Field Launch Scan Elektronenmikroskop

Zeiss GeminiSEM 560

FE-SEM erfüllt hohe Anforderungen an Subnanobildgebung, Analyse und Probenflexibilität

ZEISS GeminiSEM ermöglicht Ihnen die einfache Realisierung von Bildgebungen in Sub-Nano-Auflösungen. Ausgezeichnete Bildgebungs- und Analysetechniken machen FE-SEM (Field Launch Scan Elektronenmikroskopwie Tigerflügel. Mit innovativen elektronischen Optiken und einem neuen Musterlagerdesign sind wir nicht nur einfacher zu bedienen und vielfältiger anzuwenden, sondern bieten Ihnen auch eine höhere Bildqualität. Unternanoscale-Bilder unter 1 kV können ohne Immersionsobjektive aufgenommen werden. Entdecken Sie drei Designs der ZEISS Gemini Elektronik-Optik:

lIdeal für analytische Testplattformen – ZEISS GeminiSEM 360

lEffiziente Analysen – ZEISS GeminiSEM 460

lNeuer Standard für Oberflächenbildgebung – ZEISS GeminiSEM 560

GeminiSEM 560Feld-Launch-Scan-Elektronenmikroskop)Umfassende Verbesserung des Standards für Oberflächensempfindlichkeit, Verzerrungsfreiheit und hochauflösende Bildgebung für eine einfache Bildgebung unter Bedingungen unter 1 kV. Darüber hinaus wurden Gemini 3-Spiegeln und der neue elektronische Optik-Motor SmartAutopilot vorgestellt, der die hohe Auflösung der Serie unter allen Arbeitsbedingungen erreicht.

✔Neue Standards für Oberflächenbildgebung

✔Kompetenz integrieren

✔Erleben Sie eine hervorragende Linie

Einfache Bildgebung unter 1kV

✔ Gemini 3-Spiegel ermöglicht leckfreie Magnetabgebung unter Bedingungen von weniger als 1 kV und einer Auflösung von weniger als 1 nm und erfordert keinen Probenbetruck oder einen Monochromator. Es enthält Nano-Twin-Objektive und den neuen Elektronik-Optik-Motor Smart Autopilot.

✔ Mit dem neuen Variablen Druckmodus und dem Detektionssystem können nicht leitfähige Substanzen abgebildet werden: Im VP-Modus wird eine vakuummempfindliche Probe nach dem Austausch einer geringen Lichttoxizitätskammer in das Probenhaus gelegt, um eine schnelle Ergebnisergebung zu gewährleisten, während die Eigenschaften beibehalten werden.

✔ Mit doppelten EDS-PortsDas neue große Probenlager ermöglicht die einfache Analyse feiner Proben. Ausgezeichnete Detektor-Stereowinkel sorgen dafür, dass Sie eine schnelle, schattenfreie Bildgebung erhalten.

Kompetenz integrieren

✔ Der Sichtfeld des Systems wird erheblich erhöht, was eine einfache Probennavigation ermöglicht.

✔ Bei anspruchsvollen Proben erhöht die neue elektronische Optik Smart Autopilot die Bildgeschwindigkeit erheblich. Damit sparen Sie Zeit und keine zeitaufwendigen Fokussierungen: Dieser Motor treibt elektronische Optik an, vergrößert den Vergrößerungsbereich von weniger als dem 1-fachen bis zu 500.000-fachen und ermöglicht die automatische Mitterung, Kalibrierung und Fokussierung während der gesamten Fahrt. Die neue Autofokussierung ist enthalten und die neue automatische Schwingfunktion ermöglicht Ihnen ein klares Bild in Sekunden.

✔ Python-Skripte können diese Funktionen in automatisierten Workflows wie 3D STEM-Tomografie verwendenKann

Erleben Sie eine hervorragende Linie

✔ Die Suche nach einem gültigen Punkt unter der Bedingung, dass Sie die Aufgabe einstellen, bedeutet, dass Sie die richtige Kombination von Parametern ausgewählt haben, und der Trick zum Erreichen eines idealen Bildes besteht darin, diese Kombination zu finden. Gemini Leckagefreie Magnettechnologie und die neue Gemini 3 Brille bieten Ihnen die ideale Kombination von Parametern, um neue Informationen zu entdecken.

