Willkommen Kunden!

Mitgliedschaft

Hilfe

Guangdong Sende Instrumente Co., Ltd.
Kundenspezifischer Hersteller

Hauptprodukte:

instrumentb2b>Produkte

Guangdong Sende Instrumente Co., Ltd.

  • E-Mail-Adresse

    sende_services@outlook.com

  • Telefon

    17688459448

  • Adresse

    983 East Huangpu Avenue, Guangzhou, Provinz Guangdong

Kontaktieren Sie jetzt

Field Launch Scan Elektronenmikroskop

VerhandlungsfähigAktualisieren am02/08
Modell
Natur des Herstellers
Hersteller
Produktkategorie
Ursprungsort
Übersicht
GeminiSEM 360 ermöglicht Ihnen die einfache Bildgebung mit einer Auflösung auf Subnanoscale. Ausgezeichnete Bildgebungs- und Analysetechniken machen das FE-SEM (Field Emission Scanning Electronic Microscope) zu einem Tiger-Flügel.
Produktdetails

Zeiss GeminiSEM 360

FE-SEM erfüllt hohe Anforderungen an Subnanobildgebung, Analyse und Probenflexibilität

ZEISS GeminiSEM ermöglicht Ihnen die einfache Realisierung von Bildgebungen in Sub-Nano-Auflösungen. Ausgezeichnete Bildgebungs- und Analysetechniken machen FE-SEM (Field Launch Scan Elektronenmikroskopwie Tigerflügel. Mit innovativen elektronischen Optiken und einem neuen Musterlagerdesign sind wir nicht nur einfacher zu bedienen und vielfältiger anzuwenden, sondern bieten Ihnen auch eine höhere Bildqualität. Unternanoscale-Bilder unter 1 kV können ohne Immersionsobjektive aufgenommen werden. Entdecken Sie drei Designs der ZEISS Gemini Elektronik-Optik:

lIdeale Wahl für analytische TestplattformenDas ZEISS GeminiSEM 360

lEffiziente Analysen——Zeiss GeminiSEM 460

lNeue Standards für Oberflächenbildgebung——TsaiAbteilung GeminiSEM 560

场发射扫描电子显微镜

GeminiSEM 360Field Launch Scan ElektronenmikroskopEs ist die ideale Anlage für Ihre analytische Prüfplattform und bietet vorteilhafte Funktionalität in den Bereichen Material- und Life Sciences sowie Industrie. GeminiSEM 360 bietet mit seinem elektronischen optischen Objektiv Gemini1 hochauflösende Bildgebung und Analyse für eine Vielzahl von Anwendungen und Probentypen.

Hohe Probenflexibilität

Ausgezeichnete Benutzererfahrung

Ausgezeichnete Erweiterungsfähigkeit

场发射扫描电子显微镜

场发射扫描电子显微镜

Hohe Probenflexibilität

✔ GeminiSEM 360 ist das ideale Gerät für analytische Prüfplattformen und bietet vorteilhafte Funktionalität in den Bereichen Material- und Life Sciences sowie Industrie.

✔ Das gleichnamige elektronische optische Design des Gemini 1 bietet oberflächensensitive hochauflösende Bilder, die auch bei niedrigen Spannungsbedingungen eine hervorragende Auflösung bieten und eine schnelle Bildgebung bei hohen Sondenstrombedingungen bieten.

✔ Die Inlens Sekundärelektronenbildgebung und die Rückstreuelektronenbildgebung ermöglichen die gleichzeitige Erfassung hochauflösender Oberflächenformationen und Verbundkompositionsinfos (auch für Strahlensensitive Proben).

✔ Bei der Bildgebung isolierter Proben unter niedrigen Vakuumbedingungen (d.h. variablem Druck) muss die Inlens-Auskleidung nicht aufgeopfert werden: NanoVP garantiert herausragende Funktionalität und gewährleistet eine Inlens-Bildgebung ohne elektrische Belastung.

场发射扫描电子显微镜

Ausgezeichnete Benutzererfahrung

✔ GeminiSEM 360 bietet ein gutes Benutzererlebnis: Mit seinem weiten Sichtfeld und seinem neuen, hochpersonalisierten Probenlager ist es auch bei sehr großen Proben einfach zu erkennen.

