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Tongcheng Instrument (Shanghai) Co., Ltd.
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Fluoreszenzbeschichtungsdickenmesser Fischer XDAL 237

VerhandlungsfähigAktualisieren am01/02
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Übersicht
Das Fischer XDAL 237 Röntgenfluorescenzmesser mit einer schnell programmierbaren XY-Plattform und Z-Achse ermöglicht die automatische Messung der Dünnschichtdicke und die Materialanalyse.
Produktdetails

Produktbeschreibung


Die FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-Geräte können zur Messung des Bleigehalts in SnPb-Schweißschichten verwendet werden. In dieser Anwendung muss zunächst die Dicke von SnPb genau gemessen werden, um den Pb-Gehalt zu analysieren. In Übereinstimmung mit den Anforderungen an hohe Zuverlässigkeit in der Luft- und Raumfahrtindustrie muss der Gehalt an Pb in der Legierung mindestens über 3% sein, um Risse zu vermeiden. Auf der anderen Seite kann der Gehalt an Pb im Schweißstoff * nach den Anforderungen der RoHS-Richtlinie für die tägliche Verwendung von Elektronikprodukten nicht mehr als 1000 ppm betragen. Obwohl die Messgrenze für die Messung des Pb-Gehalts durch XDAL von der Dicke der SnPb-Beschichtung abhängt, ist die Messgrenze von XDAL in der Regel niedrig genug, um die oben genannten Messanforderungen leicht zu erreichen.


Mit Motorantrieb (optional) und Messrichtung von oben nach unten ermöglichen die Messgeräte der XDL-Serie automatisierte Serientests. Eine Vielzahl von Modellen in verschiedenen Kombinationen von Röntgenquellen, Filtern, Rectifikatoren und Detektoren ermöglicht die Auswahl der passenden Röntgeninstrumente für unterschiedliche Messanforderungen. Das FISCHERSCOPE XRAY XDAL-Gerät entspricht dem XDLM-Gerät. Der Unterschied besteht darin, dass die verwendeten Detektoren unterschiedlich sind. Bei XDAL wird ein Silizium-PIN-Detektor mit Pallet-Kühlung verwendet, was eine deutlich bessere Energieauflösung bietet als bei den Proportionzählern mit XDLM. Daher eignet sich dieses Gerät für die allgemeine Materialanalyse, Spurenelementanalyse und die Messung der Dünnschichtdicke.



含铅量测试

PCB-Montage: Blei-Test

速钢钻头:TiN/Fe

Hochgeschwindigkeitsstahlbohrer: TiN/Fe

在电子元器件中测量Pb含


Hohe Zuverlässigkeit: Messung des Pb-Gehalts in Elektronikkomponenten (>3%)

刀具检测

Werkzeug: TiN/Fe


Eigenschaften:

Röntgenfluorescenzinstrumente können mit einer Vielzahl von Hardwarekombinationen ausgestattet werden, um eine Vielzahl von Messaufgaben zu erfüllen.
Da der Messabstand einstellbar ist (* bis zu 80 mm), eignet es sich für die Prüfung von gewebten Bauteilen. Komponenten von Leiterplatten oder Hohlraumstrukturen
Automatisierte Serientests mit programmierbarem XY-Arbeitstisch und Z-Achse (optional)
Verwenden Sie Siliziumdriftdetektoren mit hoher Energieauflösung, ideal für die Messung von ultradünnen Beschichtungen (XDAL-Geräte)

Beschichtungsdickenmessung:

. Beschichtungsmessung auf großen und flexiblen Leiterplatten
. Dünnere Leiter- und/oder Isolationsschichten auf der Leiterplatte
Beschichtungen auf Produkten mit komplexen Geometrien
Chrombeschichtungen, wie z. B. dekorativ verchromte Kunststoffprodukte
Messung der Dicke von harten Beschichtungen wie Chromnitrid (CrN), Titannitrid (TiN) oder Titanstickstoffcarbid (TiCN)

Materialanalyse:

. Elektroplatierungsflüssigkeitsanalyse
Funktionale Beschichtungsanalyse in der Elektronik- und Halbleiterindustrie


Anwendungsbeispiele:

Die FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-Geräte können zur Messung des Bleigehalts in SnPb-Schweißschichten verwendet werden. In dieser Anwendung muss zunächst die Dicke von SnPb genau gemessen werden, um den Gehalt an Pb zu analysieren. In Übereinstimmung mit den Anforderungen an hohe Zuverlässigkeit in der Luft- und Raumfahrtindustrie muss der Gehalt an Pb in der Legierung mindestens über 3% sein, um Risse zu vermeiden. Auf der anderen Seite kann der Gehalt an Pb im Schweißstoff * nach den Anforderungen der RoHS-Richtlinie nicht mehr als 1000 ppm betragen. Obwohl die Messgrenze für die Messung des Pb-Gehalts mit XDAL von der Dicke der SnPb-Beschichtung abhängt, ist die Messgrenze mit XDAL in der Regel niedrig genug, um die oben genannten Messanforderungen leicht zu erfüllen.