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Sugijung Science Park, 418 Huajing Road, Pudong New District, Shanghai
Tongcheng Instrument (Shanghai) Co., Ltd.
15921165535
Sugijung Science Park, 418 Huajing Road, Pudong New District, Shanghai
Das Röntgenfluorescenzmesser für die schnelle verlustfreie Analyse von Gold- und Silberlegierungen sowie die Messung von Beschichtungsdicken ist das Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220, ein optimiertes Röntgenfluorescenzmessgerät für die verlustfreie Analyse von Schmuck, Münzen und Edelmetallen. Es eignet sich besonders für die Analyse der Zusammensetzung und der Beschichtungsdicke von Edelmetallen und deren Legierungen. Bis zu 24 Elemente im Bereich von Chlor (17) bis Uran (92) können gleichzeitig gemessen werden. Die FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220 und XAN 222 entsprechen DIN ISO 3497 und ASTM B568. Wir betreiben auch die Import neuer Geräte von weltberühmten Marken wie Taylor Hobson in Großbritannien, gearSpect Group in der Tschechischen Republik, Helmut Fischer in Deutschland, EPK in Deutschland, InnovaTest in den Niederlanden, TRIMOS in der Schweiz, Olympus in den USA, Raytek in den USA und andere weltberühmte Hersteller wie Rauheitsmesser, Zylindergetriebsmesser, Beschichtungsdickenmesser, verschiedene Härtemesser, Höhenmesser, Ultraschallproben, DO-2 K PC-Kegelgetriebe-einseitiges Engagement-Messgerät usw. Willkommen für eine Nachricht oder Anruf!
• Die Messrichtung von unten nach oben ermöglicht eine einfache Positionierung der Probe
Alle Fischer Röntgensysteme zeichnen sich durch eine hervorragende Präzision und langfristige Stabilität aus. Die Notwendigkeit der Neukalibrierung wird erheblich reduziert und spart Zeit und Aufwand. Moderne Siliziumdriftdetektoren ermöglichen eine hohe Präzision und eine gute Erkennungsempfindlichkeit. Die grundlegende Parametermethode von Fischer ermöglicht die Analyse von festen und flüssigen Proben sowie Beschichtungssystemen ohne Kalibrierung. Xan220 ist ein benutzerfreundliches Desktop-Instrument. Die Positionierung der Proben ist schnell und einfach. Die Röntgenquelle und die Halbleiterdetektorkomponente befinden sich im unteren Teil des Instruments, daher beginnt die Messrichtung unter der Probe, die von einem transparenten Fenster unterstützt wird.
| Erwartungszweck |
Energy Dispersion X-ray Messgeräte (ED XRF) zur Analyse der Zusammensetzung und der Beschichtungsdicke von Edelmetallen und Legierungen. |
| Elementbereich |
Schwefel S(16) bis Uran U(92) – bis zu 24 Elemente gleichzeitig |
| Wiederholbarkeit |
Für Gold ≤ 0,5 ‰, Messzeit 60 Sekunden |
| EinrichtenGesamt |
Desktop-Einheit mit nach oben geöffneter Abdeckung |
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TestenMengenrichtung |
Von unten nach oben |
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XStrahlenröhre |
Mikrofokuswolfram-Rohr mit Beryllium-Fenster |
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Hochspannung |
3Schritte:30 kV,40 kV,50 kV; * Großer Anodenstrom: 1 mA |
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Öffnung (Straightgauge)) |
Ø 1 mm (39 Mils), 可选 Ø 2 mm (79 mils) oder Ø 0,6 mm (23,6 mils) |
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Messpunkte |
Ø 1,2 mm (47 mils) mit Öffnung Ø 1 mm (39 mils)Flachprobe (Messabstand 0 mm) |