Hersteller von Atomkraftmikroskopen ◆ Laserdetektionskopf und Probenscanner integriert, stabil und zuverlässig; ◆ Präzisions-Laser- und Sondenpositioniergerät, einfache und bequeme Sonden zu ersetzen und die Flecken anzupassen; ◆ Einachsantriebsprobe nähert sich der Sonde automatisch vertikal an, um den Scanbereich genau zu positionieren, so dass die Nadelspitze vertikal zum Scannen der Probe liegt; ◆ Motorsteuerung der automatischen Erkennung von Druckkeramik durch intelligente Einstiegsmethode, die Sonden und Proben schützt; ◆ Hochpräzise große Palette von piezoelektrischen Keramikscannern, die nach verschiedenen Genauigkeits- und Scanbereichsanforderungen ausgewählt werden können; ◆ 10X-optische Positionierung des Multiplex-Differenz-Objektivs ohne Fokussierung, Echtzeit-Beobachtung und Positionierungssonde
Hersteller von Atomkraftmikroskopen
◆ Laserdetektionskopf und Probenscanner integriert, stabil und zuverlässig;
◆ Präzisions-Laser- und Sondenpositioniergerät, einfache und bequeme Sonden zu ersetzen und die Flecken anzupassen;
◆ Einachsantriebsprobe nähert sich der Sonde automatisch vertikal an, um den Scanbereich genau zu positionieren, so dass die Nadelspitze vertikal zum Scannen der Probe liegt;
◆ Motorsteuerung der automatischen Erkennung von Druckkeramik durch intelligente Einstiegsmethode, die Sonden und Proben schützt;
◆ Hochpräzise große Palette von piezoelektrischen Keramikscannern, die nach verschiedenen Genauigkeits- und Scanbereichsanforderungen ausgewählt werden können;
◆ Optische Positionierung des Objektivs mit 10-facher Färbungsdämpfung, keine Fokussierung erforderlich, Echtzeit-Beobachtung
Hersteller von AtomkraftmikroskopenTechnische Parameter
◆ Grundbetriebsmodus: Kontaktmodus, Klopfmodus, F-Z Kraftkurvenmessung, RMS-Z Kurvenmessung
◆ Optionale Arbeitsmodus: Reibung / Seitenkraft, Amplitude / Phase, Magnetisch und Elektrostatisch
Probengröße: Φ≤90mm, H≤20mm
Scanbereich: XY bis 50um, Z bis 5um (optional XY bis 110um, Z bis 10um)
Scanauflösung: XY zu 0,2 nm, Z zu 0,05 nm
◆ Bewegungsbereich der Probe: 0 ~ 20mm
◆ Optische Vergrößerung 10X, optische Auflösung 1um (optional 20X, optische Auflösung 0,8um)
Scangeschwindigkeit 0,6 Hz bis 4,34 Hz, Scanwinkel 0 bis 360°
Scansteuerung: XY mit 18-Bit D/A, Z mit 16-Bit D/A
Datenabtastung: 14-Bit A/D, Dual 16-Bit A/D
Feedback-Methode: Digitales DSP-Feedback
Feedback-Abtastrate: 64,0 KHz
Kommunikationsschnittstelle: USB2.0/3.0
Betriebsumgebung: Windows XP/7/8/10
Hersteller von AtomkraftmikroskopenAnwendungsbereich
