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Produktkategorien
Peking Keriyong Technologie Co., Ltd.
ZEISS Wolfram Elektronenmikroskop
VerhandlungsfähigAktualisieren am02/03
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Übersicht
Das ZEISS Wolfram Wire Elektronenmikroskop ist ein hochauflösendes Elektronenmikroskop für die Beobachtung feiner Strukturen. Wolframmdraht-Elektronenmikroskop bezieht sich in der Regel auf ein Scan-Elektronenmikroskop (SEM) oder ein Transmission-Elektronenmikroskop (TEM), das Wolframmdraht als Elektronenquelle verwendet.
Produktdetails
ZEISS Wolfram ElektronenmikroskopEs ist ein hochauflösendes Elektronenmikroskop für die Beobachtung feiner Strukturen. Wolframmdraht-Elektronenmikroskop bezieht sich in der Regel auf ein Scan-Elektronenmikroskop (SEM) oder ein Transmission-Elektronenmikroskop (TEM), das Wolframmdraht als Elektronenquelle verwendet. ZEISS als Mikroskophersteller verfügt über viele fortschrittliche Eigenschaften. Hier sind einige Schlüsselpunkte:
1. Wolfram-Elektronenquelle
Wolfram-Draht-Elektronenmikroskop verwendet Wolfram-Draht als Quelle der Elektronenemission. Wolframmdraht ist in der Lage, bei hoher Spannung hochenergetische Elektronen zu emittieren, die verwendet werden, um Probenoberflächen zu scannen oder Proben zu durchdringen, um Bilder zu erzeugen.
2. Hohe Auflösung
Wolfram-Elektronenmikroskop kann eine hohe Auflösung auf der Nanonebene liefern. Dies ermöglicht es ihnen, feine Strukturen, Nanomaterialien, mikroskopische Mängel usw. im Inneren der Zelle zu beobachten.
3. Bildgebungsmodus
Scan-Elektronenmikroskop (SEM): Erstellt ein dreidimensionales Bild der Probenoberfläche, indem es die Probenoberfläche scannt und reflektierte Elektronen erkennt. Geeignet für die Beobachtung der Form und Oberflächeneigenschaften der Probe.
Transmissionselektronenmikroskop (TEM): Elektronenstrahl durchdringt die Probe und bildet ein Bild durch die Struktur im Inneren der Probe. Geeignet für die Beobachtung der inneren Struktur einer Probe, wie die Kristallstruktur von Zellorganismen und Materialien.
Technische Vorteile von ZEISS
Die Elektronenmikroskope von ZEISS können folgende technische Eigenschaften aufweisen:
Hohe Stabilität und qualitativ hochwertige Elektronenstrahlen: Bildqualität und -auflösung gewährleistet.
Fortgeschrittene Probenverarbeitung und Bildgebungstechnologien: zum Beispiel Autofokussierung, Bilderfassungssoftware und Bildanalyse.
Vielfältige Probenbewertungsmodi: Unterstützt verschiedene Beobachtungs- und Analysetechniken wie Rückstreuungselektronenbildgebung, Sekundärelektronenbildgebung usw.
1. Wolfram-Elektronenquelle
Wolfram-Draht-Elektronenmikroskop verwendet Wolfram-Draht als Quelle der Elektronenemission. Wolframmdraht ist in der Lage, bei hoher Spannung hochenergetische Elektronen zu emittieren, die verwendet werden, um Probenoberflächen zu scannen oder Proben zu durchdringen, um Bilder zu erzeugen.
2. Hohe Auflösung
Wolfram-Elektronenmikroskop kann eine hohe Auflösung auf der Nanonebene liefern. Dies ermöglicht es ihnen, feine Strukturen, Nanomaterialien, mikroskopische Mängel usw. im Inneren der Zelle zu beobachten.
3. Bildgebungsmodus
Scan-Elektronenmikroskop (SEM): Erstellt ein dreidimensionales Bild der Probenoberfläche, indem es die Probenoberfläche scannt und reflektierte Elektronen erkennt. Geeignet für die Beobachtung der Form und Oberflächeneigenschaften der Probe.
Transmissionselektronenmikroskop (TEM): Elektronenstrahl durchdringt die Probe und bildet ein Bild durch die Struktur im Inneren der Probe. Geeignet für die Beobachtung der inneren Struktur einer Probe, wie die Kristallstruktur von Zellorganismen und Materialien.
Technische Vorteile von ZEISS
Die Elektronenmikroskope von ZEISS können folgende technische Eigenschaften aufweisen:
Hohe Stabilität und qualitativ hochwertige Elektronenstrahlen: Bildqualität und -auflösung gewährleistet.
Fortgeschrittene Probenverarbeitung und Bildgebungstechnologien: zum Beispiel Autofokussierung, Bilderfassungssoftware und Bildanalyse.
Vielfältige Probenbewertungsmodi: Unterstützt verschiedene Beobachtungs- und Analysetechniken wie Rückstreuungselektronenbildgebung, Sekundärelektronenbildgebung usw.
