Bildungs-Scan-Tunnel-Mikroskop (FM-Nanoview T-STM), Miniatur und abnehmbar, sehr einfach zu tragen und zu unterrichten.
Eigenschaften:
◆Miniaturisiertes und abnehmbares Design, sehr einfach zu tragen und zu unterrichten
◆SeiteCCD-Beobachtungssystem zur Echtzeit-Beobachtung des Sondenzustands und der Positionierung der Sondenproben
◆Inspektionskopf und Probenscanner integriert, sehr stabile Struktur und hohe Störungsbeständigkeit
◆Federhängende schockdichte Art, einfach und praktisch, gute schockdichte Wirkung
◆Ein Achsantrieb nähert sich der Probe automatisch vertikal an die Sonde, wodurch die Nadelspitze vertikal zum Probenscan steht
◆Motorgesteuerte intelligente Einstiegsmethode zur automatischen Erkennung von Druckkeramik zum Schutz von Sonden und Proben
◆Integrierter Scanner Nichtlineare Korrektur Benutzer-Editor für Nano-Charakterisierung und Messgenauigkeit98%
Technische Parameter:
Arbeitsmodus |
Konstant hoher Modus, konstanter Strommodus |
Optische Beobachtung |
1 bis 500-fache Verstärkung kontinuierlich einstellbar |
Stromspektrumkurve |
I-V-Kurve, Strom-Entfernungskurve |
Scangeschwindigkeit |
0,1 Hz bis 62 Hz |
XYScanbereich |
10 × 10um |
Scanwinkel |
0~360° |
ZScanbereich |
1um |
Betriebsumgebung |
Betriebssysteme Windows XP/7/8/10 |
Scanauflösung |
Horizontal0.05nm, Länge 0,01 nm |
Kommunikationsschnittstelle |
USB2.0/3.0 |
Probengröße |
Φ≤68mm, H≤20mm |
Schockdämpfungsmethode |
Federhängen |
Muster Reisetisch |
15 × 15 mm |
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