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Bowman B-Serie XRF Hochpräzisionsmesssystem für BeschichtungenEs ist ein Grundmodell von Bohmann und ein konventionelles Modell. Dieses Modell wird von oben nach unten gemessen. Die manuelle Bedienung ist mit einem festen Probentesch möglich. Die Probe wird während der Messung in das Probenhaus gelegt, um die Messung durch die Beobachtung eines Videobildes innerhalb der Kreuzlinie auf dem Bildschirm auszurichten.
Der hochauflösende Solid-State-Detektor verfügt über eine gute Elementauflösung und benötigt keinen Sekundärfilter. Der Spitzenpunkt bleibt über eine lange Zeit stabil und muss nicht häufig neu kalibriert werden. Im Vergleich zu anderen Geräten des gleichen Typs ist die Anzahl der Photonen der geschlossenen gekoppelten geometrischen Anordnung von Röntgenröhren und Detektoren deutlich gestiegen.
Die Unterstützungssoftware von Bowman unterstützt die Leistung des Instruments.Bowman XR F Hochpräzisionsmesssystem für BeschichtungenDie Analyse der Daten wird durch eine leistungsstarke Software unterstützt, die eine intuitive Benutzeroberfläche und einfache und freundliche Bedienung hat. Die Messdaten können mittels der Chargennummer abgerufen werden und die Berichte können mit einem Klick erstellt werden. Die Benutzer können unbegrenzt neue Anwendungen und Berichtsformate erstellen, alle Ergebnisse werden automatisch in der Computerdatenbank gespeichert und der Passwortschutz kann auf allen Benutzerebenen eingestellt werden.
Das hochpräzise Beschichtungsmesssystem BowmanXRF ermöglicht eine hochpräzise Messanalyse von Aluminium 13 bis Uran 92.
Einschichtbeschichtung: Au, Ag, Ni, Cu, Sn, Zn usw.
Legierungsbeschichtung: Gleichzeitige Analyse von ZnNi-Legierungen, SnPb-Legierungen und anderen Schichtdicken und Komponentenverhältnissen
Doppelschichtbeschichtung: Au / Ni / Cu, Sn / Ni / Cu, Cr / Ni / Fe usw.
Drei Schichten Beschichtung: Au / Pd / Ni / Cu usw.
Analyse von bis zu 5 Schichten
Analyse von 25 Elementen gleichzeitig
Analyse der Konzentration von Metallionen in einer Galvanisierungslösung
可分析ROHS有害元素
Technischer Support und Service für XRF von Bowman. Neben dem Hauptsitz in Chicago hat Bowman bereits Niederlassungen in über zwanzig Ländern auf vier Kontinenten gegründet. Baumann ist stets bestrebt, die Nutzer durch die Bereitstellung von technischen Support-Services vor Ort zu erreichen. Bowman verfügt über ein Demo-Anwendungszentrum, ein Schulungszentrum und eine Bibliothek für Ersatzteile in Shanghai, China, sowie Büros in Shenzhen, Hangzhou und Xi'an. Die Fähigkeit, den Kunden eine genaue Beschichtungsdickenprüfung und einen schnellen entsprechenden After-Sales-Service zu bieten.
Bowman B-Serie XRF Hochpräzisionsmesssystem für BeschichtungenDie Standardkonfiguration umfasst einen festen Gleichrichter, eine Kamera mit fester Brennweite, einen Solid-State-PIN-Detektor und ein zuverlässiges Mikrofokussröhrchen. Wie bei anderen Modellen kann dieses Modell auch auf mehrere Gleichrichter, zoombare Kameras und SDD-Detektoren aktualisiert werden.
Die hochpräzisen XRF-Beschichtungsmessungssysteme der Baureihe B von Bowman messen Beschichtungen und Komponenten mittels Röntgenfluorescenzprinzipien. Wenn hochenergetische Röntgenstrahlen die Oberfläche einer Metallfolie beaufschlagen, treffen die einfallenden Photonen die Elektronen der inneren Schicht der Atome der Folie oder des Basismaterials und bilden ein Hohlloch. Die Röntgenfluorescenz, deren Energie mit der Atomnummer der Elemente entspricht, kann durch die Energie der Fluoreszenz wissen, welche Elemente in der Probe vorhanden sind, und durch die Intensität der XRF können wir die Dicke der Probe und die Zusammensetzung jedes Elements analysieren.
Halbleiter |
Leiterplatten |
Galvanisierung |
Auto |
Luft- und Raumfahrt |
Schmuck / Schmuck |
Stecker |
Befestigungen |
Elektronische Komponenten |
Leitungsrahmen |
Rohrleitung |
Schneidwerkzeuge |
Messbereich der Elemente: |
Aluminium 13 bis Uran 92 |
Röntgenröhre: |
50W (50kV und 1mA) mikrofokussiertes Wolfram-Zielstrahlrohr |
Detektoren: |
Genaue: Silizium-Detektor mit einer Auflösung von 190eV oder höher |
Analysefähigkeit: |
5 Ebenen (4 Ebenen + Basis), je 10 Elemente. Analyse der Zusammensetzung von bis zu 25 Elementen gleichzeitig |
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