Grundlagenmikroskop für wissenschaftliche Forschung

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Grundlagenforschungs-Atomkraftmikroskop (FM-Nanoview 1000 AFM), Laserdetektionskopf und Probenscanner sind integriert und sind sehr stabil und störungsbeständig.

Produktdetails

Eigenschaften:

◆Präzisions-Sondenpositioniergerät mit einfacher Laserfleckausrichtung

◆Automatische optische Positionierung ohne Fokussierung, Echtzeit-Beobachtung und Positionierungssonde

◆Laserdetektionskopf und Probenscanner integriert, sehr stabile Struktur und hohe Störungsbeständigkeit

◆Federhängende schockdichte Art, einfach und praktisch, gute schockdichte Wirkung

◆Ein Achsantrieb nähert sich der Probe automatisch vertikal an die Sonde, wodurch die Nadelspitze vertikal zum Probenscan steht

◆Motorgesteuerte intelligente Einstiegsmethode zur automatischen Erkennung von Druckkeramik zum Schutz von Sonden und Proben

◆Metallschützte Schallisolierung mit eingebautem hochpräzisen Temperatur- und Luftfeuchtigkeitssensor für Echtzeitüberwachung der Arbeitsumgebung

◆Integrierter Scanner Nichtlineare Korrektur Benutzer-Editor für Nano-Charakterisierung und Messgenauigkeit98%

Technische Parameter:

Arbeitsmodus	Kontaktmodus, Klopfmodus	Probenstandreise	15 × 15 mm
Auswahlmodus	Reibung/ Seitenkraft, Amplitude / Phase, Magnetisch / Statisch	Optische Beobachtung	4x optisches Objektiv / 2,5um Auflösung
Kraftspektrumkurve	F-Z-Kräftekurve, RMS-Z-Kurve	Scangeschwindigkeit	0,6 Hz bis 30 Hz
XY-Scanbereich	20×20um, 可选50 x 50um, 100 x 100um	Scanwinkel	0~360°
Z-Scanbereich	2,5um, 可选5 um und 10um	Betriebsumgebung	Betriebssysteme Windows XP/7/8/10
Scanauflösung	Horizontal0.2nm， Länge 0,05 nm	Kommunikationsschnittstelle	USB2.0/3.0
Probengröße	Φ≤90mm, H≤20mm	Schockdämpfungsdesign	Federhängen/金属屏蔽箱

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