Field Launch Scan Elektronenmikroskop

Zeiss GeminiSEM 460

FE-SEM erfüllt hohe Anforderungen an Subnanobildgebung, Analyse und Probenflexibilität

ZEISS GeminiSEM ermöglicht Ihnen die einfache Realisierung von Bildgebungen in Sub-Nano-Auflösungen. Ausgezeichnete Bildgebungs- und Analysetechniken machen FE-SEM (Field Launch Scan Elektronenmikroskopwie Tigerflügel. Mit innovativen elektronischen Optiken und einem neuen Musterlagerdesign sind wir nicht nur einfacher zu bedienen und vielfältiger anzuwenden, sondern bieten Ihnen auch eine höhere Bildqualität. Unternanoscale-Bilder unter 1 kV können ohne Immersionsobjektive aufgenommen werden. Entdecken Sie drei Designs der ZEISS Gemini Elektronik-Optik:

lIdeal für analytische Testplattformen – ZEISS GeminiSEM 360

lEffiziente Analysen – ZEISS GeminiSEM 460

lNeuer Standard für Oberflächenbildgebung – ZEISS GeminiSEM 560

GeminisEM 460Feld-Launch-Scan-Elektronenmikroskop)Speziell für anspruchsvolle Analyseaufgaben entwickelt, ermöglicht eine effiziente Analyse und automatisierte Arbeitsabläufe. Bei anspruchsvollen Analyseaufgaben im Bereich des Mikroskops können Sie mit dem Gemini 2-Objektiv nahtlos zwischen Bild- und Analysebedingungen wechseln.

✔Kompatibilität zwischen hoher Auflösung und hohem Strom

✔Maßgeschneiderte automatisierte Workflows

✔Mehr Möglichkeiten für Sie

Kompatibilität zwischen hoher Auflösung und hohem Strom

✔ GeminiSEM 460 wurde speziell für anspruchsvolle Analyseaufgaben entwickelt und ermöglicht effiziente Analyse und automatisierte Workflows.

✔ Schnelle Durchführung von hochauflösenden Bildgebungen und Analysen: Mit Gemini 2 können Sie nahtlos von niedrigen Strahlstrom-niedriger Spannung-Arbeitsbedingungen zu hohen Strahlstrom-hoher Spannung-Arbeitsbedingungen wechseln (oder umgekehrt).

✔ Gleichzeitig können mehrere Detektoren zur mehrrichtlichen Charakterisierung beliebiger Proben verwendet werden.

✔ Mit einem multifunktionalen Probenlager können Sie eine effiziente Analyse durchführen und einen geeigneten Analysedetektor auswählen.

✔ Erhöhen Sie den Strom im neuen VP-Modus, um eine EBSD-Bildgebung mit einer Zählgeschwindigkeit von bis zu 4.000 Punkten pro Sekunde zu erhalten.

✔ Durch zwei geometrisch symmetrische EDS-Anschlüsse und eine konfrontierte EDS/EBSD-Konfiguration können chemische Komponenten und Kristallorientationen erkannt werden, was eine schnelle, schattenfreie EDS/EBSD-Bildgebung ermöglicht.

Maßgeschneiderte automatisierte Workflows

✔ Mit so starken Analysefähigkeiten ist die Automatisierung von Workflows von entscheidender Bedeutung. Mit der Python Scripting API von ZEISS können Sie Ihren eigenen automatisierten Experimentsprozess erstellen und konfigurieren.

✔ Ändern Sie den Experimentsprozess auf Ihre individuellen Bedürfnisse und passen Sie die gewünschten Ergebnisse an.

✔ Nutzen Sie die STEM-Tomografiefunktionen optimal: Die Kombination der automatischen Neigung und Rotation mit der Feature-Tracking ermöglicht die Erstellung einer 3D-Tomografie mit einer Auflösung auf Nanoskala, nachdem alle ausgerichteten Bilder an die exklusive 3D-Rekonstruktionssoftware gesendet wurden.

✔ Wenn Sie eine Testplattform zur Prüfung der Materialbeständigkeit benötigen, bietet Ihnen ZEISS eine experimentelle Plattform zur Durchführung automatisierter Beheizungs- und Dehnungsexperimente vor Ort, die Ihnen während des Experiments automatisch darstellen, wie das Material beheizt und gezogen wird, und die Spannungs- und Dehnungskurven in Echtzeit zeichnen.

