K-Alpha Röntgenoptoelektronisches Spektrometersystem

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Das K-Alpha Röntgenoptoelektronische Spektrometersystem ist ein hocheffizienter Elektronenlinsen-, Halbkugelanalysator- und Detektor, der die Erkennung und schnelle Datenerfassung des K-Alpha Röntgenoptoelektronischen Spektrometers ermöglicht.

Produktdetails

K-Alpha Röntgenoptoelektronisches Spektrometersystem

K-Alpha Röntgenoptoelektronisches SpektrometersystemRöntgenoptoelektronisches Spektrum für leistungsstarke Oberflächenanalysen

Das Röntgenoptoelektronische Energiespektrometer (XPS) K-Alpha von Thermo Scientific bietet einen neuen Ansatz für die Oberflächenanalyse. Das K-Alpha XPS-System konzentriert sich auf die Bereitstellung qualitativ hochwertiger Ergebnisse mit vereinfachten Workflows, die die Bedienung von XPS einfach und intuitiv machen, ohne die Leistung oder Funktionalität zu beeinträchtigen. Das K-Alpha XPS-System ist ein integriertes einfarbiges Small Spot XPS-System mit einer Tiefenanalyse.

Fortgeschrittenere Leistung, niedrigere Preise, einfachere Bedienung und größere Probenvolumen machen das K-Alpha XPS-System zur idealen Wahl für Multi-User-Umgebungen. Das K-Alpha XPS-System ermöglicht es Forschern auf der ganzen Welt, Oberflächenanalysen durchzuführen.

Eigenschaften des K-Alpha Röntgenpotoelektronenspektrometers

Hochleistungsstarke Röntgenquelle

Das mit dem K-Alpha Röntgenpotoelektronenspektrometer ausgestattete Röntgenmonochrom ermöglicht eine Auswahl von 5 µm in einem Analysebereich von 50 µm bis 400 µm, um das gewünschte Signal zu finden.

Beispielansicht

Mit dem optischen Beobachtungssystem des K-Alpha XPS Systems und XPS SnapMap können Sie die Proben schnell fokussieren, um den Analysebereich zu bestimmen.

Tiefenanalyse

Eine tiefere Oberflächenanalyse erfolgt mit der EX06-Ionenquelle, die mit dem K-Alpha Röntgenpotoelektronenspektrometer ausgestattet ist. Leistung und experimentelle Reproduzierbarkeit durch automatische Quellenoptimierung und Gasbehandlungsfunktionen.

Optionale Probentasche

Eine Vielzahl von speziellen Probenständen zur Auswahl, die zum K-Alpha-Röntgenpotoelektronenspektrometer passen, einschließlich für den Winkelwechsel XPS, Proben-plus-Biasdruck-Test oder den inerten Transfer von Proben aus Handschuhkasten und vieles mehr.

Ausgezeichnete elektronische Optik

Hocheffiziente elektronische Linsen, Halbkugelanalysatoren und Detektoren ermöglichen die Erkennung und schnelle Datenerfassung des K-Alpha Röntgenoptoelektronenspektrometers.

Isolierungsprobenanalyse

Im K-Alpha-Röntgenpotoelektronenspektrometer koppelt die erhaltene Doppelstrahlelektronenquelle einen niederenergetischen Ionenstrahl an ein Elektronen mit niedriger Energie (weniger als 1 eV), um eine Ladung der Probe während der Analyse zu verhindern und somit den Ladungseffekt in den meisten Fällen zu eliminieren.

Digitale Steuerung

Die intuitive Bedienung durch Avantage Data Systems macht das K-Alpha XPS System zur idealen Wahl für Multi-User, Testzentren und XPS-Experten, die sich auf einen effizienten Betrieb und hohe Testmengen konzentrieren.

K-Alpha XPS Systemleistungsdaten

Analysatortyp	180° Doppelfokuss-Hemisphärenanalysator, 128-Kanäle-Detektor
Röntgenquelle Typ	Einfarbige, mikrofokussierte, leistungsstarke Al K-Alpha-Röntgenquelle
Röntgenfleckgröße	50-400 µm (5 µm einstellbar)
Tiefenanalyse	EX06 Ionenquelle
Maximale Probenfläche	60x60 mm
Maximale Probendicke	20 mm
Vakuumsystem	Zwei Turbomolekularpumpen mit automatischer Titansublimationspumpe und mechanischer Pumpe
Optionales Zubehör	ADXPS Probenhalter, Arbeitsfunktion Probenhalter, Handschuh Box

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