Automatische Oberflächenanalyse und vielseitiges Röntgenoptoelektronisches Spektrometer

Das Röntgenoptoelektronische Energiespektrometer (XPS) von Thermo Scientific Nexsa G2 ermöglicht eine vollautomatische Oberflächenanalyse mit hohem Durchsatz und liefert Daten zur Förderung der Forschung und Entwicklung oder zur Lösung von Produktionsproblemen. Die Integration von XPS mit der Ionenstreuungsspektroskopie (ISS), der UV-Lichtelektronenspektroskopie (UPS), der reflektierenden Elektronenenergieverlustspektroskopie (REELS) und dem Raman-Spektrum ermöglicht eine echte Linkanalyse. Das System umfasst nun die Option der Probenbehärmung und der Proben-Plus-Abdruckfunktion, um das Umfang der durchführbaren Experimente zu erweitern.Nexsa G2 OberflächenanalysesystemEntdecken Sie das Potenzial in Materialwissenschaften, Mikroelektronik, Nanotechnologie und vielen anderen Anwendungsbereichen.

Nexsa G2 OberflächenanalysesystemHauptmerkmale

Hochleistungsstarke Röntgenquelle

Der neue Low-Power-Röntgen-Monochromer ermöglicht die Auswahl eines Analysebereichs zwischen 10 µm und 400 µm in einem Abstand von 5 µm, um sicherzustellen, dass Daten aus dem interessierten Charakterbereich erfasst werden und gleichzeitig Signale erzeugt werden.

Beispielansicht

Mit dem optischen Beobachtungssystem von Nexsa XPS und der SnapMap-Funktion können Sie die charakteristischen Bereiche der Probe fokussieren, um die Interessengebiete schnell zu lokalisieren.

Tiefenanalyse

Informationen unter der Oberfläche mit Standard-Ionenquellen oder MAGCIS (optionale Dual-Mode-Einatom- und Gascluster-Ionenquellen) Die automatische Kalibrierung von Ionenquellen und die Behandlung von Gasclustern gewährleisten die Leistung und die Wiederholbarkeit der Experimente.

Digitale Steuerung

Instrumentsteuerung, Datenverarbeitung und Berichterstattung werden durch das Windows-basierte Avantage-Datensystem gesteuert.

Ausgezeichnete elektronische Optik

Effiziente elektronische Linsen, halbkugelförmige Analysatoren und Detektoren bieten Erkennungsfähigkeit und schnelle Datenerfassung.

Isolierungsprobenanalyse

Doppelstrahlneutralisierungsquelle: kann sowohl niederenergetische Ionen als auch niederenergetische Elektronen (weniger als 1 eV) emittieren. Die gute Neutralisierung der Proben, insbesondere der isolierten Proben, ermöglicht eine einfache und zuverlässige Datenanalyse.

NX Probenheizungsmodul

Optionen zur vollständig softwaregesteuerten Probenheizung zur Unterstützung temperaturbezogener Studien.