Scan-Elektronenmikroskop

Scan-Elektronenmikroskop

Hochwertige Bildgebung und erweiterte DifferenzierungFE-SEM mit Analysefunktionen

Zeiss Sigma SerieFeldStartscannelektronenmikroskop(FE-SEM) Technologie und ein gutes Benutzererlebnis ermöglichen die einfache Implementierung von Bildgebungs- und Analyseprozeduren und erhöhen die Produktivität. Sie können sie für die Qualitätsüberwachung neuer Materialien und Partikel oder für die Forschung biologischer und geologischer Proben verwenden. Ausgezeichnete Bildgebung mit hoher Auflösung – mit niedriger Spannung für bessere Auflösung und Beschichtung bei 1 kV oder weniger. Seine ausgezeichnete EDS-Geometrie ermöglicht fortgeschrittene Mikroanalysen mit doppelter Geschwindigkeit und höherer Genauigkeit.

·Sigma 360Es ist eine intuitive Bildgebung und Analyse.FE-SEMIdeal für analytische Testplattformen.

Die Sigma 560 verfügt über eine geometrische EDS-Konstruktion, die eine hohe Durchflussanalyse für automatisierte In-situ-Experimente ermöglicht.

Das optische System von Gemini 1

Das optische System von Gemini 1 besteht aus drei Komponenten: Objektiv, Elektronenstrahlantrieb und Detektor mit Inlens-Erkennungsprinzip. Dabei kombiniert die Konstruktion des Objektivs das elektrostatische Feld mit der Wirkung des Magnetfeldes, um die optischen Eigenschaften erheblich zu optimieren und gleichzeitig den Einfluss des Feldes auf die Probe zu verringern. So können auch anspruchsvolle Proben wie magnetische Materialien qualitativ hochwertig abgebildet werden. Das Inlens-Erkennungsprinzip sorgt für eine effiziente Signalerkennung durch die Erkennung von Sekundärelektronen (SE) und/oder Rückstreuelektronen (BSE) und verkürzt gleichzeitig die Aufnahmezeit des Bildes erheblich. Der Elektronenstrahlantrieb gewährleistet kleine Elektronenstrahlplätze und ein hohes Signal-Rausch-Verhältnis.

Flexible Erkennung

Sigma ist mit einer Reihe verschiedener Detektoren ausgestattet, um Ihre Proben mit einer neuen Detektionstechnik zu charakterisieren. Mit dem Hochvakuummodus der ETSE- und Inlens-Detektoren können hochauflösende Informationen zur Oberflächenformation erhalten werden. Mit dem variablen Druckmodus des VPSE- oder C2D-Detektors erhalten Sie ein klares Bild. Ein aSTEM-Detektor ermöglicht eine hochauflösende Elektronenbildgebung. Verschiedene optionale BSE-Detektoren (z. B. aBSD-Detektoren) ermöglichen eine detaillierte Untersuchung der Zusammensetzung und der Oberflächenformation der Probe.

Der NanoVP Lite-Modus

Analyse und Bildgebung im NanoVP lite-Modus ermöglicht eine höhere Bildqualität unter niedrigen Spannungsbedingungen und einen schnelleren Zugang zu genaueren Analysedaten.

·Im NanoVP lite-Modus verringert sich der Skirt-Effekt und die Pfadlänge des eingehenden Strahlstroms (BGPL) verringert. Die Reduzierung des Rock-Randes erhöht das Signal-Rausch-Verhältnis der SE- und BSE-Bildgebung.

·Ein ausziehbarer aBSD mit fünf Kreisbogen bietet eine hervorragende Materialzusammensetzung: Während des NanoVP lite-Arbeitsprozesses ist der Detektor mit einer unter den Polarstuhlen montierten Strahlhülle ausgestattet, die eine hohe Aufkleidung von Zusammensetzungen und Oberflächenformen mit hohem Durchfluss und niedriger Spannung für variable Druck- und Hochvakuumbedingungen ermöglicht.

Lebenswissenschaften

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Industrielle Anwendungen

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