Blue Bank Sondenstation M-Serie

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Kenntnisse über die Kerntechnologie der Wafer-Inspektion - Fokus auf den Bereich der Halbleitersondenprüfung

Produktdetails

LANANtek MSerie Sonden
Hauptmerkmale ●Optionale Testumgebung mit hoher Temperatur ●Optionales Zylinder-, Körper- oder Metallmikroskop ●Fahrzeuge könnenZAchsen heben ●LaststelleThetaGrößer360°Fine-tuning±7° ●LaststelleXYDie mobile Auflösung ist1um ●Optionale Hochdruck-Hochstrom-Testumgebung ●Schnelle Montage und beliebige Positionssperrung ●Stabile Mikroskopbrücke mit beweglicher Auflösung2umPneumatischer Aufstieg des Mikroskops	Optionales Zubehör ●RF-Prüfsonden und -Kabel ●Niedriger Leckstrom/Kapazitätsprüfung ●Laser Reparatur ●Sondekarte/Verpackung/ PCBPlattenbehälter ●Aktive Sonden ●Hochspannungs-Hochstrommodule ●HD Digitalkamera ● Hot Chuck ●Horizontaleinrichtung für den Tragstisch
Anwendungsbereich ● AusfallanalyseAusfallanalyse integrierter Schaltungen ● Zuverlässigkeit auf Wafer-EbeneZuverlässigkeit Zertifizierung ● Charakterisierung des GerätesMessung der Komponenteigenschaften ● ProzessmodellierungPlastische Prozessprüfung(Analyse der Materialeigenschaften) ● IC ProzessüberwachungÜberwachung erstellen ● Paket Teil Probing ICKabelqualitätsprüfung in der Verpackungsphase ● ESD&TDR Prüfung ESDundTDRTest ● MikrowellensonderungMikrowellenmessungen(Hochfrequenztest) ●SolarTestanalyse im Bereich der Solarenergie ●LEDundOLEDundLCD-BildschirmAnalyse der Feldprüfung ●PCBAnalyse der Feldprüfung ● VESEL DFB, COC,Test von optischen Geräten wie Silizium	Kompatible Testgeräte ●Verschiedene Modelle von Oszilloskopen ●Alle Marken Halbleiter-Parameter-Analyzer, BOTEST, sind DE, TECH, Ubron usw. ●Verschiedene Marken von Netzwerkanalysatoren, wie De, Rhodes Schwarz, SISI usw. ●Quellenliste für verschiedene Markenmodelle

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