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Filmetrics F20 Weißlichtinterferenzdickenmesser

VerhandlungsfähigAktualisieren am01/05
Modell
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Hersteller
Produktkategorie
Ursprungsort
Übersicht
Das weiße Lichtinterferenzdickenmesser Filmetrics F20 ist ein hochpräzises, vielseitiges Messgerät, das Eigenschaften wie Filmdicke, optische Konstanten, Reflexivität und Durchlässigkeit schnell bestimmt. Die berührungsfreie Messmethode ist für eine Vielzahl von zerbrechlichen oder empfindlichen Materialien geeignet und bietet eine Auflösung auf nanoskala und einen weiten Messbereich (1nm-3mm). Das Gerät eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungsszenarien, darunter Halbleiter, Optik, Biomedizin und andere. Das F20-Foliendickenmesser liefert genaue Messergebnisse in Sekunden und unterstützt die Einschicht- und Mehrschichtanalyse und bietet eine zuverlässige Unterstützung für wissenschaftliche Forschung und industrielle Produktion.
Produktdetails

Filmetrics F20 Einpunktmessgerät




Filmetrics F20 WeißlichtinterferenzdickenmesserEinführung:

Egal, ob Sie die Filmdicke, die optische Konstante oder den Reflexionsgrad und die Durchlässigkeit eines Materials kennen möchten, das optische Filmdickenmesser Filmetrics F20 ist genau das Richtige für Sie. Die Installation dauert nur wenige Minuten, der Computer über USB anschließt und das Gerät kann die Messungen in Sekunden erhalten. Aufgrund seines modularen Designs eignet sich das Filmetrics F20 Single-Point Optical Film Thickness Messgerät für eine Vielzahl von Anwendungen.


Filmetrics F20 WeißlichtinterferenzdickenmesserEigenschaften:

  • Berührungslose Messung: schädigende Filme vermeiden, geeignet für zerbrechliche oder empfindliche Materialien;

  • Hohe Präzision und breite Reichweite: vertikale Auflösung bis zu Nanometern, messbare Dicke im Bereich von 1nm bis 3mm;

  • Mehr Szenarien einsetzbar: Grundsätzlich glatte, durchsichtige oder niedrige Absorptionskoeffizienten können gemessen werden.

  • Schnelle Messgeschwindigkeit: Nach der Konfiguration können Messungen innerhalb weniger Sekunden abgeschlossen werden.


Messprinzip:

Wenn das eingehende Licht die Schnittstelle verschiedener Substanzen durchdringt, wird ein Teil des Lichts reflektiert, da die Volatilität des Lichts dazu führt, dass das reflektierte Licht von mehreren Schnittstellen einander stört, wodurch das Spektrum der reflektierten Lichtwellenlängen eine Schütterung erzeugt. Aus der Schütterungsfrequenz des Spektrums kann der Abstand der verschiedenen Schnittstellen bestimmt werden, um die Dicke des Materials zu erhalten (je mehr Schütterungen die größere Dicke repräsentieren), aber auch andere Materialeigenschaften wie Brechungsgrad und Rauheit zu erhalten.



Membranschichtenbeispiele:

  • Filmeigenschaften: Dicke, Reflexivität, Durchlässigkeit, optische Konstante, Gleichmäßigkeit, Gravung usw.

  • Folienart: Transparente und halbtransparente Folien, häufig wie Oxide, Polymere oder sogar Luft

  • Filmzustand: Feste, flüssige und gasförmige Filme können gemessen werden

  • Dünnfilmstruktur: Einschichtfilm, Mehrschichtfilm; Ebene, Fläche



Häufige industrielle Anwendungen:

Halbleitermembranschicht

Anzeigetechnologie

Unterhaltungselektronik

Perillin

Lichtgravierkleber

OLED

Wasserdichte Beschichtung

Elektronik / Leiterplatten

Dielektrische Schicht

ITO und TCO

RFID-Erkennung

Magnetisches Material

Galliumaransid

Luftbox dick

Solarzellen

Medizinische Geräte

Mikromechanische Systeme

PVD und CVD

Aluminiumgehäuse Anodenfolie

Silikonkautschuk



Produktparameter:

Wellenlängenbereich:

380-1050nm

Lichtquelle:

Halogenlampe

Dickenmessbereich:

15nm-70um

Messgenauigkeit:

0,02 nm

Fleckgröße:

1,5 mm

Probengröße:

1 mm bis 300 mm

Kontaktieren Sie uns für weitere Parameter



Messdiagramm: