzer aller Erfahrungsstufen einfach macht.
　　Xradia 410 Versa StrahlenmikroskopVorteile
Die Xradia Versa-Architektur verfügt über eine zweistufige Verstärkungstechnologie, die es Ihnen ermöglicht, Auflösungen in der Ferne (RaaD) zu erzielen. Wie bei herkömmlichen Mikro-CT wird das Probenbild durch geometrische Vergrößerung vergrößert. In der zweiten Phase wandelt der blinkende Körper Röntgenstrahlen in sichtbares Licht um und vergrößert sie dann optisch. Die geringere Abhängigkeit von geometrischen Vergrößerungen ermöglicht es den Xradia Versa-Geräten, eine Submikron-Auflösung in größeren Arbeitsabständen aufrechtzuerhalten. Dies ermöglicht es Ihnen, eine breite Palette von Probengrößen* effektiv zu untersuchen, auch in situ.
Nichtzerstörerische 3D-Bildgebung, um wertvolle Proben zu erhalten und zu erweitern
Hohe räumliche Auflösung bis zu <0,9 μm und eine geringe Körpergröße bis zu 100 nm
Fortgeschrittene Vergleichslösungen für Low-Z-Materialien und Weichgewebe
4D- und In-situ-Funktionen für flexible Probengröße und -typen
Das Scout-and-Scan-Steuersystem, eine benutzerfreundliche Workflow-Einstellung, ist ideal für Multi-User-Umgebungen
Überlastung der Probenstange und Erweiterung der Quellen- und Detektorabläufe
* Weniger Probenvorbereitung erforderlich
Einfache Navigation durch mehrere Vergrößerungserkennungssysteme
Kontinuierlicher Betrieb durch automatische Mehrpunkttomografie und wiederholte Scans