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Jiangsu Leibo Scientific Instrument Co., Ltd
【PF200 in situ kratzen】 Optimierung der Filmform, PSC-Effizienz von 24,31%, 600 Stunden Stabilität von 89%!
Datum:2025-12-23Lesen Sie:2
Im Vergleich zur Rotationsbeschichtung sind Perovskitfilme, die durch die Kratzmethode hergestellt werden, in der Regel schlechter ausgebildet und beeinflussen die Effizienz und Stabilität des Solarmoduls (PSM). Zu diesem Zweck führte das Team des Instituts für Chemie der Chinese Academy of Sciences Polymerzusatzstoffe in den Perovskit-Vorläufern ein, um die elliptische Colloidstruktur anzupassen (In den Experimenten wurde die PF200-in-situ-Kratzeinrichtung des Rebokometers verwendetDie Ergebnisse wurden in Advanced Materials veröffentlicht.
PF200 (in situ kratzen) Geräte:
Ein Miniatur-Beschichtungsmittel, der für eine synchronisierte Strahlungsbeobachtungsplattform verwendet werden kann, mit einem Schieber, der Siliziumflatten oder andere Formen von Messerköpfen für die Beschichtung absorbiert, mit einer in der Höhe einstellbaren Beschichtung.
a) Abbildung des Perovskit-Folienbeschichtungsprozesses.
b) Elliptische Kugelkörper in der Feuchtfilm undc) Stapelschema der sphärischen Kolliden und der entsprechenden Perovskitfilm.
d) Elliptische Kugelkörper unde) SAXS-Spektrum der sphärischen Koloid-Perovskit-Präpulse.
f) elliptische sphärische Koloid-Präpulse undg) In situ GIWAXS-Spektrum des Perovskitfilmbildungsprozesses, der mit sphärischen Kolliden beschichtet ist.
h) Perovskitfilm mit elliptischem sphärischem Koloidpräfutiv undi) Evolution des Flächenkorrelativen Orientierungswinkels der Perovskitfilm (110), die mit sphärischen Kolliden-Vorläufern beschichtet ist, durch in situ GIWAXS-Spektralintegrale.
j) elliptische sphärische Koloid-Präpulse undk) 2D-GIWAXS-Muster, das mit Perovskitfilmen beschichtet ist, die mit sphärischen Kolliden beschichtet sind, nachdem sie hitzig gebrannt wurden.
a) Entwicklung der durchschnittlichen Korngröße während der Klingenbeschichtung.
b) LaMer-Diagramm des Perovskit-Nuklearismus- und Wachstumsmodells.
c) DLS-Durchmesser im Perovskit-Vortrieb.
d) PCE von Perovskitfilm beschichteten PSCs auf der Grundlage unterschiedlicher Polymerkonzentrationen.
e) Positionsintegral der Streuungseigenschaften (100) von Perovskitfilmen mit unterschiedlichen Polymerkonzentrationen.
f) Querschnittsbilder von Perovskitfilmen mit kugelförmigem Koloidpräfutor und g) mit elliptischem kugelförmigem Koloidpräfutor beschichtet.
h) Koloidablagesimulation von kugelförmigen Koloiden, i) elliptischen Koloiden und j) übergroßen elliptischen Koloiden.
a) UV-sichtbares Licht- und PL-Spektrum von Perovskitfilmen, die mit elliptischen und sphärischen Kolliden beschichtet sind.
b) TRPL-Spektrum von Perovskitfilmen, die mit elliptischen und sphärischen Kolliden beschichtet sind.
c) Hollow-only und d) dunkle J-V-Eigenschaften von Elektronen-only Dioden für die SCLC-Analyse von Perovskitfilmen, die mit elliptischen und sphericalen Kolliden und sphericalen Kolliden-Vorläufern beschichtet sind.
a) Querschnitt SEM-Bild des mit Klingen beschichteten PSC.
b) J-V-Eigenschaften des PSC.
c) EQE-Spektrum.
d) PSC-Stabilisierungsstrom und -Effizienz bei MPP.
e) Optische Fotos des PSM.
f) J-V-Eigenschaften von PSM.
g) Speicherstabilität des PSM.
h) MPP-Tracking-Stabilität von PSM.
Verbesserte Geräteleistung nach optimierter Folienform: PSC-Effizienz von 0,09 cm²24.31%， 13,94 cm² PSM-zertifizierte Effizienz21.37%Nach 600 Stunden Arbeit89%Anfangseffizienz.