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Sugijung Science Park, 418 Huajing Road, Pudong New District, Shanghai
Tongcheng Instrument (Shanghai) Co., Ltd.
15921165535
Sugijung Science Park, 418 Huajing Road, Pudong New District, Shanghai
XULM eignet sich besonders für die Messung kleiner Bauteile wie Steckverbinder, Kontakte oder Leitungen sowie für die Messung von Au-, Ni- und Cu-Beschichtungsdicken auf gedruckten Leiterplatten. Selbst sehr dünne Goldbeschichtungen von 80 nm können mit einem Strahlenrichter mit einem Messpunkt von Ø0,25 mm mit einer wiederholbaren Genauigkeit von bis zu 2,5 nm in 20 Sekunden gemessen werden. Die FISCHERSCOPE X-RAY XULM-Serie ist ein leistungsstarker, kompakter und weit verbreiteter Röntgenfluorescenzbeschichtungs- und Materialanalysator. Häufig verwendet, um die Beschichtungsdicke und die Materialanalyse auf kleinen Werkstücken ohne Verlust zu messen. Besonders geeignet für die Messung in der Qualitätskontrolle, der Zulieferungsprüfung und der Produktionsprozesskontrolle. Die FISCHERSCOPE X-RAY XULM-Serie ist ein benutzerfreundliches Tischmessgerät mit einem manuellen XY-Achsarbeitstisch für die präzise Positionierung kleiner Proben.
Mehrzweckbeschichtungsdickenmesser. Ob dünne oder dicke Beschichtungen wie 50 nm Au oder 100 μmSn werden gut gemessen, indem eine gute Hochdruckfilterkombination ausgewählt wird. Mikrofokussrohre können Messpunkte von bis zu 100 μm in sehr kurzen Messabständen erreichen. Die Zählraten von bis zu mehreren Kbps können vom proportionalen Empfänger empfangen werden. Für Fischerscope ® Bei den X-RAYXUL- und XULM-Serien befinden sich Röntgenquelle und -empfänger unterhalb der Messkammer, so dass die Positionierung der Probe schnell und einfach möglich ist. Darüber hinaus unterstützen die Videofenster die Positionierung und die große Konsole vor dem Gerät vereinfacht den Betrieb, insbesondere bei der Messung großer Teilemengen in der täglichen Produktion. Trotz der kompakten Konstruktion verfügen diese Geräte über große Messkammern, so dass auch große Gegenstände gemessen werden können. Durch die notzte Gestaltung des Gehäuses (C-Schlitz) können große, flache Proben wie z. B. Leiterplatten gemessen werden, auch wenn diese möglicherweise nicht vollständig in den Messraum platziert werden können, wenn die Proben direkt auf einen flachen Stütztisch oder auf einen manuellen XY-Arbeitstisch mit höherer Positionierungsgenauigkeit platziert werden.

Sowohl XUL als auch XULM sind mit proportionalen Empfängern ausgestattet; Aber die Röntgenröhre, Filter und Gleichrichter, mit denen sie ausgestattet sind, sind anders. Der billige und langlebige XUL ist mit einem Gleichrichter und einem festen Filter ausgestattet. Die eingebauten Standard-Röntgenröhren erzeugen einen größeren Grundstrahlenstrahlen; Daher beträgt der kleinste verfügbare Gleichrichter 0,3 mm. Basierend auf der Diffusion des Lichts beträgt der kleinste Messpunkt etwa 0,7 mm – 1 mm.
□ Röntgenröhre mit Glasfenster und Wolframmzielen oder mikrofokussierte Röntgenröhre mit Berylliumfenstern und Wolframmzielen. * Hohe Arbeitsbedingungen: 50KV, 50W
□ Röntgendetektor mit proportionalen Empfängern
□ Gleichrichter: Fest oder 4 automatische Schalter, 0,05 x 0,05 mm bis Ø 0,3 mm
□ Grundfilter: Fest oder 3 automatische Schalter
□ Der Messabstand kann im Bereich von 0-27,5 mm eingestellt werden
□ Fester Probenstütztisch oder manueller XY-Arbeitstisch
□ Die Kamera wird verwendet, um die Messposition der Grundstrahlenauchsrichtung zu sehen. Die Skalierlinie wurde kalibriert, um die tatsächliche Messpunktgröße anzuzeigen.
□ Genehmigte Konstruktion, umfassender Schutz, gemäß Kapitel 4 Absatz 3 der Röntgenverordnung
Messung von Beschichtungen wie Au/Ni/Cu/PCB oder Sn/Cu/PCB in der Leiterplattenindustrie
□ Beschichtungsmessung von Stecker und Kontakten für die Elektronikindustrie
□ Dekorative Beschichtung Cr/Ni/Cu/ABS
□ Massenproduktionsteile (Schrauben und Muttern) Korrosionsschutzbeschichtungsmessung wie Zn/Fe, ZnNi/Fe
Schmuck- und Uhrenindustrie
□ Messung des Metallgehalts in der Beschichtungsschlitze