Umweltkontrolliertes Atomkraftmikroskop

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Umgebungskontrolliertes Atomkraftmikroskop (FM-Nanoview EC-AFM) mit optischem Mikroskop und Atomkraftmikroskop-Bildgebung, beide können gleichzeitig arbeiten, ohne sich gegenseitig zu beeinflussen.

Produktdetails

Eigenschaften:

◆Optisches Metallphase- und Atomkraftmikroskop mit leistungsstarkem Design

◆Gleichzeitig mit optischem Mikroskop und Atomkraftmikroskop Bildgebungsfunktion, beide können gleichzeitig arbeiten, ohne einander zu beeinflussen

◆Kann gleichzeitig in normalen Luft-, Flüssigkeits-, Temperatur- und Inertgas-Umgebungen arbeiten

◆Der Probenscanner und der Laserdetektionskopf sind geschlossen und ermöglichen das Aufladen von Spezialgasen ohne zusätzliche Abdeckung

◆Laserprüfung mit vertikalem optischem Design, mit Gas-Flüssigkeit-Doppelzweck-Sondenhalter für die Arbeit unter Flüssigkeit

◆Ein Achsantrieb nähert sich der Probe automatisch vertikal an die Sonde, wodurch die Nadelspitze vertikal zum Probenscan steht

◆Motorgesteuerte intelligente Einstiegsmethode zur automatischen Erkennung von Druckkeramik zum Schutz von Sonden und Proben

◆Ultrahochoptisches Positionierungssystem für die genaue Positionierung von Sonden und Proben

◆Integrierter Scanner Nichtlineare Korrektur Benutzer-Editor für Nano-Charakterisierung und Messgenauigkeit98%

Technische Parameter:

Arbeitsmodus	Kontaktmodus, Klopfmodus	Beleuchtung	Kohler Beleuchtungssysteme
Auswahlmodus	Reibung/ Seitenkraft, Amplitude / Phase, Magnetisch / Statisch	Optische Fokussierung	Kleine manuelle Fokussierung
Kraftspektrumkurve	F-Z-Kräftekurve, RMS-Z-Kurve	Kamera	5 Megapixel CMOS-Sensor
Arbeitsumgebung	Luft/ Flüssigkeiten, Inertgase, Heiz-/Kälteumgebung	Anzeige	10,1 Zoll Flachbildschirm mit Bildmessung
XY-Scanbereich	50 × 50um, 可选20 x 20um, 100 x 100um	Heizungsgeräte	Temperaturregelbereich Raumtemperatur~ 250 ℃ (optional)
Z-Scanbereich	5um, 可选2.5 um und 10um	Wärme und Kalte	Temperaturregelbereich-20 ℃ ~ 220 ℃ (optional)
Scanauflösung	Horizontal0.2nm， Länge 0,05 nm	Scangeschwindigkeit	0,6 Hz bis 30 Hz
Probengröße	Φ≤68mm, H≤20mm	Scanwinkel	0~360°
Probenstandreise	25 × 25 mm	Betriebsumgebung	Betriebssysteme Windows XP/7/8/10
Optische Objektive	5X/10X/20X/50X Flachfeld-Objektiv	Kommunikationsschnittstelle	USB2.0/3.0
Optische Brille	10x

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