Röntgenfluorescenzspektrometer

Seit mehr als 40 Jahren wird das Rigaku Simultix Synchronous Wellenlänge Diffusion Röntgenfluorescenz (WDXRF) Spektrometersystem weit verbreitet als Elementanalyse-Werkzeug für die Prozesssteuerung in Industrien wie Stahl und Zement, die hohe Durchsatzleistungen und Genauigkeit erfordern. Fast 1.000 Simultix Wellenlängen-Diffuse-Röntgenfluorescenzspektrometre wurden an Kunden weltweit ausgeliefert. Mit dem technologischen Fortschritt in den Jahren haben sich auch die Anforderungen der Kunden * und diversifiziert.RöntgenfluorescenzspektrometerSimultix 15 entwickelt, um diesen sich ständig ändernden Bedürfnissen gerecht zu werden. Es bietet erheblich verbesserte Leistung, Funktionalität und Verfügbarkeit. Das kompakte und intelligente Simultix 15 ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Elementanalyse, das sich in vielen Industriebereichen bewährt.

Das Wellenlängen-Dispersionsröntgenfluoreszenzspektrometer ist ein Instrument zur Analyse der Zusammensetzung von Substanzen. Es analysiert die charakteristische Fluoreszenzstrahlung, die durch Röntgenstrahlen und die Wechselwirkung von Substanzen erzeugt wird. Hier sind die Einführungspunkte dieses Spektrometers:

Grundprinzip: Die Fluoreszenzstrahlungsintensität dieser verschiedenen Wellenlängen wird dann mit einem Detektor gemessen, indem die eingehenden Röntgenstrahlen durch die Kristalldiffraktion in Licht mit verschiedenen Wellenlängen verteilt werden. Jedes Element hat seine spezifische Fluoreszenzstrahlungswellenlänge, und durch die Messung dieser Wellenlängen kann das Vorhandensein verschiedener Elemente in der Probe und ihr relativer Gehalt bestimmt werden.

2. Instrumentzusammensetzung: Typische Wellenlängen-Diffusion-Röntgenfluorescenzspektrometre umfassen Röntgenquellen, Probenhalter, Kristalldiffraktoren, Detektoren und Datenverarbeitungssysteme. Die Röntgenquelle erzeugt hochenergetische Röntgenstrahlen, die Proben werden auf einem Ständer zur Analyse platziert, die Kristalldiffraktoren werden verwendet, um die eingehenden Röntgenstrahlen zu verteilen, während die Detektoren zur Messung der Fluoreszenzstrahlungsintensität und zur Übertragung der Daten an ein Datenverarbeitungssystem zur Analyse und Interpretation verwendet werden.

3. Analytische Anwendungen:RöntgenfluorescenzspektrometerSimultix 15Weit verbreitet in Materialwissenschaften, Geologie, Umweltüberwachung, Metallanalyse und anderen Bereichen. Es ermöglicht die schnelle und zerstörungsfreie Bestimmung der Elementzusammensetzung in der Probe mit hoher Empfindlichkeit und einem breiten Messbereich.

Vorteile und Einschränkungen: Vorteile der hohen Auflösung, Genauigkeit und Reproduzierbarkeit. Es kann jedoch durch Hintergrundstörungen bei der Erkennung von niedrigen Konzentrationen von Elementen eingeschränkt sein und hat relativ geringe analytische Fähigkeiten für sehr leichte Elemente wie Wasserstoff und Lithium.

Zusammenfassend sind Wellenlängen-Diffusions-Röntgenfluorescenzspektrometre ein wichtiges Analysewerkzeug, das zur schnellen und genauen Bestimmung der Elementerzusammenstände in Substanzen verwendet werden kann und in vielen wissenschaftlichen und industriellen Bereichen eine Rolle spielen kann.

XRF für schnelle und präzise Elementanalyse

Analyse von Beryllium (Be) bis Uran (U) in fast jeder Probenmatrix. Die wichtigsten Indikatoren für die automatisierte Prozesssteuerung sind Präzision, Genauigkeit und Probendursatz. Mit bis zu 30 (und optional 40) diskreten und optimierten Elementkanälen und einer Röntgenröhrleistung von 4 kW (oder optional 3 kW) bietet die Analysegeschwindigkeit und -empfindlichkeit. In Kombination mit leistungsstarker, aber benutzerfreundlicher Software mit einer breiten Palette von Datenvereinfachungs- und Wartungsfunktionen ist das Instrument ein Werkzeug für die Elementanalyse und Messung.

Automatisierte XRF-Elementanalyse

Bei Anwendungen mit hohem Durchsatz ist die Automatisierung eine grundlegende Anforderung. Es kann mit einem 48-Bit-Automatischen Sampler (ASC) ausgestattet werden. Bei der Vollautomatisierung liefert die optionale Probenladeeinheit die rechte oder linke Förderbandzufuhr von einem automatisierten Probenvorbereitungssystem eines Drittanbieters.

Elementaranalyse durch Synchronisierung mit WDXRF

Eigenschaften

synthetische Mehrschichten, RX-SERIES

Der neue synthetische Mehrschichtkristall "RX85" erzeugt eine Stärke von etwa 30% höher als die bestehenden Mehrschichtkristalle Be-Ka und B-Ka.

XRD-Kanäle

Simultix 15 ist mit XRD-Kanälen ausgestattet und ermöglicht quantitative Analysen über XRF und XRD.

Doppelkristall

Optional können doppelflächige Kristalle mit festen Kanälen ausgestattet werden. Im Vergleich zu Einzelflächenkristallen erhöht sich die Intensität der Doppelflächenkristalle.

Verbesserte Software ist einfach zu bedienen

Die Simultix 15-Software verfügt über die gleiche quantitative Analyse-Prozessleiste wie die ZSX-Software, die die Handhabbarkeit der quantitativen Bedingungen verbessert.

Schwere und leichte Scan-Angulometer

Das optionale Wide-Element-Range-Angulometer unterstützt die Halbquantifizierung (FP) ohne Proben und kann zur qualitativen oder quantitativen Messung unkonventioneller Elemente verwendet werden.

BG-Messung von Spurenelementen

Optionale Hintergrundmessung (BG) für feste Kanäle zur Verbesserung der Genauigkeit der Kalibrierungsanpassung.

Automatische Druckregelung (APC)

Das optionale APC-System hält einen konstanten Vakuumgehalt im optischen Raum, um die Genauigkeit der Analyse von leichten Elementen erheblich zu verbessern.

Quantitative Streuungsvergleich

Bei der Verwendung des Compton-Diffusionsvergleichs zur Erz- und Konzentrationsanalyse erzeugt die optionale quantitative Diffusionsvergleich eine theoretische Alpha für die Kalibrierung des Diffusionsverhältnisses.

Bis zu 40 feste Kanäle

Standardkonfiguration mit 30 festen Kanälen und Option für ein Upgrade auf 40 Kanäle.

Automatisierung

Die optionale Probenbeladegeinrichtung liefert eine Förderbandzufuhr von einem automatisierten Probenbereitungssystem eines Drittanbieters.