ZEISS Materialmikroskope

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Das Prinzip des Materialmikroskops von ZEISS basiert hauptsächlich auf der optischen Mikrologie und der Elektronenmikrologie. Das optische Mikroskop vergrößert die Probe durch die Brechung und Reflexion des Lichts, während das Elektronenmikroskop den Elektronenstrahl anstelle des Lichtstrahls verwendet, um eine höhere Auflösung und detaillierte Probenbildgebung zu bieten.

Produktdetails

ZEISS MaterialmikroskopeDas Prinzip basiert hauptsächlich auf der optischen Mikrologie und der Elektronenmikrologie. Das optische Mikroskop vergrößert die Probe durch die Brechung und Reflexion des Lichts, während das Elektronenmikroskop den Elektronenstrahl anstelle des Lichtstrahls verwendet, um eine höhere Auflösung und detaillierte Probenbildgebung zu bieten. Die Grundprinzipien des optischen Mikroskops umfassen die Fokussierung des Lichts durch ein Linsensystem, um ein vergrößertes Bild zu bilden; Das Elektronenmikroskop benutzt den Elektronenstrahl, um Proben zu scannen und sekundäre Elektronensignale zu sammeln, um ein hochauflösendes Bild zu bilden. Diese Mikroskope kombinieren fortschrittliches optisches Design und Elektronik, um die Mikrostruktur eines Materials tiefer zu untersuchen.

Eigenschaften von ZEISS Materialmikroskopen:

Kombination optischer Mikroskopie und Kofokussbildgebung

Die LSM Co-Focus-Plattform LSM900 wurde speziell für anspruchsvolle Materialanwendungen in 2D und 3D entwickelt.

Sie können kontaktlose Kofokusbildgebung verwenden, um die morphologischen Merkmale der Probe zu charakterisieren und die Oberflächenrauhe zu bewerten

Beschichtungs- und Foliendicke verlustfrei bestimmen

Sie können eine Vielzahl von Bildgebungsmethoden anwenden, einschließlich Polarisations- und Fluoreszenzmikroskographie im optischen Beobachtungsmodus oder im Kofokussmodus

Charakterisieren Sie Goldphasenproben unter reflektiertem Licht und Stein- oder Polymerflachenproben unter durchlässigem Licht.

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