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Xuanyun Instrument (Shanghai) Co., Ltd.
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Neues Desktop-3D-Röntgenmikroskop

VerhandlungsfähigAktualisieren am01/09
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X4 POSEIDON ist ein hochauflösendes 3D-Röntgenbildsystem, das auf dem Erfolg unserer renommierten Systeme SKYSCAN 1272 und SKYSCAN 1275 basiert.
Produktdetails

Neues Desktop-3D-RöntgenmikroskopDer X4 Poseidon


X4 POSEIDON ist ein hochauflösendes 3D-Röntgenbildsystem, das auf dem Erfolg unserer renommierten Systeme SKYSCAN 1272 und SKYSCAN 1275 basiert.

Die modulare Hardware und die benutzerorientierte Software von X4 POSEIDON erfüllen alle Anforderungen der Analyseaufgaben. Dank seiner Flaggschiff-Technologie schafft das System ein effektives Gleichgewicht zwischen Sichtfeld, Vergrößerung und Geschwindigkeit - mit Blitzgeschwindigkeit, breiter Abdeckung und Auflösung von Merkmalen bis zu 2 μm.


Das X4 POSEIDON kombiniert zwei Detektoren und ist die einzigartige Lösung für ein Multi-Point-Desktop-3D-Röntgenmikroskop. Unsere ausgezeichneten Erfassungsalgorithmen und GEM Plus ™ Die Funktionen sorgen dafür, dass jedes dreidimensionale Bild auf eine hervorragende Weise erfasst wird.

X4 POSEIDON ist ein barrierefreies Einstiegssystem mit einfachen Workflows, intuitiver Benutzeroberfläche und mehrsprachiger Unterstützung, die Benutzerfreundlichkeit bietet.

Der X4 POSEIDON benötigt nur eine Standardstromversorgung und einen Labortisch und kann in jedem Labor installiert werden, um qualitativ hochwertige, zerstörungsfreie 3D-Bildgebung für jeden und überall zu liefern!


新型台式三维X射线显微镜

Eigenschaften:


Modulares Desktop-System für Nachhaltigkeit

Das X4 POSEIDON ist ein modulares Röntgenmikroskop. Das Gerät kann an unterschiedliche Anforderungen aktualisiert werden und mit der Entwicklung der Technologie können auch neue Komponenten einfach integriert werden.

X4 POSEIDON ist von Anfang an eine umfassende Microcomputer-Tomography-Lösung mit einer Vielzahl von erweiterten Funktionen, die das Benutzererlebnis verbessern.

Die Grundkonfiguration des X4 POSEIDON umfasst eine ausgereifte reflektierte Röntgenquelle und einen multifunktionalen Flachplattendetektor. Mit diesen Komponenten kann das System ultraschnelle Scans mit ausgezeichnetem Sichtfeld und scharfem Kontrast durchführen, ohne die Auflösung zu beeinträchtigen.

Ob Ihr Labor mehrere Anwender in verschiedenen Forschungs- und Entwicklungsbereichen unterstützt oder spezifische industrielle Prozesse unterstützt, X4 POSEIDON bietet eine umfassende Palette von verlustfreien, qualitativen und quantitativen 3D-Analysemöglichkeiten.


新型台式三维X射线显微镜

Zwei,GEM Plus ™: Ausgezeichnete Flexibilität der Bildgebung

Der X4 POSEIDON kombiniert gute Scan-Geometrie und Multi-Scale-Sichtfeld-Technologie mit einem geometrischen Vergrößerungsmodus (GEM Plus). ™) Flexibilität für Desktops.

Durch die Verschiebung der Probe in die Nähe der Lichtquelle oder des Detektors wird ein Gleichgewicht zwischen Sichtfeld und Auflösung erreicht. Mit einer guten Scangeometrie kann sich der Detektor auch kontinuierlich bewegen, wodurch die gleiche Vergrößerungsrate erreicht wird und gleichzeitig die gewünschte Kegelstrahlnutzung der gegebenen Probengröße erreicht wird, was die Scangeschwindigkeit erheblich erhöht.

GEM Plus ™ Ausgewogen zwischen reiner Auflösung, Scangeschwindigkeit und Sichtfeldwinkel auf Basis von Multi-Vision und Best-Scan-Geometry.


Drei,Multihorizont: Dual-Detektor-Technologie für schnelle, hochauflösende 3D-Bildgebung

X4 POSEIDON ist eine echte Desktop-XRM-Lösung mit mehreren Detektoren. Es kann mit einem multifunktionalen Flachbilddetektor, einem wissenschaftlichen CMOS-Detektor oder beidem ausgestattet werden.

Bei der Auswahl des idealen Detektors für Ihre Bedürfnisse müssen Sie das Gleichgewicht zwischen Sichtfeldwinkel, Auflösung und Scangeschwindigkeit berücksichtigen. Wenn Geschwindigkeit eine Priorität hat, sind Flachplattendetektoren perfekt für Ihre Anwendung geeignet. Andererseits sind sCMOS-Detektoren die ideale Wahl für eine hohe Auflösung.

Mit dem X4 POSEIDON müssen Sie keine Wahl mehr treffen - dank der Multi-Vision-Funktion können Sie beides haben.

Die X4 POSEIDON-Plattform ermöglicht ein Upgrade auf Multi-Vision vor Ort.


Vier,Leistungsstarke Röntgenfähigkeit

X4 POSEIDON unterstützt die neue Generation von Mikrofokuspunktröntgenquellen. Da sich die Anforderungen ständig ändern, ermöglicht die Plattform den Lichtaustausch vor Ort.

Hochenergiereflektierende Röntgenquelle

1) Die reflektierte Röntgenquelle erzeugt eine Röntgenenergie von bis zu 100 kV und eine Leistung von 20 W. Diese industrielle Strahlenquelle ist eine ausgezeichnete Wahl für mehrere Benutzer, Labor- oder Screening-Arbeiten. Es braucht keine Wartung und hat niedrige Besitzeskosten.

Mikrofokussierte Röntgenquelle

2) Die transmittierte Röntgenquelle hat eine Fleckgröße von 2 µm und ist eine Forschungslösung für die Erhebung von hochauflösenden Daten. Die Energie von 110 kV erweitert den Anwendungsbereich auf höhere Dichten und größere Proben.

Unsere 3D-Auflösung garantiert

3) Jedes Brooke 3D-Röntgenmikroskop verfügt über eine garantierte 3D-Auflösung. Während der Fabrikkalibrierung wurden die 2D- und 3D-Auflösungsleistungen mit den Industriestandard JIMA 2D- und 3D-QRM-Modellen getestet und dokumentiert. Nach der Installation wird die Leistung vor Ort durch wiederholte 2D JIMA-Messungen gewährleistet.


Fünf,Steigerung der Produktivität und des Durchsatzes

Der X4 POSEIDON verfügt über einen optionalen 15-Bit-Probenaufnehmer, um die Auslastung der Geräte zu maximieren und den Arbeitsaufwand des Bedieners zu reduzieren.

Der kompakte, automatische Probenahmer befindet sich vor dem Gerät und entspricht ergonomischen Prinzipien. Der Zustand jedes Standorts wird durch eine LED-Anzeige angezeigt und die Probe kann jederzeit hinzugefügt oder ausgetauscht werden, auch während des Betriebs. Der intelligente Ladealgorithmus optimiert den Probendursatz.

Jeder Standort kann Proben mit einem Durchmesser von 50 mm und einer Höhe von 80 mm aufnehmen. Kleine Proben können vertikal gestapelt und zusammengebundet werden, um die Kapazität zu erhöhen.

Wenn es nicht verwendet wird, muss der automatische Probeneinsatzer nicht demontiert werden und beeinträchtigt nicht den Eingang in das Instrument, die Ladung von großen Proben oder speziellen Plattformen.


4D-CT: Ausgezeichnete Integration

Die Verbesserung des Durchsatzes durch Quellenleistung, Detektorgeschwindigkeitseffizienz, variable Geometrie und erweiterte Scanmodus eröffnet neue Möglichkeiten für in situ 4D-CT-Experimente mit proprietären speziellen Plattformen für Kompressionsprüfungen, Zugprüfungen und nicht-Umgebungstemperaturprüfungen. Alle Plattformen sind in Software und Hardware integriert und benötigen keine zusätzlichen Kabel. Die Schnittstelle im Gehäuse ermöglicht die Verwendung von maßgeschneiderten oder Drittanbieterplattformen.


Technische Daten:


新型台式三维X射线显微镜



Anwendungsfälle:

Geologie: Tiefe dreidimensionale Analyse des Kerns

Das X4 POSEIDON Nano-dreidimensionale Röntgenmikroskop ermöglicht die präzise Charakterisierung von Parametern wie Porosität, Korngröße, Risse und Anomalien in geologischen Proben und unterstützt gleichzeitig die dynamische Prozessforschung. Dieser Anwendungsfall zeigt die Anwendungsfähigkeit des Röntgenmikroskops (XRM) im Bereich der Erdwissenschaften, indem es sich um eine kleine Steinfülle handelt.


新型台式三维X射线显微镜

Additive Fertigung: Mikrostrukturbewertung von 3D-gedruckten Luft- und Raumfahrtteilen

Die Luft- und Raumfahrtbranche stellt hohe Anforderungen an die physikalischen Eigenschaften von Materialien und Komponenten, die nicht nur hohe Festigkeit, Verformungsbeständigkeit und leichte Eigenschaften erfordern, sondern auch eine hohe Zuverlässigkeit. Diese leistungsstarken Komponenten werden in der Regel mit 3D-Drucktechnik hergestellt, die eine feine Regulierung der Mikrostruktur des Materials ermöglicht.

Das 3D-Röntgenmikroskop X4 POSEIDON ist das ideale Werkzeug zur Erkennung der Qualität und der strukturellen Integrität von 3D-gedruckten Materialien. In diesem Anwendungsfall zeigen wir durch die Analyse einer 3D-gedruckten Titanlegierungskugel für die Weltraumündung ihre Spitzenanwendungen in der additiven Fertigung.

新型台式三维X射线显微镜

Pharmaindustrie: Prüfung von Hartschalenkapseln mit Mikropartikeln

Röntgenmikroskope werden sowohl in der Qualitätskontrolle als auch in der Forschung und Entwicklung in der Pharmaindustrie weit verbreitet. Mit dem X4 POSEIDON Nano-dreidimensionalen Röntgenmikroskop können Hartschalenmedikamente detailliert mikroskopisch untersucht werden – nicht nur einzelne Mikropartikel, sondern auch die Porenstruktur innerhalb der Partikel.

In diesem Anwendungsfall zeigen wir durch die Prüfung von Hartkapseln, die mit Mikropartikeln gefüllt sind, die Anwendungen dieser Technologie in der pharmazeutischen Industrie und weitere Möglichkeiten.

新型台式三维X射线显微镜

Energiespeicher: Dreidimensionale Bildgebung von Gasdiffusionsschichten in Brennstoffzellen

Protonentauschmembranbrennstoffzellen (PEMFC) sindEine vielversprechende Brennstoffzellentechnologie, deren wichtige Struktur aus mehreren aufeinander gestapelten schichtförmigen Komponenten besteht.

Dieses Anwendungsfall zeigt die Vorteile des X4 POSEIDON-Nano-dreidimensionalen Röntgenmikroskops (XRM) bei der Bildgebung komplexer Schichtsysteme wie PEMFC – und ermöglicht sogar eine feine Bildgebung eines einzelnen Kohlefaserstrahls.

新型台式三维X射线显微镜

Qualitätskontrolle: Feine 3D-Bildgebung von Smartphone-Kameraobjektiven

Das X4 POSEIDON Nano-dreidimensionale Röntgenmikroskop ist für hohe Scangeschwindigkeiten und große Sichtfeldbeobachtungen optimiert, was es zum idealen System für die Bildgebung von Stapelkameraobjektiven in Produktionsumgebungen mit hohem Durchsatz macht.

In diesem Anwendungsfall zeigen wir eine Qualitätskontrollanalyse der Smartphone-Kameraobjektive – die vollständige Bilddauer dauert nur zwei Minuten.

新型台式三维X射线显微镜

Verbundstoffe: Studie der internen Struktur von Kohlefaserverstärkten Kunststoffen (CFRP)

Kohlefaserverstärkter Kunststoff (CFRP) ist aufgrund seiner komplexen inneren Struktur ein ausgezeichnetes Material mit leichtem Gewicht, hoher Steifigkeit und hoher Zugfestigkeit.

In diesem Anwendungsfall wird das X4 POSEIDON-Nano-Dreidimensionale Röntgenmikroskop zur beschädigungsfreien 3D-Bildgebung von CFRP verwendet, um die Forschung und Entwicklung dieser hochleistungsfähigen Materialien zu unterstützen.

新型台式三维X射线显微镜

Elektronik: 3D-Visualisierung von elektronischen Chips

Mit dem 3D-Röntgenmikroskop X4 POSEIDON können auch hochkomplexe elektronische Komponenten verlustfreie 3D-Bildgebung ermöglichen – sei es für Forschung und Entwicklung, Qualitätskontrolle, Fehleranalyse oder andere Anwendungsszenarien.

Diese Anwendungsfälle zeigen durch eine dreidimensionale Visualisierung von Elektronikchips, einschließlich der Bildgebung von internen Strukturen und der Analyse der Strukturdicke, die Anwendungsfähigkeit dieser Technologie in der Elektronik.

新型台式三维X射线显微镜

Food Science: Beurteilung der Aufblasbarkeit von Backwaren

Das 3D-Röntgenmikroskop X4 POSEIDON kann zur Analyse der inneren Struktur von Lebensmitteln wie Backwaren und zur Messung von Schlüsselparametern wie Aufblasbarkeit und Zutatenverteilung verwendet werden.

In diesem Anwendungsfall haben wir als Beispiel einen Schokoladenkeck „Pepernoot“ mit einer Volumenrendering-Technik (Farbkodierung nach Öffnungsgröße) die aufgeblasene Struktur visualisiert.

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