✔ Mit der assoziierten Bildgebungs- und assoziierten Mikrotechnik von ZEIS ZEN Connect können Sie nahtlos navigieren.

✔ Verwenden Sie automatische Funktionen wie Autofokus und intelligente Detektoren, um ein klares Bild zu erhalten.

✔ Die geometrisch symmetrischen EDS-Ports und die gemeinsame EDS/EBSD-Geometrie ermöglichen Ihnen, effiziente Bildgebungs- und Analysearbeitsflüsse durchzuführen.

✔ Mit dem ZEISS Predictive Service können Sie die Systemlaufzeit optimal nutzen und die Vorteile einer regelmäßigen Wartung jederzeit nutzen.

场发射扫描电子显微镜

Ausgezeichnete Erweiterungsfähigkeit

✔ Die kontinuierliche Aktualisierung des Systems ist eine Voraussetzung, um Ihre Investition zu sichern. Daher ist der GeminiSEM 360 auch Teil des ZEN Core-Softwareökosystems von ZEISS und ermöglicht Ihnen ein einfaches Systemupgrade.

✔ ZEN Connect kombiniert multimodale und multiskalare Daten, ZEN Intellesis für die Bildaufteilung, die von fortschrittlicher KI unterstützt wird, ZENs Analysemodule für die Berichterstattung und Analyse von aufgeteilten Daten und ZEN Data Storage ermöglicht es Ihnen, Projekte zentral zu verwalten, indem Sie Daten aus verschiedenen Geräten im Labor miteinander verbinden.

✔ Als Mitglied der APEER-Community haben Sie Zugriff auf Workflows und Skripte, die von anderen Benutzern erstellt wurden, um Ihnen bei der Lösung von Rätseln aus der Ferne zu helfen.

✔ Durch die Bereitstellung eines klaren Upgrade-Pfades kann das System mit der Veröffentlichung neuer Funktionen weiter verbessert werden.


Grundprinzipien

FE-SEM ist speziell für hochauflösende Bildgebung konzipiert und ein Schlüssel zur Leistung ist seine elektronische optische Brille. Gemini wurde speziell entwickelt, um eine ausgezeichnete Auflösung für jede Probe (insbesondere bei niedriger Beschleunigungsspannung) zu erreichen, um eine vollständig effiziente Erkennung und eine einfache Bedienung zu ermöglichen.

场发射扫描电子显微镜

Gemini Elektronik Optik System hat die folgenden drei Hauptmerkmale:

Gemini Objektive kombinieren elektrostatische und elektromagnetische Felder, um die optischen Leistungen zu verbessern und gleichzeitig die Auswirkungen auf die Probe zu verringern. So können auch anspruchsvolle Proben wie magnetische Materialien qualitativ hochwertig abgebildet werden.

Gemini Elektronenstrahlantriebstechnologie ist ein integrierter Strahlreduktor, der kleine Elektronenstrahlflecken und ein hohes Signal-Rausch-Verhältnis gewährleistet.

Das Detektionsdesignprinzip von Gemini Inlens gewährleistet eine effiziente Signaldetektion durch die gleichzeitige Erkennung von Sekundärelektronen (SE) und Rückstreuelektronen (BSE), die die Zeit zum Bild erheblich verkürzen.

场发射扫描电子显微镜

Für Ihre Anwendung bieten Sie folgende Vorteile:

✔ Die SEM-Strahlausrichtung bleibt langfristig stabil und die Änderung des Sondenstroms und der Beschleunigungsspannung hat kaum Einfluss auf das System.

✔ Ein nahezu magnetfeldfreies optisches System ermöglicht eine verzerrungsfreie hochauflösende Bildgebung.

✔ Mit dem Inlens SE-Detektor können Bilder mit der realen Oberflächensempfindlichkeit der SE 1-Elektronik erzeugt werden, wodurch nur die oberste Ebene der Probe erfasst wird.

✔ Verwenden Sie das Detektionsdesignkonzept des Inlens EsB-Detektors, um eine echte Materialzusammensetzung bei sehr niedriger Spannung zu erzielen.


场发射扫描电子显微镜

场发射扫描电子显微镜

场发射扫描电子显微镜

场发射扫描电子显微镜