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Suzhou Flyman Präzisionsinstrumente Co., Ltd.
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Suzhou Flyman Präzisionsinstrumente Co., Ltd.

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    Jingdong, Wuzhong Distrikt, Suzhou. Taihu intelligente Fertigung Industriepark (Longshan Südstraße Nr. 7) 3A # 401-402

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Industrielle Atomkraftmikroskope

VerhandlungsfähigAktualisieren am01/12
Modell
Natur des Herstellers
Hersteller
Produktkategorie
Ursprungsort
Übersicht
Industrielle Atomkraftmikroskope (FM-Nanoview LS-AFM) mit nahezu unbegrenzter Probengröße und -gewicht eignen sich besonders für die Prüfung großer Proben wie Wafer, übergroße Raster und optisches Glas.
Produktdetails

Eigenschaften:


Große Größen für die kommerzielle ProduktionIndustrielle Atomkraftmikroskope

◆ Die Probengröße und das Gewicht sind fast unbegrenzt, besonders geeignet für die Prüfung großer Proben wie Wafer, übergroße Raster und optisches Glas

◆ Die Probentasche ist skalierbar und sehr einfach für die Kombination von mehreren Instrumenten zur Erkennung am Ort

◆ Ein-Klick-automatisches Scannen für die Programmierung mehrerer Testpunkte für eine schnelle, automatisierte Erkennung

◆ Beim Scannen des Bildes bleibt die Probe unbeweglich, die Sonde wird angetriebenXYZ 3D mobile Messbildgebung

◆ Drag-Stand-Scanner-Kopf-Design, Marmorboden, Vakuum-Adsorption-Trägerstand

◆ Integrierte mechanische Schwingungsdämpfungs- und Umweltgeräuschschutzlösung, die den Systemgeräuschpegel erheblich reduziert

◆ Intelligente schnelle Einstiegsmethode zur automatischen Detektion von Druckkeramik durch Motorsteuerung, um Sonden und Proben zu schützen

◆ Scanner Nichtlineare Korrektur Benutzer-Editor, Nano-Charakterisierung und Messgenauigkeit besser als98%


Technische Parameter:

Arbeitsmodus

Kontaktmodus, Klopfmodus

ZAufzug

Schrittmotor Antriebssteuerung, minimale Schritte10nm

Auswahlmodus

Reibung/ Seitenkraft, Amplitude / Phase, Magnetisch / Statisch

ZErhöhenReise

20 mm (optional 25 mm)

Kraftspektrumkurve

F-Z-Kräftekurve, RMS-Z-Kurve

Optische Positionierung

10x optische Objektive

XYZScan Methode

SondenantriebXYZ Scan

Kamera

5 Megapixel digitales CMOS

XYScanbereich

größer als100um × 100um

Scangeschwindigkeit

0,6 Hz bis 30 Hz

ZScanbereich

größer als10um

Scanwinkel

0~360°

Scanauflösung

Horizontal0.2nm, Länge 0,05 nm

Betriebsumgebung

Windows 10 Betriebssystem

XYProbentesch

Schrittmotorantriebssteuerung, Bewegungsgenauigkeit1um

Kommunikationsschnittstelle

USB2.0/3.0

XYBewegen Sie Ihre Reise

200 x 200 mm (optional 300 x 300 mm)

GeräteStruktur

Scanner-Kopf, Marmorboden

Probenträger

Durchmesser200 mm (optional 300 mm)

Schockdämpfungsmethode

Luftschwimmende Schockdämpfung+ Schallschutz (optionale aktive Dämpfungsanlage)

Probengewicht

≤20 kg