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Laser-Kofokuss-Scannmikroskop

VerhandlungsfähigAktualisieren am05/06
Modell
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Hersteller
Produktkategorie
Ursprungsort

Übersicht

Das Laserkonfokus-Scanmikroskop ermöglicht konfokus-Mikrobild in Echtzeit mit schnellen optischen Scanmodulen und Signalverarbeitungsalgorithmen. Lösungen zur Messung und Erkennung von mikroskopischen dreidimensionalen Strukturen wie Halbleiterchips, FPD-Produkte, MEMS-Geräte, Glassubstrate, Materialoberflächen usw.

Produktdetails

Laser-Kofokuss-ScannmikroskopEs ist ein präzises und zuverlässiges 3D-Scan-System, das mit schnellen optischen Scanmodulen und Signalverarbeitungsalgorithmen konfokale Mikrobilder in Echtzeit ermöglicht. Eigentümer von * Lösungen zur Messung und Erkennung von mikroskopischen dreidimensionalen Strukturen wie Halbleiterchips, FPD-Produkte, MEMS-Geräte, Glassubstrate, Materialoberflächen usw.

Features & Benefits (Leistung und Vorteile):

Hochauflösende schädigungsfreie optische 3D-Messung Automatische Neigungskompensation

Echtzeit-konfokale Bildgebung Einfache Datenanalyse

Vielfältiger optischer Zoom Doppel-Z-Scan

Vielfältige Spleizungen Eigenschaften von durchsichtigen Substraten

Echtzeit-CCD-Lichtfeld- und Kofokus-Bildgebung Keine Probenvorbereitung

Automatischer Fokus

Anwendungsfeld (Application Field):

Der NS-3500 ist eine vielversprechende Lösung für die Messung niederdimensioneller Materialien.

Höhe, Breite, Winkel, Fläche und Volumen von Mikron- und Submikron-Strukturen messen können, z. B.

- Halbleiter: IC-Grafik, Konkubenzhöhe, Spulenhöhe, Fehlererkennung, CMP-Prozess

- FPD-Produkte: Touchscreen-Bildschirmerkennung, ITO-Muster, LCD-Säulenabstandshöhe

- MEMS-Geräte: Strukturelle dreidimensionale Konturen, Oberflächenrauhe, MEMS-Grafik

- Glasoberfläche: Dünnfilm-Solarzellen, Solarzellen-Textur, Lasermuster

- Materialforschung: Schimmeloberflächendetektion, Rauheit, Rissanalyse

Spezifikation(Laser-Kofokuss-ScannmikroskopSpezifikationen):

Modell

Mikroskop NS-3500

Bemerkung

Controller NS-3500E

Objektivvergrößerung

10x

20x

50x

100x

150x

Beobachtungs-/Messbereich

Höhe (H): μm

1400

700

280

140

93

垂直 (V): μm

1050

525

210

105

70

Arbeitsbereich: mm

16.5

3.1

0.54

0.3

0.2

Numerischer Durchmesser (N.A.)

0.30

0.46

0.80

0.95

0.95

Optischer Zoom

x1 bis x6

Gesamtvergrößerung

178x to 26700x

Beobachtungs-/Messoptik

Needle Loch Kofokuss Optik System

Höhenmessung

Messscanner

Scanlänge: 10 mm

Anzeigeauflösung

0,001 μm

Wiederholungsrate σ

0,010 μm

Anmerkung 1Durchführen Sie 100 Messungen der Standardprobe (Schrittlänge 1 μm) mit einem Objektiv von 100 x / 0,95.

Breitenmessung

Anzeigeauflösung

0,001 μm

Wiederholungsrate 3σ

0,02 μm

Anmerkung 2100 Messungen an Standardproben (5 μm Abstand) mit 100 x/0,95 Objektiven

Frame-Speicher

Pixel

1024x1024, 1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96

Einfarbiges Bild

12 Bit

Farbbilder

8-Bit für RGB jeweils

Höhenmessung

16 Bit

Bildrate

Oberflächenscanning

20 Hz bis 160 Hz

Linie-Scan

bis 8 kHz

Automatische Funktionen

Automatischer Gewinn

Laserkonfokus-Messlichtquelle

Wellenlänge

405 nm

Ausgabe

~ 2mW

Laserklasse

Klasse 3b

Laser-Empfangselemente

PMT (Photomultiplikator)

Optische Beobachtungslichtquellen

Lampe

LED von 10W

Optische Beobachtungskamera

Bildgebungskomponenten

1/2" Farbbild CCD-Sensor

Auflösung aufzeichnen

640x480

Automatische Anpassung

Gewinn, Verschlussgeschwindigkeit, Weißgewicht

Datenverarbeitungseinheiten

PC

Stromversorgung

Stromversorgungsspannung

100 to 240 VAC, 50/60 Hz

Stromverbrauch

500 VA max.

Gewicht

Mikroskop

ca. ~200 kg

(Messkopfenheit: ~12 kg)

Controller

~ 8 kg