Elektrochemische Arbeitsstationen für Mikrozonenscanning von Bio-Logic in Frankreich

Elektrochemische Arbeitsstationen für Mikrozonenscanning von Bio-Logic in Frankreich- MikroskopEs ist das von Uniscan Instruments entwickelte Scansondensystem der vierten Generation mit höheren Spezifikationen und mehr Sondenechnik.

Elektrochemisches Mikrosystem (SECM)

AC-Scan Elektrochemisches Mikroskopsystem (ac-SECM)

Intervallkontakt-Scan-Elektrochemisches Mikroskopsystem (ic-SECM)

Mikrozonale elektrochemische Impedanzprüfsysteme (LEIS)

Scanning Vibration-Klick-Testsystem (SVET)

Elektrolytmikrotropfen-Scan-System (SDS)

Mikrotropfenscannsystem für Wechselstromelektrolyte (ac-SDS)

Scan Kelvin Probe Testsystem (SKP)

Berührungsloses Mikrozonenprüfsystem (OSP)

Ausgezeichnete Leistung

Das schnelle und präzise geschlossene Positionierungssystem wurde speziell für die Anforderungen der nanoskaligen Forschung mit elektrochemischen Scansonden entwickelt. In Kombination mit der hybriden 32-Bit-DAC-Technologie von Uniscan* können Anwender die geeignete Konfiguration* für experimentelle Studien auswählen.

Fortgeschrittene und flexible Arbeitsplattform

Das System bietet neun Sondenechnologien, die die M470 zu einer flexiblen Plattform für elektrochemische Scan-Beachstadten machen.

Komplettes Zubehör

Optional sind sieben Module, drei verschiedene Elektrolytenpools, verschiedene Sonden, Langstreckenmikroskop und Nachbearbeitungsdatenanalyse-Software.

Elektrochemische Arbeitsstationen für Mikrozonenscanning von Bio-Logic in Frankreich- MikroskopProdukteigenschaften

SECM Automatische Bearbeitungskurven

SECM Benutzerdefinierte Bearbeitungskurvenschrittänderungen

Hochauflösendes Lesen

Manuelle oder automatische Phaseneinstellung

M470 verfügt über folgende Eigenschaften:

Neigungskorrektur

X- oder Y-Kurven-Reduktion (5. Reihe Polynomen)

Schnelle Fourier-Veränderungen in 2D oder 3D

Automatische Sortierung von Experimenten, Sondenbewegungen und Bereich-Zeichnungen

Grafische Experimentale Sequenzierungsmaschine (GESE)

Unterstützung für Multi-Region-Scans

Mehrere Datenansichten für alle Experimente

Spitzenanalyse

Technische Parameter

Arbeitsstationen (alle Technologien)

Scanbereich (x, y, z) größer als 105 nm

Scan-Treiber-AuflösungZui hoch0,1 nm

Closed-Loop-Positionierung Linearer Zero-Delay-Encoder mit direktem Echtzeit-Auslesen von x-, z- und y-Verschiebungen

Achsoplösung (x, y, z) 20nm

Zui Scangeschwindigkeit 12,5 mm/s

Messauflösung 32-Bit-Decoder @ bis zu 40MHz

Pinezoelektrik (IC- und AC-Scan-Sondenechnik)

Schwingungsbereich 20nm ~ 2μm Zunahme von 1nm zwischen Spitzen und Spitzen

Zui Kleine Vibrationsauflösung 0,12 nm (16-Bit DAC, 4 μm)

Piezokristalldehnung 100μm

Positionierungsauflösung 0,09 nm (20-Bit DAC, 100 μm)

Elektromechanik

Scanfront 500 × 420 × 675mm (H × B × D)

Scansteuerung 275 x 450 x 400 mm (H x B x D)

Leistung 250W