Leistungsanalysator

1.Produktübersicht:

mit B1506ALeistungsanalysatorZum Beispiel ist es eine komplette Lösung für die Konstruktion von Leistungsschaltkreisen125. Viele Parameter der Leistungseinrichtungen können unter verschiedenen Arbeitsbedingungen bewertet werden, wie z. B. bis zu Betriebsbereich von 3kV/1500A, IV-Parameter-Messung (Bruchspannung und Leitwiderstand), Messung von Drei-End-Kapazitäten (z. B. Ciss, Coss, Crss usw.) bei hoher Spannungsverschiebung, Gate-Ladung (Qg) und Stromverlust, Unterstützung für vollautomatische schnelle Wärmeprüfungen von -50 °C bis +250 °C usw.。

2.GerätAnwendung：

Forschungs- und Entwicklungsbereich: Hilfe für Ingenieure in der Konstruktionsphase von Leistungshalbleitern bei der präzisen Messung und Analyse verschiedener Eigenschaftsparameter von Geräten wie Leitwiderstand, Bruchspannung, Kapazitätseigenschaften, Torladung usw. zur Optimierung des Designs und zur Beschleunigung des Forschungs- und Entwicklungsprozesses。

Produktionskette: Für die Qualitätsprüfung und das Screening von Leistungsgeräten in großem Maßstab, um sicherzustellen, dass die Leistung und Qualität der Produkte den Standards entsprechen und die Produktivität und Produkteffizienz verbessern5。

Fehleranalyse: Wenn ein Leistungsgerät während des Gebrauchs ausfällt, kann das Gerät mit diesem Analyzer detailliert getestet und analysiert werden, um die Ursache und den Ort des Fehlers zu ermitteln und eine Grundlage für Verbesserungen und Reparaturen zu schaffen5. Beispielsweise ist die Prüfung von Leistungshalbleitern im "Tri-Power-System" für neue Energiefahrzeuge von entscheidender Bedeutung.

3. Ausrüstungsmerkmale

Genaue Messungen unter allen Arbeitsbedingungen

Integrierte Lösungen können bis zu Leistungseinrichtungen mit 1500 A und 10 kV für mittlere Strommessungen bei hoher Spannungsverschiebung (z. B. 500 mA bei 1200 V)μΩ-Leitwiderstandsmessung für präzise Piannestrommessungen bei hoher Spannungsverschiebung -50 °C bis +250 °C Vollautomatische Wärmeprüfung

Umfangreiche Gerätebewertungsfunktionen

In der Höhe 3000 VVollautomatische Kondensation (Ciss、Koss、CRSSusw.) Messung

kurz 10 μsHochleistungs-Impulsmessung

Verpackungsgeräte und Wafer IGBT und FETLadungsmessung

Für die Charakterisierung GaNHochspannung durch Stromabbruch/Großstrom-Schnellschaltmöglichkeiten

Bis zu fünf Hochdruck (3 kVSource-Tabelle-Kanäle, erhöhte Flexibilität

Sichere temperaturbezogene Tests durch Testklammern mit Verriegelungseinrichtungen

Höhere Messeffizienz

Schalten Sie zwischen Hochspannungsmessung und Strommessung ohne erneute Kabelverbindung

Automatische Bildung von Prüfschaltungen zur Prüfung der Transistor-Kondensanz von Verpackungs- und Wafer-Geräten (Ciss、Koss、CRSS、Cgs、Cgd、CDswarten)

Testklammern mit Verriegelungseinrichtung zur sicheren Prüfung von verpackten Leistungseinrichtungen

Hochleistungstests auf Wafer mit Unterstützung und Sicherheit, Strom über 200 ASpannung bis zu10 kV

Mit der Oszilloskopansicht können Sie die eingegebenen Spannungs- und Stromwallenformen überprüfen

in MS WindowsBetrieb in der UmgebungEasyEXPERTSoftware hilft bei der Verbesserung des Datenmanagements und der Datenanalyse

Erweiterbare und skalierbare Hardware-Architektur

Viele Messmodule zur Auswahl

Unterstützt bis zu 6 Hochleistungsgerät mit einem Pin