Helios 5 Laser PFIB System

FIB SEM Laserwerkzeug zum Querschnitt im Millimetermaßstab mit hohem Durchsatz und zur 3D-Charakterisierung mit Nanometerauflösung

Die Thermo ScientificHelios 5 Laser PFIB Systemkombiniert die erstklassige monochromierte Elstar Scanning Electron Microscopy (SEM)-Säule mit einem plasmafokussierten Ionenstrahl (PFIB) und einem Femtosekundenlaser, um ein hochauflösendes Bild- und Analysewerkzeug mitvor OrtAblationsfähigkeit, die beispiellose Materialentfernungsraten für eine schnelle Charakterisierung im Millimeter-Maßstab bei Nanometer-Auflösung bietet.

Hauptmerkmale

Schnelle Materialentfernung

Millimetercherschnitte mit bis zu 15.000x schnellerer Materialentfernung als ein typischer Galliumfokusierter Ionenstrahl.

Genaue und wiederholbare Schnittplatzierung

Der gleiche übereinstimmende Punkt für alle 3 Strahlen (SEM/PFIB/Laser) ermöglicht eine genaue und wiederholbare Schnittplatzierung und 3D-Charakterisierung.

Hochdurchsatzbearbeitung anspruchsvoller Materialien

Enthält nicht leitende oder Ionenstrahlempfindliche Proben.

Teilet alle Funktionen der Helios 5 PFIB-Plattform

Hochwertige galliumfreie TEM- und APT-Probenvorbereitung und hochauflösende Bildgebungsmöglichkeiten.

Statistisch relevante Untersurf- und 3D-Datenanalyse

Erhalten Sie Daten für viel größere Volumen in kürzerer Zeit.

Schnelle Charakterisierung tiefer unterirdischer Merkmale

Extraktion von unterirdischen TEM-Lamellen oder Stücken zur 3D-Analyse.

Schnelle und einfache Charakterisierung luftempfindlicher Proben

Es ist keine Notwendigkeit, Proben zwischen verschiedenen Instrumenten zur Bildgebung und zum Querschnitt zu übertragen.