Wissenschaftliches Atomkraftmikroskop

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Wissenschaftliches Atomkraftmikroskop (FM-Nanoview R-AFM), ein leistungsstarkes und kostengünstiges wissenschaftliches Forschungsklasse AFM.

Produktdetails

Eigenschaften:

◆Hochleistungsstarke und kostengünstige wissenschaftliche Forschungsklasse AFM

◆Unterstützt mehrere Arbeitsmodi und erweiterte Funktionsmodule für die überwiegende Mehrheit der grundlegenden wissenschaftlichen Anwendungen

◆Offenes Konstruktionsdesign für individuellere Funktionsoptionen

◆XYZ dreiassiger unabhängiger geschlossener Elektrokeramik-Scanner für hochpräzise Positionierung und hochauflösende Scanmessungen

◆Schließen-Ring-Elektrokeramik-Scan-Messungen ohne nichtlineare Korrektur, Nano-Charakterisierung und Messgenauigkeit besser als99.5%

Technische Parameter:

Scanbereich	XYSchließen100 * 100um，ZSchließen10 µm	Systemgeräuschpegel	RMS≤30 Uhr
Scanauflösung	XYSchließen0,2 nm，ZSchließen0,04 nm	Bildprobenpunkte	Höchste4096*4096
Scangeschwindigkeit	0.1Hz bis 100Hz	Schockdämpfungsmethode	Luftdämpfer oder aktiver Dämpfer
StandardbildgebungModus	Kontaktmodus, Klappmodus, Phasenbildgebung,SeiteKraftmodus (LFM）
Mechanischer Messmodus	F-ZKraftkurve,RMS-ZKurven,Fortgeschrittene Kraftspektroskopie、MechanikKartenMessen
Elektronischer Messmodus	Elektrostatik (EFM）Elektrische Leitung力Muster (C-AFMKelvin-Probenkraftmodell (KPFM(Druckelektrischer Modus)PFM）Scan-Widerstandsmodus (SSRMScan-Kapazitätsmodus (SCM）
Magnetischer Messmodus	Magnetischer Modus (MFM),Modulierbares Magnetfeld
Nano-Erosionsfunktion	Mechanische Erosion, elektrische Erosion
Umgebungskontrollfunktionen	FlüssigkeitBildgebungModus, geschlossene Atmosphäre (Speziellemit Gas),Temperaturkontrollmodus (-20℃~200℃）、Elektrochemischer Messmodus
Optische Hilfsfunktionen	Anpassbares Mikroskop、Goldphasemikroskop、Umkehrtes Biomikroskop

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