PDF-5+2025

Im September 2024 wird das International Diffraction Data Center (ICDD) offiziell veröffentlicht.PDF-5+2025Die Standard-Diffraction-Datenbank, die weltweite Standard-Diffraction-Datenbank, integriert alle Daten aus der früheren PDF-4+-Datenbank und der PDF-4 Organic-Datenbank und enthält mehr als 1,1 Millionen Standarddiffraktionsdaten für Objekte, darunter über 450.000+ Karten für anorganische und über 650.000+ Karten für organische Substanzen, um alle Anforderungen der XRD-Daten für die Identifizierung von Objekten und die quantitative Analyse zu erfüllen.

Anwendungsbereich

PDF-5+2025DatenbankDie Standard-Diffraktionskarte der aufgenommenen Objektphasen umfasst etwa 50 wissenschaftliche Forschungsbereiche, wie z.B.Batterie-Materialien, Thermoelektrische Materialien, Superleitstoffe, Metalle, Keramik, Mineralien, Metalllegierungen, Medikamente, PolymereWarten Sie. Die PDF-Datenbank istMaterialwissenschaft, Physik, Chemie, Geologie, Pharmazie, Biologie, Quarantäne, Forensische PrüfungDatenbanken für wissenschaftliche Forschung und industrielle Produktion.

Die PDF-5 + 2025-Datenbank enthält nicht nur Standard-Diffraktionsdaten, sondern enthält auch strukturelle Daten von Einkristallen, die die weltberühmte Einkristallstrukturdatenbank integrieren.

ICDD-Pulver (00) –Internationales Zentrum für Diffraktionsdaten (International Centre for Diffraction Data)

ICSD (01) –Fachinformationszentrum Karlsruhe (FIZ)

NIST (03) –National Institute of Standards and Technology, (Datenbank des National Standards Institute of Technology)

MPDS (04) –MaterialPhases Data System, Linus Pauling Datei (LPF)

ICDD Einzelkristalldaten (05) –Internationales Zentrum für Diffraktionsdaten

PDF Datenbank

Globale ISO-zertifizierte Kristalldatenbank

Umfassende Datenbank für Pulberdiffraktion und Einkristallstruktur

XRD Datenanalyse Standarddatenbank

PDF-5+2025 Übersicht

• 1104.100+ Sätze von Featured Diffraction Dateneinträgen;

• 626,140+ PDF-Karten mit Atomkoordinaten;

• 457.800+ Datensätze für anorganische Stoffe;

• 650.200+ Sätze organischer Daten;

• 997.300+ Datensätze mit Referenz-Intensitäts-I/IC-Werten für eine schnelle quantitative RIR-Analyse;

• PDF-Karten Abrufe Schnittstelle und Software enthalten;

• Die weltweit größte und vielfältigste umfassende Datenbank für Kristallwissenschaften;

• Weltweit ISO-zertifizierte Kristalldatenbank;

• SIeve+, das ein- und zweidimensionale Pulver-XRD-Daten für die Phasenaufnahme und quantitative Analyse importiert;

PDF-5+2025 XRD-Identifizierung

• 1104.100+ Sätze von Featured Diffraction Dateneinträgen;

• 42.239 neue Karten in der Version 2025

• 200.800 Karten mit Rohdiffraktionsdaten für reine Phasen zur Identifizierung von Halbkristallen, Tonmineralen, Polymeren und Nanomaterialien

PDF-5+2025 XRD Quantitative Analyse

• 997.300+ Datensätze mit Referenz-Intensitäts-I/IC-Werten für eine schnelle quantitative Analyse nach der Referenz-Intensitätsmethode (RIR);

• 626,140+ PDF-Karten mit Atomkoordinaten; Quantitative Analysen mit Vollkarte-Fitting-Legitimierung (WPF) oder Rietveld-Präzisionsmethode in Kombination mit der JADE Pro/JADE Standard-Software oder der mit dem Diffractor mitgelieferten Software;

PDF-5+ Kartenaufnahme

• 85 Suchbedingungen;

• 136 Anwendungsbereiche;

PDF-5+ Unterbibliothek

• 32 Bibliotheken;

• Ausgewählte Untergalerien:

