Bügelmaskendickenmesser (Handheld)

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Das NS-Touch Foliendickenmesser (Handheld) ist ein ausgezeichnetes Handfilmmesssystem mit erheblichen Preisvorteilen. Die Möglichkeit, die Reflexionsspektraldaten von Folien in Sekunden schnell zu analysieren und die Dicke von Einzel- und Mehrschichtfolien zu analysieren. Spezielle Handsonden ermöglichen die Messung von gekrümmten Oberflächen wie Brillen, Lampen und mehr.

Produktdetails

Das NS-Touch Foliendickenmesser (Handheld) ist ein ausgezeichnetes Handfilmmesssystem mit erheblichen PreisvorteilenKann zur Gläserdickentest verwendet werdenEs ist möglich, die reflektierenden Spektrendaten von Folien in Sekunden schnell zu analysieren und die Dicke von einzelnen und mehrschichtigen Folien zu analysieren. Spezielle Handsonden ermöglichen die Messung von gekrümmten Oberflächen wie Brillen, Lampen und mehr.

ACUITIK NS-Touch 曲面测厚仪

Einer,ACUITIK NS-Touch FlächendickenmessungHauptfunktionen des Instruments

Anti-Reflexionsschichtdickenmessung (AR Coating)

- Einfache Bedienung: Messung der reflektierenden Folie auf der Bogenbrille sowie der reflektierenden Folie auf anderen optischen Linsen.

Messung der Hartschichtdicke (Hard Coating)

- Die Dicke der harten Beschichtung und der Grundschicht kann gleichzeitig gemessen werden.

Messung der hydrophoben Schicht (Hydrophobic Layer)

- Die hydrophobe Schicht ist sehr dünn, nur etwa hundert Atome dick, so dass die Messung mit kurzer Wellenlänge von UV erforderlich ist.

2. Besonderheiten des NS-Touch Bügelmaskendickenmeters (Handheld)

Einfache Kalibrierung: Der AutoCal-Algorithmus befreit den Benutzer von der täglichen Kalibrierung.

Verbesserte Genauigkeit: Minimierung der Rückreflexionsstörungen, um sicherzustellen, dass die Messergebnisse genauer und zuverlässiger sind.

Einfache Bedienung: Dank des Algorithmus der automatischen Probenerkennung ist der Messprozess intuitiv und einfach zu bedienen.

Spezifikationen der NS-Touch-Serie

Modell	NS-TouchUV	NS-Touch	NS-Touch NIR
Wellenlängenbereich	190 nm bis 1100 nm	380 nm bis 1050 nm	950 nm bis 1700 nm
Dickenmessbereich1	0,02 μm – 40 μm	0,05 μm – 80 μm	0,1 μm bis 250 μm
Genauigkeit2	0,01 μm oder 0,2%	0,01 μm oder 0,2%	0,02 μm oder 0,4%
Genauigkeit3	0,001 μm	0,001 μm	0,002 μm
Stabilität4	0,001 μm	0,001 μm	0,002 μm
Fleckgröße	100 μm	100 μm	100 μm
Messgeschwindigkeit	< 1s(Einzelmessung)	< 1s(Einzelmessung)	< 1s(Einzelmessung)
Lichtquelle	Halogenwolfram Lampe+Deuterium Licht	Halogenwolfram Lampe	Halogenwolfram Lampe
Probengröße	Durchmesser von1 mmnach300 mmoder größer	Durchmesser von1 mmnach300 mmoder größer	Durchmesser von1 mmnach300 mmoder größer

1. Abhängig vom spezifischen Material

Si/SiO2 (500 bis 1000 nm)

Berechnen Sie die doppelte Standardabweichung von 100 Messungen von 500 nm SiO2-Standardschichten und durchschnitten Sie die doppelte Standardabweichung von 20 effektiven Messtagen

Berechnen Sie den Durchschnittswert von 100 Messungen von 500 nm SiO2-Standardschichten und machen Sie eine doppelte Standardabweichung vom Durchschnittswert von 20 effektiven Messtagen

NS-Touch Messbeispiel, Messung der AR-Beschichtung auf dem Objektiv

NS-Touch wiederholt die Präzisionsbeispiele, bei denen die Stabilität der Messung der Dicke der Hard-Coating-Folie auf dem Objektiv mit einer Standardabweichung von 1-Sigma unter 0,001 µm liegt.
NS-Touch重复精度示例

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