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Produktkategorien
Xuanyun Instrument (Shanghai) Co., Ltd.
Pulberdiffraktor
VerhandlungsfähigAktualisieren am01/09
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Übersicht
Der D8 ADVANCE Pulberdiffractor ist ein wissenschaftliches Instrument zur Analyse der Kristallstruktur von pulverförmigen oder polykristallinen Materialien, das auf dem Röntgendiffraktionsprinzip basiert. Durch die Messung der Diffraktionskarten, die nach der Interaktion der Röntgenstrahlung mit der Probe erzeugt werden, werden wichtige Informationen wie die Kristallstruktur, die Phasenzusammensetzung und die Kristallgitterparameter des Materials aufgedeckt.
Produktdetails
Produkt: Pulberdiffraktor
Modell: D8Advance
Herkunft: Deutschland
Ein Pulberdiffraktor ist ein wissenschaftliches Instrument zur Analyse der Kristallstruktur von pulverförmigen oder polykristallinen Materialien, das auf dem Röntgendiffraktionsprinzip basiert. Durch die Messung der Diffraktionskarten, die nach der Interaktion der Röntgenstrahlung mit der Probe erzeugt werden, werden wichtige Informationen wie die Kristallstruktur, die Phasenzusammensetzung und die Kristallgitterparameter des Materials aufgedeckt.
Ein Pulberdiffraktor ist ein wissenschaftliches Instrument zur Analyse der Kristallstruktur von pulverförmigen oder polykristallinen Materialien, das auf dem Röntgendiffraktionsprinzip basiert. Durch die Messung der Diffraktionskarten, die nach der Interaktion der Röntgenstrahlung mit der Probe erzeugt werden, werden wichtige Informationen wie die Kristallstruktur, die Phasenzusammensetzung und die Kristallgitterparameter des Materials aufgedeckt.
Arbeitsprinzip:
Röntgenquelle: Erzeugt einfarbige Röntgenstrahlen (z. B. Cu Kα-Strahlen, Wellenlänge ca. 0,154 nm), die auf die Pulverprobe bestrahlt werden.
Probeneigenschaften: Die Pulverprobe besteht aus unzähligen zufällig orientierten kleinen Kornen, die sicherstellen, dass alle möglichen Diffraktionsrichtungen abgedeckt sind.
Diffraktionsbedingungen: Wenn die Röntgenwellenlänge (λ), der Kristallabstand (d) und der Eingangswinkel (θ) der Prager Gleichung (-2d sinθ = nλ) entsprechen, entsteht eine kohärente Diffraktion, die einen Diffraktionsspitze erzeugt.
Detektor: Erfassen Sie den Diffraktionswinkel (2θ) und die Intensität, um ein Diffraktionsdiagramm zu bilden.
Der neue D8ADVANCE von Brooke AXSPulberdiffraktorDurch das kreative Da Vinci-Design und das TWIN-TWIN-Optik-Design wurde die qualitative quantitative Analyse unter der BB-Fokusgeometrie und die Film-Intrusion-GID-Analyse unter der Parallellichtgeometrie erfolgreich realisiert, die vollautomatische Schaltung der Film-Reflexivitäts-XRR-Analyse ohne Licht. Durch die revolutionäre TWISTTUBE-Technologie kann der Benutzer in einer Minute von der Anwendung der Linienlichtquelle (qualitative und quantitative Analyse des konventionellen Pulvers, GID der dünnen Folie, XRR) zu der Anwendung der Punktlichtquelle (Struktur, Spannung, Mikrozonen) wechseln, so dass die lästigen optischen Wegwechsel, die Neuorientierung des Lichts und andere Probleme Geschichte werden!
Ein hochpräzises Angulometer garantiert, dass die Messspitze und die Standardspitzenfehler bei jedem Diffraktionsspitze im gesamten Spektrum (beachten Sie, dass es kein Diffraktionsspitze ist) nicht mehr als 0,01 Grad betragen, garantiert Brooke AXS!
* Der LinuxArray-Detektor kann die Festigkeit um das 150-fache erhöhen, was nicht nur die Effizienz des Geräts verbessert, sondern auch die Erkennungsempfindlichkeit des Geräts erheblich verbessert.