• Metalle & Legierungen – 179.390 PDF-Karten

• Mineralien & Mineralien – 53.439 PDF-Karten

• Keramik – 25.777 PDF-Karten

• Allgemeine Bilder – 24.037 PDF-Karten

Die PDF-5+-Datenbank erfüllt die analytischen Anforderungen in nahezu allen Materialbereichen.Anorganische Materialien wie Zement, Metalle und Legierungen, Batterien, Mineralien und Festkörper, organische Materialien wie Medikamente, Farbstoffe, Pigmente und Polymere sowie andere Materialien， Alle Dateien sind in der PDF-5+-Datenbank enthalten. PDF-5 + Datenbank für einzelne PDF-Karten enthält nicht nur Röntgen-Standarddiffraktionsdaten, sondern auch synchrone Strahlung-Standarddiffraktionsdaten, elektronische Standarddiffraktionsdaten und Neutronen-Standarddiffraktionsdaten, um fast alle Pulver-XRD-Daten zu erfüllen!

Die PDF-5+-Datenbank kompatible XRD-Analysesoftware umfasst die Analysesoftware JADE Pro, JADE Standard und die im Mainstream-Diffractor enthaltene Analysesoftware. Wenn Sie kein XRD-Gerät haben, müssen Sie sich keine Sorgen um die Analyse Ihrer Daten machen.

PDF-5+ Geschenkmodul zur Phasenanalyse SIeve+

SIeve + unterstützt die Analyse von eindimensionalen und zweidimensionalen XRD-Daten, die Durchführung der Phasenanalyse und unterstützt gleichzeitig die quantitative Analyse der K-Wertmethode, es ist erwähnenswert, dass SIeve + Neutronendifraktionsdaten analysieren kann.

Suche Methode

PDF-5+ 2025DatenbankUnterstützt mehr als 80 Arten der Phasensuche, wie Forschungsbereiche, Datenquellen, Datenqualität, Periodische Tabelle der Elemente, Raumgruppen, kristallologische Parameter, Verbindungsnamen, Diffraktionsdaten, physikalische Eigenschaften von Materialien und Referenzen, um die schnelle und genaue Suche und Identifizierung von Objekten zu erleichtern.

1. Forschungsbereiche, Datenquellen, Datenqualität, Periodische Tabelle der Elemente

2. Recherche im Zusammenhang mit chemischen Formeln

3. Suche nach Kategorien und Funktionen

4. Kristallogische Parameter, Raumgruppensuche

5. Diffraktionsdatenabfrage

6. Referenzsuche

7. PDF Kartennummer abrufen

PDF-5+ Standarddiffraktionskarte Allgemeine Informationen

PDF-5+ Standard-Diffraktionskarte, jede Karte erhältlichÜber 130Mit diesen Informationen kann der Benutzer schnell und einfach den gesamten Überblick über das Material erfahren.

1. PDF Kartennummer

Jede PDF-Karte hat ihre eigene Nummer und jede PDF-Kartennummer entspricht einem Objekt. Die PDF-Kartennummer besteht aus drei Datensätzen und 9 Ziffern. XX-XXX-XXXX， Zum Beispiel ist die PDF-Kartennummer des eisenbasierten Superleiters KFe2Se2 00-063-0202, wobei 00 die Datenquelle angibt, die Karte stammt aus der Pulberdiffraktionsdatenbank des ICDD, 063 den 63. Band der Aufnahme angibt und 0202 die entsprechende Nummer der PDF-Karte angibt.

2. Diffraktionswellenlänge

In PDF-5+ können die Röntgendifferktionsziele mit Cu, Fe, Mo, Co, Cr, Mn, Ag und benutzerdefinierten Wellenlängen ausgewählt werden, einschließlich Neutronendifferktionsdaten (Festwellenlängen- und TOF-Neutronendaten) und Elektronendiffraktionsdaten.

3. Diffraktionsdaten, relative Stärke der Diffraktionsspitze, d-I-(hkl) Liste

Die Spitzenstärke in der PDF-Karte ist auf 1000 normalisiert, alle anderen Diffraktionsstärken sind relative Diffraktionsstärken; Der d-Wert des Kristallabstands der drei starken Linien entspricht der verstärkten Schriftart.

