Japanische Elektronik JEOL Schott Basis startet Scannelektroskop IT800

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Das japanische Elektronik-JEOL-Schott-Basis-Launch-Scannelektroskop IT800$r$n Semi-Immersive Objektiv bezieht sich auf eine starke Magnetfeldlinse, die durch leckende Magnetfelder gebildet wird, im unteren Teil des normalen Objektivs. Die Halbtauchobjektive von JEOL verbessern die Fokussierungsfähigkeit des Elektronenstrahls und ermöglichen eine ultrahohe Auflösung. Darüber hinaus ist es möglich, die Low-Energy-Sekundärelektronen, die aus der Probe angeregt werden, effizienter zu sammeln und die Detektionseffizienz des UID-Detektors zu verbessern.

Produktdetails

Japanische Elektronik JEOL Schott Basis startet Scannelektroskop IT800Produktbeschreibung:

日本电子JEOL肖特基场发射扫描电镜IT800

Einer,Japanische Elektronik JEOL Schott Basis startet Scannelektroskop IT800Hochauflösende Bildgebung

Die JSM-IT800 verfügt über eine eingetauchte Shotkie Plus Field Launch-Elektropistole, die in Kombination mit einer Low-Image Differential Focus-Linse und einem elektronischen optischen Steuersystem Neo Engine eine nanoskalige Auflösung erzielt. Seine sekundäre elektronische Bildauflösung erreicht bis zu 0,5 nm bei einer Beschleunigungsspannung von 15 kV und behält eine hohe Auflösung von 0,7 nm auch bei einer niedrigen Spannung von 1 kV. Diese Eigenschaft bietet einen erheblichen Vorteil bei der Beobachtung von Mikrostrukturen wie Nanomaterialien und Halbleitergeräten, wie zum Beispiel die eindeutige Darstellung der Verteilung von Katalysatorpartikeln unter 10 nm.

Flexible modulare Konstruktion

Vielfältige Objektivauswahl: Fünf Objektivmodulen, darunter Universal Hybrid Lenses (HL), High-Resolution Super Hybrid Lenses (SHL/SHL) und Semi-Immersive Objectives (i/is), die speziell für Halbleiter entwickelt wurden, erfüllen die vielfältigen Analyseanforderungen von magnetischen Materialien bis hin zu Isolatoren.

Skalierbares Detektorsystem: Ausgestattet mit dem neuen Blinkenden Rückstreuungsdetektor (SBED) und dem Multifunktions-Rückstreuungsdetektor (VBED), kann SBED bei niedriger Spannung immer noch klare Komponentenkontrastbilder erfassen, während VBED die synchrone Erfassung von 3D-Profil- und Komponenteninformationen für die mehrdimensionale Analyse komplexer Proben unterstützt.

Intelligenter Betrieb und effiziente Analyse

Integrierte Steuerplattform: Die nahtlose Integration des Energy Diffuse X-ray Spectrometers (EDS) über die grafische Schnittstelle SEM Center ermöglicht einen nahtlosen Wechsel zwischen der Echtzeit-Komponentenanalyse und der Bildanzeige, um die Analyseeffizienz zu erhöhen.

KI-Zugänglichkeit: Einführung von LIVE-AI-Filtern zur Optimierung der Echtzeit-Bildqualität, Unterstützung für schnelle Fokussierung und Diffusion-Anpassung; Optionale Software wie Smile Navi bietet Anfängern die Navigation und senkt die Nutzungsschwelle.

Automatisierte Einstellung: Komplexe Betriebsprozesse vereinfachen mit der Funktion der automatischen Schaltschneidung, Fokussierung, Bilddämpfung und anderen Funktionen in Kombination mit einem fünfachsigen Motorantrieb (360 ° Drehung und Neigung unterstützt).

Breite Anwendbarkeit und industrielle Kompatibilität

JSM-IT800 ist in den Bereichen Nanotechnologie, Halbleiter, Materialwissenschaft, Biomedizin und andere Leistungen zhuoyue. Zum Beispiel ermöglicht die Superhybridlinse (SHL) eine effiziente Analyse von magnetischen Materialien ohne Schaltmodus; Halbtauchobjektive (i/is) sind in der Querschnittsfehleranalyse von Halbleitergeräten ausgezeichnet. Darüber hinaus unterstützt das Gerät hochauflösende Bildgebung unter großen Strahlströmen (z.B. 100nA@5kV In Kombination mit der Hochgeschwindigkeits-Elementoberflächenanalyse und der Funktion EBSD (Elektronenrückstrahlungsdiffraktion) werden die Anforderungen der schnellen Prüfung der industriellen Qualitätsprüfung erfüllt.

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