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E-Mail-Adresse
Wayne.Zhang@Sikcn.com
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Telefon
13917975482
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Adresse
7. Etage, Gebäude 7, Zhangjiang Microelectronics Port, 690 Bipo Road
Xingyuan Wissenschaftliche Instrumente (Shanghai) Co., Ltd.
Wayne.Zhang@Sikcn.com
13917975482
7. Etage, Gebäude 7, Zhangjiang Microelectronics Port, 690 Bipo Road

Als vollständige AnnahmeDas hochgeschwindigkeits- und hochwertige Inspektionsgerät von 3D-CT, das VT-X750, wird weit verbreitet für die zerstörungsfreie Inspektion von 5G-Infrastruktur/Modulen und Elektrokomponenten in Fahrzeugen sowie für Luft- und Raumfahrt, IndustrieIndustriegeräte, Halbleiter usw. In den letzten Jahren wurde dieses Modell für Elektrofahrzeuge eingesetzt.Leistungsgeräte wie IGBTs und MOSFETs, Schweißinnenblasen für Mechatronikprodukte, DurchlochungenÜberprüfung der Schweißfüllung der Steckverbinder etc.
Anwendbare Produkte:
BGA/CSPEinfügen von Komponenten,SOP/QFPTransistoren,R/CChips, untere Elektrodenelemente,QFNStrommodule,POPundpress-fitSteckverbinder usw.
Prüfen Sie Elemente:
Blasen, offenes Schweißen, keine Eindringung, Schweißmenge, Verschiebung, Brücken, Ziehen, Durchlochschweißzinnfüllung, Zinnperlen usw.(Auswahl nach Prüfobjekt möglich)
Kernwerte:
✓ OnlineVollbild-High-Speed-Scan
Branchenführer Xian3D-CT-Technologie zur Realisierung von Vollplattenkomponenten (einschließlich BGA/Stecker/Chip usw.)Online100% beschädigungsfreie PrüfungGeschwindigkeit der früheren Generation (VT-X700Mehr als doppelt→Vollständige Inspektion von M-Größe-Substraten in nur wenigen Minuten (mit 2000+ Pins BGA/SiP)
✓Schweißfestigkeitsvisualisierung
Du HausDer 3D-CT-Algorithmus quantifiziert die Schweißform präzise und ermöglicht:
•Schweißblasen/ Scheißschweißen / Brücken / Zinnklappen usw.Mängelerkennung auf Mikronenstufe
•Schnelle Qualitätsprüfung beim Produktionsschalten und Beseitigung von Konstruktionseinschränkungen
✓Intelligentes Assistenzsystem |
✓ Sichere Zero-Stop-Garantie |
• Automatische BestimmungOK/NG (AI + quantitativer Doppelstandard) |
• Strahlungsreduzierungstechnik (Standardfilter)+ Hochgeschwindigkeits-Scan |
• Intelligente Erzeugungsprüfung (Automatische Konvertierung von CAD-Daten |
• Bestrahlungssimulator für Komponenten, der Risiken vorhersagt |
• Optimale Parametersimulation (Beat)Adaptive Strahlungsoptimierung) |
• Unterstützung für die globale Fernüberwachung |

Technische Daten:
Projekt |
Inhalt |
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Modell |
Der VT-X750 |
VT-X750-XL |
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Typ |
V3-H |
V3-C |
V2-H |
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Auflösung |
6~30μm einstellbar |
6~30μm einstellbar |
10~30μm einstellbar |
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Objekt-Substrat |
Grundplattengröße |
50×50~610 × 515mm Dicke:0.4~5,0 mm (Auflösung3 μmZeit0.4~3,0 mm) |
100×50~1200 × 610mm Dicke:0.4~15,0 mm |
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Substratgewicht |
4,0 kgFolgendes,8,0 kgFolgendes:(*Optionen) |
15 kgFolgendes: |
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Verzerrt |
2,0 mmFolgendes:(Auflösung3 μmZeit1,0 mmFolgendes:) |
3,0 mmFolgendes: |
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