In PDF-4-Karten ist die Diffraktionsstärke in Fixed Slit Intensity (Fixed Slit Intensity), Variable Slit Intensity (Variable Slit Intensity) und Integrated Diffraktionsstärke unterteilt.

2. Wenn der Wert der Relativen Intensität I mit m versehen ist, bedeutet das Vorhandensein eines anderen Kristalldiffraktionsspitzes, dass die relative Diffraktionsintensität der anderen Kristalldiffraktionsspitze gleich der relativen Diffraktionsintensität dieses Kristalldiffraktionsspitzes ist.

Nehmen wir als Beispiel die KFe2Se2-Verbindung mit der PDF-Kartennummer 00-063-0202, die PDF-Karteninformationen sind wie folgt:

4. Grundlegende Informationen in der PDF-Karte

Die grundlegenden Informationen zu den Objekten in einer PDF-Karte umfassen hauptsächlich die folgenden Punkte:

1. Status der PDF-Karte (Status)Es gibt drei Arten: Primary, Alternate und Deleted.

Primär– in der Regel zeigt, dass die PDF-Karte eine gute Datenqualität aufnimmt und dass es sich um Diffraktionsdaten bei Raumtemperatur handelt;

AlternativEine PDF-Karte aus mehreren PDF-Karten eines Materials zeigt nicht unbedingt eine schlechte Qualität der PDF-Karte;

Gelöscht– Die PDF-Karte enthält derzeit ungelöste Fehler, die von der aktuellen PDF-Datenbank gelöscht wurden. Die Karte kann jedoch immer noch abgerufen werden, um den Benutzer einen einfachen Hinweis auf die Daten zu ermöglichen. In der Regel gibt es eine PDF-Karte, die als "Deleted" gekennzeichnet ist, eine PDF-Karte von besserer Qualität anstelle einer "Deleted" PDF-Karte.

Qualitätsmarke für PDF-Karten (Quality Mark)， Die von ICDD veröffentlichten PDF-Karten sind weltweit für alle erfassten Daten qualitativ gekennzeichnet, und jede PDF-Karte wird auf verschiedenen Ebenen der Bearbeitung geprüft, bearbeitet und standardisiert. Wenn es mehrere PDF-Karten für dasselbe Objekt geben sollte, wird in der Regel empfohlen, eine Karte mit einem höheren Qualitätsmerkmal zu wählen.QualitätsmarkeDie spezifischen Definitionen der einzelnen Qualitätsmarken können in anderen Fachartikeln dieser öffentlichen Nummer aufgemerkt werden.

3. Temperatur und Druck beim Sammeln der KarteEs ist wichtig zu beachten, dass während der Phasenidentifikation die Temperatur und der Druck gewählt werden müssen, die dem Experiment entsprechen. Andernfalls kann die Struktur der Identifizierung falsch sein.

4. Chemische Formel, Struktur, Atomverhältnis, Atomgewichtsverhältnis, allgemeine englische Namen, Mineralnamen, IMA-Nummer, CAS-Nummer, Aufnahmezeit usw.

5. Experimentelle Bedingungen für die Sammlung von PDF-Karten (Experimental)

Hauptsächlich umfasst Röntgenwellenlänge, Filter, Kameratradius, Innenwert, d-Wert, Intensität und andere Informationen.

Crystallographische Daten (physikalisch, kristallisch)

Hauptsächlich umfasst das Kristallsystem, die räumliche Gruppe, die Parameter der Kristallzelle, das Volumen der Kristallzelle, die Anzahl der chemischen Einheiten Z, die Dichte, der F-Faktor, die Referenz-Intensität RIR-Werte I / Ic, der R-Faktor und andere Informationen.

Im Allgemeinen gilt der F-Faktor größer als 15 als zuverlässiger XRD-Diagramm der Phase.

