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Shanghai Yihuang Technologie Co., Ltd.
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Pulverbilder Korngrößenanalysator

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Der Pulverbilder-Korngrößenanalysator ist hauptsächlich für die Korngrößenanalyse von groben, körnigen Materialien wie Diamantsand, Schleifmaterial, Mechanismus-Sand, Flusssand usw. geeignet. Der Testprozess besteht darin, eine Probe von etwa 20 g in einen Speichertrichter zu setzen, die Partikel durch den elektromagnetischen Vibrationszuführer und den Stofffach zu verteilen und am Ende des Stofffachs frei zu fallen, die Hochgeschwindigkeitskamera nimmt ein Partikelbild während des Abfallens auf und analysiert diese Bilder durch einen Computer, um Korngröße und Kornstoffdaten zu erhalten.
Produktdetails

YH-DIPSSeriePulverbilder Korngrößenanalysator

Es eignet sich hauptsächlich für die Korngröße-Kornstoffanalyse von groben, körnigen Materialien, wie Diamantsand, Schleifmaterial, Mechanismus-Sand, Flusssand usw. Der Testprozess besteht darin, eine Probe von etwa 20 g in einen Speichertrichter zu setzen, die Partikel durch den elektromagnetischen Vibrationszuführer und den Stofffach zu verteilen und am Ende des Stofffachs frei zu fallen, die Hochgeschwindigkeitskamera nimmt ein Partikelbild während des Abfallens auf und analysiert diese Bilder durch einen Computer, um Korngröße und Kornstoffdaten zu erhalten.


DIPS-粉体动态图像法粒度仪.png


Modell YH-DIPS-10

Probenahme Eigengewicht/negativer Druck (optional)

Messbereich > 2um

Objektivtyp 0,75-10 mal Telezentralbjektiv

NAWert > 0,1

Vergrößerung 1,3-10X einstellbar

VOF Max: 3000* 2000@3.45von μm

DOF 13von μm bis 300μm

Rahmen 60fps

Lichtquelle Einfarbige LED

Ergebnis Ausgabe Korngrößenverteilung, Statistik mehrerer Partikelmorphologischer Parameter, Einzelpartikelmorphologische Analyse.

Breiter Messbereich (2μm-3mm)

Profi-Distanz-Multiplier-Objektiv, kompatibel mit verschiedenen Arten von Partikeltests, um Formverzerrungen zu vermeiden

Einführung verschiedener Algorithmen wie FIPS-Ultra-Resolution-Algorithmen und AI-Intelligente Algorithmen, um die Genauigkeit der Daten zu gewährleisten

Konfiguration der KI-Klassifizierung, nachverfolgbare Partikelquellen