Helios 5 Hydra DualBeam Mikroskop

Helios 5 Hydra DualBeam MikroskopPlasmafokussierte Ionenstrahlscannelektronenmikroskopie mit mehreren Ionentypen für die 3D-EM- und TEM-Probenvorbereitung

Thermo Scientific Helios 5 Hydra DualBeam (Plasmafokussiertes Ionenstrahlscannelektronenmikroskop, kurz PFIB-SEM) bietet vier verschiedene Ionentypen als Hauptstrahl an und ermöglicht Ihnen die Auswahl von Ionen, die die besten Ergebnisse für Proben und Anwendungsfälle liefern, wie z. B. Probenvorbereitung und 3D-Materialcharakterisierung mit Scan-Durchlaufelektronenmikroskopen [STEM] und Durchlaufelektronenmikroskopen [TEM].

Sie können in weniger als zehn Minuten einfach zwischen Argon, Stickstoff, Sauerstoff und Xenon wechseln, ohne die Leistung zu beeinträchtigen. Diese Flexibilität erweitert die Anwendungsmöglichkeiten von PFIB erheblich und ermöglicht die Optimierung bestehender Anwendungsfälle durch die Untersuchung von Ionen-Proben-Wechselwirkungen.

Helios 5 Hydra DualBeam kombiniert die innovative neue Poly-Ion-Typ-Plasma-FIB-Säule (PFIB) mit der monochromatischen Thermo Scientific Elstar UC+ SEM-Chromatografie-Säule, um fortgeschrittene fokussierte Ionen- und Elektronenstrahlenleistungen zu bieten. Die intuitive Software und das Automatisierungsniveau und die Benutzerfreundlichkeit ermöglichen die Beobachtung und Analyse der relevanten Unterflächenvolumentinformationen.

Helios 5 Hydra DualBeam MikroskopHauptmerkmale

Breite Anwendungsfläche

Die Ionenquellen bieten die folgenden vier schnellen, wechselbaren Ionentypen für die breitesten Anwendungsbereiche: Xe, Ar, O, N

Fortgeschrittene Automatisierung

Mit der optionalen AutoTEM 5-Software können Sie auf schnellste und einfachste Weise mehrere Punkte automatisierenStandortundNicht vor OrtTEM Probenvorbereitung und Kreuzschneiden

Kurze Implementierungszyklen auf Nanoskale

Mit SmartAlign- und FLASH-Technologien können Anwender aller Erfahrungsstufen in kürzester Zeit Informationen im Nanoskala erhalten

Elektronen- und Ionenstrahl induzierte Ablagerung und Ätzung

Elektronen- und Ionenstrahlinduzierte Ablagerung und Ätzfunktion auf DualBeam-Systemen mit optionalen Thermo Scientific MultiChem- oder GIS-Gasfördersystemen.

Kein falsches Bild

Basierend auf integriertem Probenreinigkeitsmanagement und speziellen Bildverarbeitungsmodi wie SmartScan und DCFI

Hoher Durchsatz und hohe Qualität

Verwenden Sie die nächste Generation von 2,5 μA Plasma-FIB-Chromatogrammkolonnen für eine hohe Durchfluss-, qualitativ hochwertige und statistisch relevante 3D-Charakterisierung, Kreuzschneiden und Mikrobearbeitung.

Qualitativ hochwertige Probenvorbereitung

Dank der neuen PFIB-Chromatografie-Säule, die eine 500 V-Endpolierung und eine ausgezeichnete Leistung unter allen Betriebsbedingungen ermöglicht, können hochwertige galliumfreie TEM- und APT-Proben mit Xenon, Argon oder Sauerstoff hergestellt werden.

Vollständige Probeninformationen

Die vollständigsten Probeninformationen für klare, präzise und ladungsfreie Kontraste erhalten Sie mit bis zu sechs integrierten Sonden, die in die Chromatografie-Säule und unter der Linse integriert sind

Genaue Probennavigation

Dank der hohen Stabilität und Genauigkeit des 150-mm-Tragstechns oder der Flexibilität des 110-mm-Tragstechns sowie der optionalen Thermo Scientific Nav-Cam-Kamera in der Kammer können Sie sich an die spezifischen Anwendungsanforderungen anpassen.