Scios 2 DualBeam fokussiertes Ionenstrahlscannelektronenmikroskop

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Scios 2 DualBeam fokussiertes Ionenstrahlscannelektronenmikroskop für ultrahohe Auflösung, qualitativ hochwertige Probenvorbereitung und 3D-Charakterisierung.

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Scios 2 DualBeamFokussiertes Ionenstrahlscannelektronenmikroskop für ultrahohe Auflösung, qualitativ hochwertige Probenvorbereitung und 3D-Charakterisierung

ThermowissenschaftlicheScios 2 DualBeamEin hochauflösendes Analysesystem mit fokussiertem Ionenstrahlscannelektronenmikroskop (FIB-SEM), das eine hervorragende Probenbereitung und 3D-Charakterisierung für eine Vielzahl von Proben, einschließlich magnetischer und nicht leitender Materialien, bietet. Durchfluss, Präzision und Benutzerfreundlichkeit durch ein innovatives Funktionsdesign sind die ideale Lösung für die Anforderungen von Wissenschaftlern und Ingenieuren an fortgeschrittene Forschung und Analyse in der akademischen, staatlichen und industriellen Forschung.

Scios 2 DualBeamFokussiertes IonenstrahlscannelektronenmikroskopHauptmerkmale:

Schnelle und einfache Vorbereitung

Erhalten Sie qualitativ hochwertige, feldspezifische TEM- und Atomsonde-Proben mit der Sidewinder HT-Ionensäule.

Vollständige Probeninformationen

Erhalten Sie einen klaren, präzisen und ladungsfreien Kontrast mit einer Vielzahl von integrierten Detektoren in der Chromatografie-Säule und unter der Linse.

Genaue Probennavigation

Die äußerst flexible 110 mm Tragstelle und die Thermo Scientific Nav-Cam Kamera in der Kammer ermöglichen die Anpassung an die spezifischen Anwendungsanforderungen.

Optimieren Sie Ihre Lösung

Die flexible DualBeam-Konfiguration, einschließlich des optionalen Kammerdruck-Niedervakuummodus bis zu 500 Pa, erfüllt die spezifischen Anwendungsanforderungen.

Erhalten Sie qualitativ hochwertige, feldspezifische TEM- und Atomsonde-Proben mit der Sidewinder HT-Ionensäule.

Ultrahochauflösende Bildgebung

Verwenden Sie die Elektronenchromatografie-Säulen von Thermo Scientific NICol, die in einem breiten Probenbereich, einschließlich magnetischer und nicht leitfähiger Materialien, funktionieren.

Hochwertige, multimodale Subflächen- und 3D-Informationen

Verwenden Sie die optionale AS&V4-Software, um qualitativ hochwertige, multimodale Sub-Oberflächen- und 3D-Informationen zu erhalten, indem Sie die Interessengebiete genau zielen.

Falsifikationsfreie Bildgebung und Kompositionsmuster

Es verfügt über spezielle Modi wie DCFI, Driftsuppression und Thermo Scientific SmartScan.

Spezifikation

Elektronenstrahlauflösung	Der beste WD 0,7 nm bei 30 keV STEM 1,4 nm bei 1 keV 1,2 nm bei 1 keV (Strahlverlangsamung)
Elektronenstrahlparameterraum	Elektronenstrahlstrombereich: 1 pA bis 400 nA Landungsenergiebereich: 20* eV – 30 keV Beschleunigungsspannungsbereich: 200 V – 30 kV Maximale horizontale Schützfeldbreite: 3,0 mm bei 7 mm WD und 7,0 mm bei 60 mm WD Ultrabreiter Blickfeld mit Standard-Navigationsclip (1 x)
Ionenoptische Systeme	Beschleunigungsspannung: 500 V – 30 kV Elektronenstrahlstrombereich: 1,5 pA – 65 nA 15 Position Licht Appendix Drift-Unterdrückungsmodus als Standardmodus für nicht leitende Proben Mindestlebensdauer der Ionenquelle: 1.000 Stunden Ionenstrahlauflösung: 3,0 nm bei 30kV bei Winkelauswahl
Detektoren	Trinity-Inspektionssystem (in den Spiegeln und in den Spektroskolonnen) T1 segmentierter Unterspiegel-Detektor T2 Spiegelditektor T3 ausdehnbarer Chromatografie-Kolumnendetektor (optional) Bis zu 4 gleichzeitige Signale Everhart-Thornley SE-Detektor (ETD) Hochleistungsstarke Ionenumwandlung und Elektronendetektoren (ICE) für Sekundärionen (SI) und Sekundärelektronen (SE) (optional) Ausdehnbarer, niedriger Spannung, hoher Kontrast, segmentierter, Solid State Reverse Spread Electronic Detector (DBS) (optional) Ausdehnbarer STEM 3+-Detektor mit BF/DF/HAADF-Segment (optional) IR-Kameras für Proben und Kammern anzeigen Navigationskamera Nav-Cam in der Kammer (optional) Integrierte Strahlstrommessung
Tragstelle und Proben	Flexible 5-Achs-Elektroplattform: XY-Bereich: 110 mm Z-Bereich: 65 mm Drehung: 360° (unbegrenzt) Neigungsbereich: -15° bis +90° XY-Wiederholbarkeit: 3 μm Maximale Probenhöhe: Abstand von 85 mm Maximales Probengewicht bei 0° Neigung: 5 kg (einschließlich Probenhalter) Maximale Probengröße: 110 mm bei Drehung (auch größere Proben, aber begrenzte Drehung möglich) Drehung und Neigung des Rechenzentrums

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