2. Wenn die Referenzstärke I/Ic das Gewicht der zu messenden Verbindung und der Probe ist 1: 1, ist das integrale Intensitätsverhältnis der zu messenden Verbindung und der Probe. Die Röntgenwellenlänge beeinflusst den I/IC-Wert und die Röntgenquelle, die bei den meisten Sammlungen von PDF-Karten verwendet wird, ist Cu Kα1 (1,5406 A). Wenn im Experiment eine Röntgenquelle mit anderen Wellenlängen verwendet wird, muss bei der Analyse des relativen Phasengehalts besondere Aufmerksamkeit auf die Wellenlänge gelegt werden, die bei der Sammlung der PDF-Karte verwendet wurde, da der I/IC-Wert in der PDF-Karte möglicherweise keinen Referenzwert mehr hat. Wenn die PDF-Karte mit strukturellen Daten korrespondiert, können Sie die JADE-Standard- oder JADE-Pro-Software verwenden, um den spezifischen Wert der I/IC des Objekts unter verschiedenen Wellenlängen zu berechnen.

Einkristalline Strukturdaten (Struktur)

Hauptsächlich umfassen sie kristallologische Parameter, räumliche Gruppensymmetrie-Operationen, Atomkoordinaten, Positionsinformationen, Temperaturfaktoren und andere Informationen.

Klassifizierungen (Classifications)

Es umfasst hauptsächlich Informationen wie die Untergebiete, die Klassifizierung von Erzen, die Prototypen der Kristallstruktur.

Cross-Reference ähnliche PDF-Karten (Cross-Reference)

Zeigt grundlegende Informationen über eine Reihe von PDF-Karten an, die mit der aktuellen PDF-Karte kreuzverweisbar sind, und kennzeichnet den Status der kreuzverweisenden PDF-Karte (Primär, Alternativ oder Gelöscht) oder die Diffraction der kreuzverweisenden PDF-Karte, die eine "Korrelation" mit der aktuellen PDF-Karte hat.

Referenz (Referenz)

Es wird hauptsächlich die Literaturinformationen angezeigt, auf die sich die aktuelle PDF-Karte bezieht, und die Anzahl der Literatur, auf die sich die verschiedenen PDF-Karten beziehen, ist unterschiedlich.

Kommentare der Redaktion (Comments)

Hauptsächlich zeigt die aktuelle PDF-Karte Kommentar, der Kommentar von der Karte Mitwirkenden oder ICDD-Editor, in der Regel enthält die Methode der Probensynthese, Diffraktion Aufnahmebedingungen und andere grundlegende Informationen, wenn die aktuelle PDF-Karte schlechte Qualität, wird die Bearbeitung auch die Ursache angeben. Viele Leute ignorieren diese Informationen oft bei der Verwendung von PDF-Karten. In vielen Fällen enthält der Kommentarbereich der Bearbeitung einer PDF-Karte wichtige Informationen über das Objekt, die den Benutzern oft effektiv helfen können, ein zweites Urteil bei der Suche nach dem Objekt zu machen.

PDF-5+/4 Serie Standard Diffraktionskarten Eigenschaften

Die Karten der PDF-5+/4-Serie enthalten neben allem, was herkömmliche PDF-2-Karten enthalten, zusätzliche Funktionen der Serie, einschließlich der experimentellen Diffraktionsspektrometrie der Materialreinheit, der Elektronen-/Neutronendiffraktionsspektrometrie, der 2D-Pulberdifraktionsspektrometrie (2D-XRD), der Hoch- und Tieftemperaturdiffraktionsspektrometrie, der in situ-Hochdruckdiffraktionsspektrometrie, der Strukturinformationen, der Schlüssellangenwinkel, der Elektronendiffraktionsspektrometrie (SAED) und der Elektronenrückstrahlungsdiffraktionsspektrometrie (EBSD).

Temperaturreihe (Temperaturreihe)

Die Datenbank der PDF-5+/4-Serie enthält in situ hohe und niedrige Temperaturdiffraktionsdaten für einige Phasen, die durch Diffraktionsdaten mit verschiedenen Temperaturen leicht die thermischen Ausdehnungseigenschaften, Phasenänderungen usw. des Materials finden können. Nehmen Sie zum Beispiel die PDF-Kartennummer 00-046-1045 SiO2, die in der PDF-4+-Datenbank aufgenommenen Temperaturänderungen reichen von 10 K bis 1813 K.

