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Egal, ob Sie die Filmdicke, die optische Konstante oder den Reflexionsgrad und die Durchlässigkeit eines Materials kennen möchten, das optische Filmdickenmesser Filmetrics F20 ist genau das Richtige für Sie. Die Installation dauert nur wenige Minuten, der Computer über USB anschließt und das Gerät kann die Messungen in Sekunden erhalten. Aufgrund seines modularen Designs eignet sich das Filmetrics F20 Single-Point Optical Film Thickness Messgerät für eine Vielzahl von Anwendungen.
Berührungslose Messung: schädigende Filme vermeiden, geeignet für zerbrechliche oder empfindliche Materialien;
Hohe Präzision und breite Reichweite: vertikale Auflösung bis zu Nanometern, messbare Dicke im Bereich von 1nm bis 3mm;
Mehr Szenarien einsetzbar: Grundsätzlich glatte, durchsichtige oder niedrige Absorptionskoeffizienten können gemessen werden.
Schnelle Messgeschwindigkeit: Nach der Konfiguration können Messungen innerhalb weniger Sekunden abgeschlossen werden.
Wenn das eingehende Licht die Schnittstelle verschiedener Substanzen durchdringt, wird ein Teil des Lichts reflektiert, da die Volatilität des Lichts dazu führt, dass das reflektierte Licht von mehreren Schnittstellen einander stört, wodurch das Spektrum der reflektierten Lichtwellenlängen eine Schütterung erzeugt. Aus der Schütterungsfrequenz des Spektrums kann der Abstand der verschiedenen Schnittstellen bestimmt werden, um die Dicke des Materials zu erhalten (je mehr Schütterungen die größere Dicke repräsentieren), aber auch andere Materialeigenschaften wie Brechungsgrad und Rauheit zu erhalten.

Filmeigenschaften: Dicke, Reflexivität, Durchlässigkeit, optische Konstante, Gleichmäßigkeit, Gravung usw.
Folienart: Transparente und halbtransparente Folien, häufig wie Oxide, Polymere oder sogar Luft
Filmzustand: Feste, flüssige und gasförmige Filme können gemessen werden
Dünnfilmstruktur: Einschichtfilm, Mehrschichtfilm; Ebene, Fläche
Halbleitermembranschicht |
Anzeigetechnologie |
Unterhaltungselektronik |
Perillin |
Lichtgravierkleber |
OLED |
Wasserdichte Beschichtung |
Elektronik / Leiterplatten |
Dielektrische Schicht |
ITO und TCO |
RFID-Erkennung |
Magnetisches Material |
Galliumaransid |
Luftbox dick |
Solarzellen |
Medizinische Geräte |
Mikromechanische Systeme |
PVD und CVD |
Aluminiumgehäuse Anodenfolie |
Silikonkautschuk |
Wellenlängenbereich: |
380-1050nm |
Lichtquelle: |
Halogenlampe |
Dickenmessbereich: |
15nm-70um |
Messgenauigkeit: |
0,02 nm |
Fleckgröße: |
1,5 mm |
Probengröße: |
1 mm bis 300 mm |
Kontaktieren Sie uns für weitere Parameter | |||

