Ultraschnelles Scan-Elektronenmikroskop

Zeiss MultiSEM

Ultraschnelles Scan-Elektronenmikroskop

Nutzen Sie die Erfassungsgeschwindigkeit von bis zu 91 parallelen Elektronenstrahlen für die Bildgebung von Zentimeterproben in Nanoauflösung. Dieses einzigartige Scan-Elektronenmikroskop ist für einen kontinuierlichen und zuverlässigen Betrieb rund um die Uhr konzipiert. Durch die einfache Einrichtung eines Workflows zur Datenerfassung mit hohem Durchsatz kann MultiSEM die Bilderfassung mit hoher Linie automatisieren.

lExtrem schnelle Bildgebung

lAutomatische Bilderfassung mit großem Bereich

lNanoskale Details unter Makroinformation

lBild mit geringem Rauschen

Parallel mehrere Elektronenstrahlen und Detektoren

MultiSEMUltraschnelles Scan-ElektronenmikroskopEs wurden mehrere Elektronenstrahlen (grün: Beleuchtungsweg) parallel zum Detektor verwendet. Der fein eingestellte Erkennungsweg (rot) ist in der Lage, eine große Menge an Sekundärelektronen (SE) für die Bildgebung zu sammeln. Die Elektronenstrahlen sind sechseckig angeordnet, wobei jeder Elektronenstrahl einen synchronen Scan an einer Probenposition durchführt, um ein einzelnes Unterbild zu erhalten und anschließend ein ganzes Bild zu erzeugen, indem alle Bild-Splices zusammengeführt werden. Parallele Computereinstellungsprogramme werden zur schnellen Datenaufzeichnung verwendet, um eine hohe Gesamtbildgeschwindigkeit zu gewährleisten. In MultiSEM-Systemen sind die Bilderfassung und die Workflow-Steuerung unabhängig.

Integrierte Arbeitsabläufe

Kontinuierliche Schnitttomografie für die Erhebung großer Proben

Automatisches Schneiden

Mit ATUMtome wird das mit Harz begraben biologische Gewebe automatisch geschnitten. In einem Tag kann man bis zu1000Ein kontinuierlicher Schnitt.

Muster-Einbettung

Einbinden Sie das Slice-Band auf Siliziumwafer und bilden Sie die Probe mit einem optischen Mikroskop ab. Übertragen Sie Wafer auf MultiSEM, navigieren Sie mit der Übersicht und gestalten Sie Ihr Experiment.

Experimentelle Einstellungen

Mit einem einzigen grafischen Steuerzentrum können Sie das gesamte Experiment einrichten. Zeit sparen, indem Sie Interessenbereiche durch eine effiziente, automatische Schneiderkennung erkennen und absperren.

ZEISS MultiSEM Anwendungsfälle