Mehr Möglichkeiten für Sie

✔ Auf der Grundlage des Designs der Gemini 2-Spiegelbilder werden die Analysefähigkeiten bei extrem hohen, einstellbaren Stromdichtebedingungen, auch bei niedrigen Spannungsbedingungen, in den Bereichen Materialien und Life Sciences erheblich verbessert.

✔ Sie können das gesamte Zubehör nutzen, um Ihr System zu aktualisieren. So können beispielsweise nicht nur Analysegeräte hinzugefügt werden, sondern auch multifunktionale Probenlager mit in situ-experimentellen Geräten, Gefrierbildgeräten und Nanosondengeräten konfiguriert werden. Mit dem Speicher können Sie sich mit den Daten verbinden, die von verschiedenen Geräten im Labor erfasst werden, um Projekte zentral zu verwalten.

✔ Verschiedene Konfigurationen können während des Gebrauchs jederzeit einfach montiert und aktualisiert werden.

✔ Alle GeminiSEM sind Teil des ZEN Core-Ökosystems von ZEISS, mit dem Sie Zugriff auf die Analysemodule von ZEN Connect, ZEN Intellesis und ZEN erhalten, die Ihnen bei der Erstellung von Berichten und der Implementierung von GxP-Workflows helfen.

Schnelle Analysen nutzen

Die umfassende Charakterisierung jeder Probe erfordert leistungsstarke Bildgebung und Analyse, und die heutigen Anwender wollen, dass die Geräte einfach eingerichtet und bedient werden können.Gemini 2 OptikDas System kann diesen Anforderungen gerecht werden.

Hochauflösende Bildgebung und Analyse können nahtlos umgeschaltet werden

GeminiSEM 460 ist mit dem optischen System Gemini 2 mit Dual Focus ausgestattet.

● Die Stromstärke des Elektronenstrahls wird kontinuierlich angepasst, während die Strahlfleckengröße optimiert wird.

• Nahtlose Umschaltung zwischen hochauflösender Bildgebung mit niedrigem Strahlstrom und Analysemodus mit hohem Strahlstrom.

• Keine Kalibrierung nach Änderung der Bildparameter erforderlich, was Zeit und Kraft spart.

Flexibel und effizient arbeiten

✔ Bleiben Sie flexibel: Verwenden Sie eine hohe Elektronenstrahlenergiedichte für hochauflösende Bildgebung und Analyse bei niedrigen und hohen Strahlströmen, unabhängig von der Elektronenstrahlenergie Ihrer Wahl.

✔ Die Probe wird nicht dem Magnetfeld ausgesetzt: Verzerrungsfreie EBSD-Muster und hochauflösende Bildgebung im großen Sichtfeld werden realisiert.

✔ Die Schrägdrehung der Probe beeinträchtigt die Leistung des elektronischen optischen Systems nicht, und die magnetische Probe kann leicht abgebildet werden.

✔ Wählen Sie den für die Probe geeigneten Stromverbrauchmodus aus: Partielle Ladungskompensation, variabler Druck in der Kammer oder NanoVP.

3D STEM-Tomografie

Jetzt können Sie eine automatische STEM-Tomografie auf dem FE-SEM durchführen. Ein API-basiertes Skript für die automatische Erfassung der STEM-Neigungsserie ermöglicht die Drehung des optimalen Zentrums, die Neigungsbewegung der Tragstelle sowie die automatische Fokussierung und Bilderfassung. Darüber hinaus kompensiert das Feature Tracking die Verschiebung der gesamten Neigungsreihe und hält den Drift zwischen den beiden Bildern auf einem Mindestwert von etwa 50 nm. Das STEM-Probenträger ermöglicht es, das Trägertisch um 60° zu neigen und um 180° zu drehen, und der aSTEM-Detektor deckt alle Anforderungen ab. Schließlich nutzt die 3D-Rekonstruktionssoftware des Entwicklungsteams für das Advanced Reconstruction Toolkit (ART) diese Ausgabe, um ein 3D-Modell Ihrer Probe zu rendern.