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Die hochpräzisen XRF-Beschichtungsmesssysteme der Baureihe K von Bowman verfügen über einen Messbereich von 12 Zoll (304 mm) x 12 Zoll (304 mm) auf Werkstücken mit einer Höhe von nicht mehr als 9 Zoll (228 mm). Der automatische Multirektor ermöglicht die Auswahl der Fleckengröße, um sich an eine Vielzahl von Merkmalengrößen anzupassen; Die zoombare Kamera ermöglicht Messungen im Brennweite von 0,25 Zoll bis 3,5 Zoll. Programmierbare Plattformen mit Servomotoren ermöglichen eine schnelle und präzise programmierbare Probenpositionierung. Die Schwingtür ist für den Bediener einfach gestaltet
Die Funktion Tabellenansicht bildet den gesamten messbaren Bereich ab und der Bediener kann mit einem Mausklick zu jedem beliebigen Ort navigieren. Der eingebaute Joystick ermöglicht es dem Bediener, die XY-Plattform von der Systemsteuerung aus zu bewegen, ohne dass Software eingreift. Wie alle anderen Bowman XRF-Systeme entspricht das hochpräzise Beschichtungsmesssystem der K-Serie den Normen ASTMB568, ISO 3497 und IPC-4552.
XYZ行程: X: 12 英寸 (304mm) Y: 12 英寸 (304mm) Z: 9 英寸 (228 mm)
Optionale Doppelkamera mit Tischansicht
Programmierbarer Arbeitstisch mit Servomotor für präzise, schnelle und reibungslose Bewegung
Innenkammergrößen (WDH): 24 Zoll (609mm), 24 Zoll (609mm), 9 Zoll (228mm)
Arbeitstischgröße: 12 Zoll (304,8 mm) x12 Zoll (304,8 mm)
Hochauflösender Siliziumdriftdetektor (SDD)
Geschlossene Kammerkonstruktion
Bis zu 5 Beschichtungen gleichzeitig messen
Optionale eingebaute Joystick
Optionale eingebaute elektronische Halteeinrichtung
Schwingtüren für einfachen Zugang zu Proben
RoHS Option verfügbar
Der hochauflösende Solid-State-Detektor verfügt über eine gute Elementauflösung und benötigt keinen Sekundärfilter. Der Spitzenpunkt bleibt über eine lange Zeit stabil und muss nicht häufig neu kalibriert werden. Die geschlossene gekoppelte geometrische Anordnung der Röntgenröhre und der Detektoren bietet eine größere Anzahl an Photonen. Dadurch können Bowman-Systeme niedrige Detektionsgrenzen und eine relativ hohe Genauigkeit mit relativ kurzen Messzeiten erreichen.
Die Software wird die Leistung des Instruments stark unterstützen. Die Analysedaten des Bowman-Beschichtungsdickenmeßers werden durch eine funktionsreiche Software unterstützt, die eine intuitive Benutzeroberfläche und einfache Bedienung bietet. Die Messdaten können mittels der Chargennummer abgerufen werden und die Berichte können mit einem Klick erstellt werden. Die Benutzer können unbegrenzt neue Anwendungen und Berichtsformate erstellen, alle Ergebnisse werden automatisch in der Computerdatenbank gespeichert und der Passwortschutz kann auf allen Benutzerebenen eingestellt werden.
Das hochpräzise Beschichtungsmesssystem BowmanXRF ermöglicht eine hochpräzise Messanalyse von Aluminium 13 bis Uran 92.
Einschichtbeschichtung: Au, Ag, Ni, Cu, Sn, Zn usw.
Legierungsbeschichtung: Gleichzeitige Analyse von ZnNi-Legierungen, SnPb-Legierungen und anderen Schichtdicken und Komponentenverhältnissen
Doppelschichtbeschichtung: Au / Ni / Cu, Sn / Ni / Cu, Cr / Ni / Fe usw.
Drei Schichten Beschichtung: Au / Pd / Ni / Cu usw.
Analyse von bis zu 5 Schichten
Analyse von 25 Elementen gleichzeitig
Analyse der Konzentration von Metallionen in einer Galvanisierungslösung
可分析ROHS有害元素
Bowman bietet den Anwendern technischen Support und Service für XRF. Neben dem Hauptsitz in Chicago hat Bowman bereits Niederlassungen in über zwanzig Ländern auf vier Kontinenten gegründet. Bowman engagiert sich stets für technischen Support vor Ort. Bowman verfügt über ein Demo-Anwendungszentrum, ein Schulungszentrum und eine Bibliothek für Ersatzteile in Shanghai, China, sowie Büros in Shenzhen, Hangzhou und Xi'an. Die Fähigkeit, Kunden eine gute Beschichtungsdicke-Prüfung und einen schnellen und guten After-Sales-Service zu bieten.
Die Standard-Konfiguration des hochpräzisen XRF-Beschichtungsmesssystems der Bowman K-Serie umfasst einen 4-Bit-Multi-Straightener (4, 8, 12 und 24 mil). Optionale Größen von 2x2mil bis 60mil. Der zoombare Fokusbereich ermöglicht die Messung in den Vertiefungsbereichen. Die programmierbare, motorgetriebene Plattform ermöglicht die Teilemessung über das optionale xyz-Programm. Das Programm kann Musterabstimmung und Autofokussierung verwenden, um die Genauigkeit der Messungen zu gewährleisten.
Wie alle hochpräzisen Beschichtungsmesssysteme von Bowman XRF ist die K-Serie mit Standard-Siliziumdriftdetektoren (SDD) und langlebigen Mikrofokussröntgenröhren ausgestattet.
BowmanXRF-Geräte messen Beschichtungen und Komponenten mit Röntgenfluorescenzprinzipien. Wenn hochenergetische Röntgenstrahlen die Oberfläche einer Metallfolie beaufschlagen, treffen die einfallenden Photonen die Elektronen der inneren Schicht der Atome der Folie oder des Basismaterials und bilden ein Hohlloch. Die Röntgenfluorescenz, deren Energie mit der Atomnummer der Elemente entspricht, kann durch die Energie der Fluoreszenz wissen, welche Elemente in der Probe vorhanden sind, und durch die Intensität der XRF können wir die Dicke der Probe und die Zusammensetzung jedes Elements analysieren.
Halbleiter |
Leiterplatten |
Galvanisierung |
Auto |
Luft- und Raumfahrt |
Schmuck / Schmuck |
Stecker |
Befestigungen |
Elektronische Komponenten |
Leitungsrahmen |
Rohrleitung |
Schneidwerkzeuge |
Messbereich der Elemente: |
Aluminium 13 bis Uran 92 |
Röntgenröhre: |
50W (50kV und 1mA) mikrofokussierte W-Anode (Cr-, Mo- und Rh-Anoden verfügbar) |
Detektoren: |
Genaue: Silizium-Detektor mit einer Auflösung von 190eV oder höher |
Analyse der Anzahl der Elemente: |
5 Ebenen (4 Ebenen + Basis), je 10 Elemente. Analyse der Zusammensetzung von bis zu 30 Elementen gleichzeitig |
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