ZEISS Fokus Ionenstrahlelektroskop Crossbeam Serie

ZEISS Fokus Ionenstrahlelektroskop Crossbeam SerieDetaillierte Beschreibung:

ZEISS Fokus Ionenstrahlelektroskop Crossbeam SerieEntdecken Sie neue FIB-Bearbeitungsmethoden - vom großen bis zum Nano-Präzisionsschneiden:

Nutzen Sie die hervorragende Leistung der lon-sculptor FIB-Spiegel bei niedriger Spannung, um die Probenqualität zu verbessern. Verringerung der Unkristallisierung von Präzisionsproben ermöglicht eine hervorragende Probeneffekt nach der Verdünnung des Polierens und beschleunigt die Anwendung von FIB durch den Vorteil eines schnellen Schaltstrahls.

Außerdem können Sie eine ausgezeichnete Stromleistung wählen, die die Erfassungsgeschwindigkeit für FIB-SEM 3D-Anwendungen verdoppelt. Der stabile Bilderfassungsprozess sorgt dafür, dass Sie genaue und hoch wiederholbare Ergebnisse erhalten. Der Spiegel ist so konzipiert, dass der Strahlbereich über fünf Größengruppen von 1pA bis 100 nA erstreckt wird. Strahlströme von bis zu 100 nA ermöglichen die schnelle und präzise Entfernung von Material und den Abschluss des Schneidprozesses mit einer hohen FIB-Auflösung von weniger als 3 nm bei niedrigen Strahlströmen. Bei einer Emissionsströmung von 2 μA haben Galliumfokusierte Ionenstrahlquellen, also LMIS (Liquid Metal Ion Source), eine übliche Lebensdauer von mehr als 3000 uAh. Durch die automatische Ionenquelle-Heizung können die Produkte der Crossbeam-Serie Experimente mit extrem langer Dauer durchführen.