Werkzeugkasten (Toolbox)

Im Toolbox-Funktionsbereich können Benutzer die Wellenlänge nach Bedarf anpassen und Informationen wie den Spitzenpunkt, den Miller-Index, den Kristallabstand, den Kristallklemmwinkel usw. berechnen.

Physikalisch-chemische Eigenschaften (Property Sheet)

In der Datenbank der Serie PDF-5+/4 enthalten einige PDF-Karten (z. B. Batteriematerialien, Ionenleitermaterialien, Wasserstoffspeichermaterialien, Halbleitermaterialien usw.) ein Eigenschaftsblatt, das zusätzliche Informationen zur Phase als Dokument anzeigt, z. B. Batteriematerialien und Ionenleitermaterialien, die elektrische Leitfähigkeit enthalten, usw. Der Benutzer kann auf das Symbol Property Sheet klicken, das automatisch ein Dokument erzeugt, das die grundlegenden physischen Eigenschaften des Objekts zeigt, hauptsächlich in Text- und Diagrammformaten, mit entsprechenden Referenzen.

Nehmen Sie zum Beispiel die PDF-Kartennummer 00-004-0545 Monocrystalline Ge, deren Dokumentation über die grundlegenden physikalischen Eigenschaften des Objekts, das im Eigenschaftsblatt beigefügt wird, wie in der folgenden Abbildung dargestellt ist:

2D oder 3D Struktur

Für organische Substanzen ist das in der Regel in einer PDF-Karte als zweidimensionales (2D) Strukturschema angezeigt; Für anorganische Substanzen ist das in der Regel in einer PDF-Karte als dreidimensionales (3D) Strukturschema und als dynamisches Diagramm angezeigt; Für einen Teil der Objekte enthält die PDF-Karte sowohl 2D- als auch 3D-Strukturschemata. In der Regel sind C-Atome und H-Atome in einer weggelassenen Form in 2D-Strukturschematen dargestellt, aber wenn C-Atome und H-Atome zweideutig sind, wird die PDF-Karte sie speziell in der 2D-Struktur markieren. Der Benutzer kann auf das 2D/3D-Symbol klicken, um eine 2D- oder 3D-Strukturschema des Objekts anzuzeigen.

Nehmen Sie zum Beispiel C17H12N2O4 mit der PDF-Kartennummer 02-094-1952, klicken Sie auf das 2D/3D-Symbol, dessen 2D/3D-Strukturschema wie folgt dargestellt ist, wobei die 3D-Struktur ein dynamisches Diagramm ist, dieses Beispiel zeigt nur einen Schnitt eines statischen Diagramms:

Schlüsselwinkelinformationen (Bonds)

Die Datenbanken der Serie PDF-5+/4 liefern Informationen über die Phasenlänge, den Schlüsselwinkel, die Atomkoordinaten, die Symmetrie, den Kristallabstand, den Atomabstand und die Atomverteilung, die für die elektronische Analyse von Verteilungsfunktionsdaten (PDF) angewendet werden können.

Elektronendiffraktion im Wahlkreis (SAED)

Nehmen Sie zum Beispiel das Elektronendiffraktionsdiagramm der Wahlkreise (SAED) mit der PDF-Kartennummer 00-065-0110 Ag3S (NO3).

Elektronenrückstrahlungsdiffraktion (EBSD)

8. Der zweidimensionale Dubai-Ring

Eine zweidimensionale (2D) Ring-Spektrographie der Phase ist in der Datenbank der PDF-4-Serie verfügbar. Diese Spektrographie ist analog und setzt voraus, dass sich der Detektor in der Mitte der Eingangsstrahlübertragungsgeometrie befindet und die zu messende Phase ein zufällig orientiertes Mikrokristallpartikel ist.

9. Simulation von XRD-Diagrammen und XRD-Experimenten mit reiner Phase

Die Datenbank der PDF-4-Serie enthält sowohl das Simulated Profile als auch die Raw DiffractionData. PDF-Kartennummer: 00-063-0202

Ein Beispiel für den eisenbasierten Superleiter KFe2Se2:

PDF-5+ 2025DatenbankSie können auch direkt in andere gängige Suchsoftware wie JADE, EVA, Highscore usw. importieren, um eine wirklich nahtlose Verbindung zu schaffen, die Ihre Forschung nicht fehlen kann!