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Gebäude A der Zukunftsstadt, 147, Yueliong South Road, Hongshan
Maikono Technology Co., Ltd
Gebäude A der Zukunftsstadt, 147, Yueliong South Road, Hongshan
12 Zoll mit Vakuumkörfer
1.Temperaturbereich:150–1,300℃;
2.Erwärmungsgeschwindigkeit:1-200℃/Sekunden einstellbar;
3.Temperaturgleichmäßigkeit: ±5℃(200mm Wafer 1015℃);
4.Probengröße:12Zoll oder300×300 mm(Temperaturregelung);
5.Steuerungssoftware-Hardware: Selbstentwicklung der Systemsoftware, UnterstützungSEMIAutomatisierungsstandards,SECS/GEMKommunikationsschnittstelle; Programmierbarer Temperaturkurvenspeicher500Artikel über,Jede Kurve umfasst50Die oben genannten Daten können als Textdateien exportiert werden, um die Datenverarbeitung zu erleichtern.
6.降温速率:80℃/Sekunden (Schnellkühlung optional, Abkühlungsrate)200℃/Sekunden);
7.Temperatureinstellungsbereich:100-1,300℃, einstellbar für jeden Zeitraum1- 30,000Sekunden;
8.Temperaturüberschreitung: <5℃;
9.Temperaturmesssystem:KTyp Thermoelement, Doppelpunkt-Temperaturmessung (optische Temperaturmessung ist optional);
10.Kühlsystem:CDAWasser kalt;
11.Temperaturgenauigkeit: ±0.3℃;
12. PIDTemperaturregelung:PIDTemperaturregelung, kann bei der Erwärmungsgeschwindigkeit noch nicht übertrieben werden;
13.Isolationszeit:1200℃ Wärmedauer600Sekunden;
14.Stabilität bei Temperatur: ±1℃;
15.Prozessgaswege:2StraßeMFC(maximal auswählbar)6Straße);
12 Zoll mit Vakuumkörfer Anwendungsbereiche:
Siliziumbasierte Halbleiterprozesse der 3. und 4. Generation (RTP, RTA, RTO, RTN)
Eisenwerkstoffforschung
Dünnfilmspannungsregelung
Fertigung von integrierten Schaltungen
Wärmebehandlung vor der Prüfung der Materialeigenschaften, thermische Vibrationsexperimente
CMOS Prozessoptimierung
Doping-Aktivierung (Abbrennen nach Ioneninjektion)
Ohm-Kontakthitzung (metallisiertes Hitzen)
Oxidation/Nitrifizierung
Wärmebehandlung mit hohem K-Medium
Silizium Oberflächenbehandlung
Herstellung von Solarzellen
Phasenwechselnde Materialbehandlung
Dünnfilmspannungsregelung
Kornwachstum und Kristallisierung
Thermische Stabilitätsstudien für neue Materialien
Bearbeitung von MEMS-Geräten
Bearbeitung von Nano-Geräten