Hauptanwendungen:
1. Qualitätsanalyse
2. Analyse der Kristallität und des Nichtkristallinhalts
3. Struktur und Analyse
4. Quantitative Analyse
5. Präzise Messung der Parameter
6. Quantitative Analyse ohne Proben
7. Mikrospannungsanalyse
8. Korngrößenanalyse
9. Analyse vor Ort
10. Restspannung
11. Messung von Low-Winkel-Interporen-Materialien
Struktur- und ODF-Analyse
13, Filmeinlauf
14. Messung der Reflexivität
15. Kleine Streuung
Technische Indikatoren:
Theta/theta vertikales Winkelmesser
2Theta-Winkelbereich: -110 bis 168°
Winkelgenauigkeit: 0,0001 Grad
Cr / Co / Cu-Ziel, Standard-Größe-Rohr
Detektoren: Links Array Detector, Links XE Array Detector
Instrumentgröße: 1868x1300x1135mm
Gewicht: 770kg
TWIN / TWIN Lichtweg
Das exklusiv erfundene optische TWIN-TWIN-Design vereinfacht die Bedienung des D8 ADVANCE und macht es für eine Vielzahl von Anwendungen und Probentypen geeignet. Zur Benutzerfreundlichkeit kann das System automatisch zwischen vier verschiedenen Strahlgeometrien wechseln. Das System, das ohne menschliches Eingreifen die Diffraktionsgeometrie von Bragg-Brentano-Pulver und die parallele Strahlgeometrie von ungünstigen Formen von Proben, Beschichtungen und Folien und zwischen ihnen umschaltet, ist ideal für die Analyse aller Probenarten, einschließlich Pulver, Blockobjekte, Fasern, Bleche und Folien (nichtkristalline, polykristalline und ausgedehnte), unter Umgebung und nicht unter Umgebung.
Dynamische Strahloptimierung (DBO)
Die einzigartige DBO-Funktion von Brooke setzt einen neuen wichtigen Maßstab für die Datenqualität bei der Röntgendiffraktion. Die automatische Synchronisierung von Motorantrieben mit Diffusionsspalten, Streuungsschirmen und variablen Detektorfenstern bietet Ihnen eine unersetzliche Datenqualität – besonders bei niedrigen 2-Gauge-Winkeln. Darüber hinaus unterstützen die gesamten LYNXEYE-Detektoren DBOs: SSD160-2, LYNXEYE-2 und LYNXEYE XE-T.
LYNXEYE XE-T
Der LYNXEYE XE-T ist das Flaggschiff der LYNXEYE-Serie von Detektoren. Es ist derzeit der einzige auf dem Markt verfügbare Energiediffusionsdetektor, der 0D-, 1D- und 2D-Daten erfasst, für alle Wellenlängen (von Cr bis Ag) geeignet ist, mit einer Spitzenzählrate und einer besseren Winkelauflösung und ist ideal für alle Anwendungen der Röntgendifferktion und -diffusion.
Mit einer Energieauflösung von über 380 eV ist LYNXEYE XE-T das leistungsstarkste Fluoreszenzfilterdetektorsystem auf dem Markt. Mit ihm können Sie die durch angeregte Eisenfluorescenz zu 100% ohne Intensitätsverlust und ohne Metallfilter filtern, so dass auch keine Fälschungen der Daten wie Rest Kß und Absorptionskanten vorhanden sind, filtern. Ebenso ist kein sekundärer Monochrom erforderlich, der die Intensität entfernt.
XRPD Methode:
· Identifizierung von Kristallphasen und Nichtkristallphasen und Messung der Reinheit der Probe
· Quantitative Analyse von kristallinen und nichtkristallinen Mischungen
· Mikrostrukturanalyse (Mikrokristallgröße, Mikrospannung, Unordnung...)
· Große Restspannungen durch Wärmebehandlung oder Bearbeitung von Fertigungskomponenten
· Strukturanalyse (Vorteilsorientierung)
· Indikatorisation, Messung der Kristallstruktur von Anfang an und Präzision der Kristallstruktur
Analyse der Verteilungsfunktion
Die Analyse der Verteilungsfunktion (PDF) ist eine Analysetechnik, die auf der Grundlage von Bragg sowie der Dispersion ("Total Dispersion") strukturelle Informationen über unordnete Materialien liefert. Dabei können Sie Informationen über die durchschnittliche Kristallstruktur eines Materials (d. h. Langstrecke-Ordnung) durch den Bragg-Diffractionsspitze erfahren und seine lokale Struktur (d. h. Kurzstrecke-Ordnung) durch Diffusion charakterisieren.
In Bezug auf die Analysegeschwindigkeit, die Datenqualität und die Analyseergebnisse von nichtkristallinen, schwachen, nanokristallinen oder nanostrukturierten Materialien ersetzen die D8 ADVANCE- und TOPAS-Software die leistungsstarkeren PDF-Analyselösungen auf dem Markt:
· Identifizierung
· Strukturbestimmung und Reparatur
· Nanopartikelgröße und Form
Folien und Beschichtungen
Die Film- und Beschichtungsanalyse verwendet das gleiche Prinzip wie XRPD, bietet jedoch zusätzliche Strahlenregulation und Winkelmanipulation. Typische Beispiele sind unter anderem Phasenerkennung, Kristallmasse, Restspannung, Strukturanalyse, Dickenmessung sowie Komponenten- und Spannungsanalyse. Bei der Analyse von Folien und Beschichtungen wird der Schwerpunkt auf die Eigenschaften von schichtförmigen Materialien mit Dicken zwischen nm und µm gelegt (von nicht-kristallinen und polykristallinen Beschichtungen bis hin zu erweiterten Wachstumsfilmen).
Die D8 ADVANCE- und DIFFRAC.SUITE-Software ermöglicht folgende qualitativ hochwertige Filmanalysen:
·Eindringende Diffraktion
· Röntgenreflexion
· Hochauflösende Röntgendiffraktion
· Einfacher Raum-Scan