✔ Das Magnetfeld auf der Probe ist kleiner als 2 mT und ermöglicht eine einfache Bildgebung mit magnetischer Linie. Mit dem Inlens Rückstreuungsdetektor, der eine Energieauswahl ermöglicht, wird eine Energiespektroskopie durchgeführt und mit dem Ring-Rückstreuungsdetektor wird eine Elektronenring-Spektrobildung durchgeführt.

✔ Mit ZEN Connect alle Daten zusammenführenTeilen Sie Ihre Erkenntnisse auf und melden Sie sie.

Bildgebung unter 1 kV – Kompetenz integriert

Das optische System Gemini 3 optimiert die Auflösung bei niedriger und extrem niedriger Spannung und ermöglicht eine Verbesserung der Lining, um eine hohe Auflösung bei allen Arbeitsbedingungen von 1 kV bis 30 kV zu gewährleisten und besteht aus zwei zusammenwirkenden Komponenten: Nano-Twin Objektiven und dem neuen elektronischen optischen Motor Smart Autopilot. Darüber hinaus verfügt er über einen hochauflösenden Elektropistolenmodus und eine optionale Tandem Decel-Technologie.

Auflösungsmodus – mehr Details anzeigen

Mehr Details und mehr Erkennungssignale für SEM-Bilder werden in beiden Modi erhältlich. Im Elektropistolenmodus mit hoher Auflösung verringert sich die Farbdifferenz des Elektronenstrahls, wodurch kleinere Strahlflecken erzielt werden; Im Modus der Bremsungstechnik am Probenstand wird die Bremsungsspannung auf die Probe aufgebracht, wodurch die Bildauflösung unter 1 kV weiter verbessert und die Detektionseffizienz des Rückstreuungsdetektors verbessert wird.

Vorteile des Nano-Twin Objektivs:

● Erzielen Sie eine Subnanoscale-Auflösung bei niedriger und ultraniedriger Spannung, um eine bessere Signaldetektionseffizienz zu erzielen.

Die Abweichung der Objektive bei niedriger Spannung ist im Vergleich zu Standard-Gemini-Objektiven dreimal verringert, wodurch das Magnetfeld auf der Probe um etwa 1 mT dreimal verringert wird.

Optimierung der Geometrie und der Verteilung der elektrostatischen und magnetischen Felder.

• Das Signal des Inlens-Detektors wird unter niedrigen Spannungsbedingungen verstärkt.

Diese Eigenschaften bieten die Fähigkeit, sub-nanoscale-Bildgebung unter Bedingungen unter 1 kV zu durchführen, ohne die Probe in ein elektromagnetisches Feld einzutauchen.

Arbeitsprinzip:

Der Smart Autopilot optimiert die elektronische Fahrbahn durch den Spiegel, um bei jeder Beschleunigungsspannung eine möglichst hohe Auflösung zu gewährleisten.

Diese automatische Funktion ermöglicht einen nahtlosen Ausrichtungsfreischalten im gesamten Vergrößerungsbereich (von 1 bis 2.000.000 Mal) und vergrößert den Sichtfeld um das Zehnfache, um ein Objekt von 13 cm in einem einzigen Bild zu bilden.

32k x 24k Bildspeicherauflösung kombiniert mit dem neuen ÜbersichtsmodusZusammen stellen Sie sicher, dass Sie eine unvergleichliche Pixeldichte in einem sehr großen Sichtfeld erhalten.

Mikroskoplösungen für die Industrie

Typische Aufgaben und Anwendungen

●Fehleranalyse von mechanischen, optischen oder elektronischen Komponenten

●Bruchanalyse und Metallphasenstudie

●Charakterisierung von Oberflächen, Mikrostrukturen und Geräten

●Zusammensetzung und Verteilung

●Identifizierung von Verunreinigungen und Zwischenstoffen

Anwendungen in den Life Sciences

Typische Aufgaben und Anwendungen

●Charakterisierung der Topologie

●Bildgebung empfindlicher, nicht leitfähiger, entgasseter oder niedrig verkleideter Proben

●Hochauflösende Bildgebung von Ultramikrostrukturen wie Zellen und Gewebe

●Übergroße Flächenbildgebung wie kontinuierliche Schnitt- oder Schnittbildgebung