Symer Fly Iliad Korrektur-Transmittionselektroskop

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Das Symer Iliad Differenzkorrigiertes Transmitterskop ist ein integriertes Differenzkorrigiertes Analytik-Elektroskop mit neuen EELS, Energiefilter, Zebra-Detektoren und NanoPulser Ultra-Fast Electrostatic Strahlensperren, die die Integration von Dual-X-, Super-X- oder Ultra-X EDX-Detektoren unterstützen.

Produktdetails

Symer Fly Iliad Differential Correction Transmittance Elektroskop Einführung:

Das Thermo Scientific Iliad (S)TEM ist mit dem neuen dedizierten Zebra Elektronischen Energieverlustspektrometer (EELS) -Detektor und -Energiefilter sowie dem neuen NanoPulser Ultra-Fast Electrostatic Beam Gate Iliad Elektronische Energieverlustspektrometer und -Filter ausgestattet, die mit fortschrittlichen optischen Komponenten und hoher Stabilität und einer Vielzahl innovativer Designs ausgerüstet sind, die eine tiefe Integration in die optischen Komponenten des Mikroskops ermöglichen, um eine gute Erfahrung bei der EELS-Datenerfassung für jede Anwendung zu bieten. Darüber hinaus verbessert die fortgeschrittene Integration die Wartbarkeit des Mikroskops erheblich. Die benutzerfreundliche Thermo Scientific Velox-Software erweitert die Fähigkeit, EELS-Daten zu erfassen, sodass selbst anspruchsvolle Experimente für jeden Benutzer, auch für Anfänger, einfach zu beherrschen sind. Die Thermo Scientific Autoscript TEM-Software ermöglicht eine erweiterte Zugriffssteuerung des Transmissionselektroskops mit Python-Skripten, um neue Datenerfassungsworkflows zu erstellen und gleichzeitig kundenspezifische Workflows mit Künstlicher Intelligenz (KI) zu realisieren.

Symer Fly Iliad Korrektur-TransmittionselektroskopEigenschaften:

Iliad (S)TEM für fortgeschrittene Materialanalyse

Thermo Scientific Iliad (S)TEM verfügt über fortschrittliche, integrierte Technologien, die Ihnen helfen, herausfordernde wissenschaftliche Probleme zu lösen und frühere Grenzen zu überwinden. Fortgeschrittene Spektroanalysefähigkeiten und Dosisoptimierungsstrategien machen sie zur idealen Wahl für komplexe Forschungen, auch für die schwierigsten modernen Materialien.

Fortgeschrittene optische Integration für eine gute EELS-Leistung

Die Herausforderung für EELS-optische Systeme besteht darin, eine Vielzahl von Elektronenenergien gleichzeitig von der Probe zum Detektor über ein Mikroskop und ein Elektronenenergieverlustspektrometer zu übertragen, ohne durch die Diffusion verursachte Verschwommenheit oder Verzerrung einzuführen. Dies ist eine sehr wichtige Aufgabe, vor allem, wenn man versucht, den Wechsel zwischen verschiedenen Mikroskop-Einstellungen und verschiedenen Verlustspektrumeinstellungen zu halten.

Atomresolutionsdiagramm der EELS-Elemente an der LMnO3/LaFeO3-Schnittstelle.

Dies wird nur durch die enge Integration der optischen Komponenten des Mikroskops und des Verlustspektrometers gewährleistet, so dass die Diffusionsfokussierung im Mikroskop mit dem Verlustspektrofokus übereinstimmt. Ansonsten können die ausgezeichneten Leistungen, die ein elektromagnetisches Prisma und zehn Polypole bieten, nur in einer oder mehreren spezifischen experimentellen Umgebungen vollständig genutzt werden, die bei der Umstellung auf andere wie Maschinenlänge, Energiestreuung oder Energieverschiebung verloren gehen. Unsere EELS-Verlustspektrometer und -Energiefilter kombinieren fortschrittliche optische Komponenten mit hoher Stabilität und bieten ein integriertes Transmissionselektroskopoptisches System zur Verbesserung der EELS-Datenerfassung.

Das Atom von TbScO3 unterscheidet das EELS-Elementsverteilungsdiagramm, wobei Tb grün und Sc rot angezeigt wird.

NanoPulser Elektrostatikventil

Der Einsatz von Elektronenstrahlventilen im Elektronenmikroskop optimiert die Elektronendosierung. Es blockiert selektiv den Elektronenstrahl, wodurch der Elektronenstrahl auf der Probe mit hoher Frequenz effektiv geöffnet und geschlossen wird. TEMs verwenden normalerweise magnetische Deformatoren, deren Reaktionszeit nur Millisekunden beträgt und nicht so wiederholbar ist wie elektrostatische Deformatoren. Nanopulser - ein elektrostatisches Strahlventil - ermöglicht eine genaue Zeitsteuerung der Elektronenmenge, die die Probe erreicht, und unterstützt eine Vielzahl von Anwendungen, wie z. B. die Dosisoptimierungsforschung.

Wenn das Elektronenstrahlventil im Betrieb ist, wird mit der herkömmlichen STEM-Einstellung (links) und dem Impulsstrahlscan (rechts) mit dem Elektronenstrahlscan auf der Probe gescannt, um eine Elektronenstrahlblockierung von 50% beim Scannen zu gewährleisten, wodurch das Rückstandssignal beseitigt wird.

Elox Software

Die fortschrittliche Thermo Scientific Velox-Software für Transmittionselektronenmikroskope bietet eine vollständige Kontrolle des Experiments. Es erleichtert den Einsatz von optischen Komponenten und Detektoren für Scan-Transmission-Elektronenmikroskope (STEM und TEM), wodurch die Reproduzierbarkeit, die Leistung und die Unterstützung für die quantitative Analyse von Materialien STEM und TEM verbessert werden.

Die Velox-Software verfügt über eine integrierte, ergonomische Benutzeroberfläche und eine einfache Bedienung, die eine qualitativ hochwertige Bildgebung und Zuordnung der Komponenten ermöglicht. Die integrierte SmartCam ermöglicht eine effiziente Einrichtung von Experimenten. Darüber hinaus verfügt es über eine interaktive Detektor-Layout-Schnittstelle zur Optimierung der experimentellen Steuerung und der Aufzeichnung auf Multi-Detektor-Werkzeugen. Die Velox-Software unterstützt die hochkontrastliche Atomabildung von leichten und schweren Elementen und ermöglicht flexible STEM- und TEM-Videoaufnahmen für dynamische Forschung.

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