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Tongcheng Instrument (Shanghai) Co., Ltd.
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Fluoreszenzbeschichtungsdickenmesser FISCHERSCOPE XDV-SDD

VerhandlungsfähigAktualisieren am01/02
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Das XDV-SDD ist eines der leistungsstarksten Röntgenfluorescenzinstrumente der FISCHER-Produkte. Es ist mit einem speziell vergrößerten Siliziumdriftdetektor (SDD) ausgestattet. Die 50mm? Detektorfenster sorgen für eine schnelle und präzise Messung von Messpunkten auch auf kleinen Flächen
Produktdetails

Produktbeschreibung


Der XDV-SDD hat einen großen Messraum und ist bequem zu platzieren. Sie können ebene Proben oder große Proben mit komplexen Formen platzieren. Die kontinuierliche Prüfung oder die Messung der Beschichtungsdicke und der Elementverteilung können problemlos mit einem schnell programmierbaren XY-Arbeitstisch durchgeführt werden. Die Bedienung ist sehr benutzerfreundlich, die Messtür ist einfach zu öffnen, das vordere Steuerpanel des Instruments verfügt über eine Vielzahl von Funktionen und die tägliche Verwendung ist einfach und bequem.


Das XDV-SDD ist eines der leistungsstarksten Röntgenfluorescenzinstrumente der FISCHER-Produkte. Es ist mit einem speziell vergrößerten Siliziumdriftdetektor (SDD) ausgestattet. Die 50mm? Detektorfenster sorgen für eine schnelle und präzise Messung von Messpunkten auch auf kleinen Flächen. Darüber hinaus sind die Geräte mit verschiedenen Filtern ausgestattet, um optimale Anregungsbedingungen für verschiedene Messaufgaben zu schaffen. Die FISCHERSCOPE XRAY XDVSDD-Geräte sind mit einem Siliziumdrift-Empfänger mit großem Induktionsbereich und guter Auflösung ausgestattet, so dass eine hohe Zählrate bei Verwendung eines großen Straighteners erreicht werden kann, was eine gute Wiederholungsgenauigkeit und eine sehr niedrige Untersuchungsgrenze ermöglicht. Der XDV-SDD eignet sich hervorragend für die Messung von ultradünnen Beschichtungen in der Spuranalyse. Durch die erhöhte Empfindlichkeit für niedrige Energiestrahlung erweitert sich der Bereich der messbaren Elemente auch "auf Elemente mit niedrigerer Atomzahl, so dass Phosphor oder Aluminium in der Luft zuverlässig gemessen werden können".



Anwendungsbeispiele:

Gesetzliche Vorschriften beschränken streng den Gehalt einer Vielzahl von gefährlichen Substanzen wie Elektronikkomponenten, Spielzeug oder Verpackungsmaterialien. Die XDV-SDD ermöglicht eine schnelle und einfache Erkennung der Einhaltung dieser Einschränkungen. Zum Beispiel werden besonders wichtige chemische Elemente wie Pb, Hg und Cd auf nur wenige ppm gemessen.


Gefährliche Stoffe in Metallen wie Pb, Cd in Aluminiumlegierungen

Spielzeug: Detektion von Pb, Cd, Hg


Eigenschaften:

. Mikrofokussiertes Röntgenrohr mit Beryllium-Fenster und Tungsten-Palladium. * Hohe Arbeitsbedingungen: 50kv, 50W
. Der Röntgendetektor verwendet einen Perther-gekühlten Siliziumdriftdetektor
. Gleichrichter: 4, automatisch schaltbar, von 0,1 mm bis 3 mm Durchmesser
Basisfilter: 6 programmierbare XY-Plattformen, die automatisch mit Popup-Funktion umschaltet werden können
Die Videokamera kann verwendet werden, um die Messpositionen in Echtzeit zu sehen, es gibt kalibrierte Skalen am Kreuz und die tatsächliche Größe des Messpunkts wird im Bild angezeigt.
Genehmigte Konstruktion, umfassender Schutz, gemäß Kapitel 4 Absatz 3 der Röntgenverordnung

Typische Anwendungsbereiche:

Messung von ultradünnen Beschichtungen, z. B. in der Elektronik- und Halbleiterindustrie
Spuranalyse, z.B. Nachweis gefährlicher Stoffe gemäß RoHS, Spielzeug- und Verpackungsrichtlinie
Hochpräzise Gold- und Edelmetallanalyse für die Photovoltaikindustrie
. Messung der Dicke und Zusammensetzung der NiP-Schicht