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Produktkategorien
Peking Keriyong Technologie Co., Ltd.
ZEISS Optoelektronische Mikroskopsysteme
VerhandlungsfähigAktualisieren am02/03
- Modell
- Natur des Herstellers
- Hersteller
- Produktkategorie
- Ursprungsort
Übersicht
Das optoelektronische Mikroskopsystem von ZEISS kombiniert optische Mikroskop- und Elektronenmikroskoptechnologien und erm?glicht es den Anwendern, hochaufl?sende Bildgebung und detaillierte Analysen auf einer einzigen Plattform durchzuführen.
Produktdetails
ZEISS Optoelektronische MikroskopsystemeDie Kombination von optischen Mikroskop- und Elektronenmikroskop-Technologien ermöglicht es den Anwendern, hochauflösende Bildgebung und detaillierte Analysen auf einer einzigen Plattform durchzuführen. Zu den Vorteilen dieses Systems gehören:
Vorläufige Beobachtungen und Scans durch ein optisches Mikroskop und anschließende detaillierte Analyse mit einem Elektronenmikroskop mit höherer Auflösung.
In Kombination mit verschiedenen Mikroskoptechniken können Proben auf verschiedenen Skalen beobachtet werden, um eine umfassendere Analyse zu bieten.
Das System kann die Daten des optischen und Elektronenmikroskops integrieren, um eine umfassende Analyse der Probe zu erleichtern.
Die technologischen Vorteile von ZEISS Gemini bieten Ihnen folgende Vorteile:
1, kalibrierte Spiegel hat eine langfristige Stabilität, Sie müssen nur einfach die grundlegenden Parameter wie Beschleunigungsspannung, Sondenstrom usw. beim täglichen Gebrauch einstellen;
2, keine Leckage magnetische Objektiv Design, kann verschiedene Arten von Proben, einschließlich magnetischer Proben, verzerrungsfreie, hochauflösende Bildgebung;
Inlens Sekundärelektronen-Detektor hat eine hohe Effizienz der SE1-Signalaufnahme, um Ihnen ein realistisches Profilbild von der polären Oberfläche der Probe zu zeigen;
Der Rückstreuungsdetektor für Energiefilter im Spiegel mit seinem innovativen Designkonzept ermöglicht es Ihnen, bei niedriger Spannung eine hohe Auflösung, eine hohe Auskleidung und ein realistischeres Bild der Auskleidung des Probenmaterials zu erhalten.
Vorläufige Beobachtungen und Scans durch ein optisches Mikroskop und anschließende detaillierte Analyse mit einem Elektronenmikroskop mit höherer Auflösung.
In Kombination mit verschiedenen Mikroskoptechniken können Proben auf verschiedenen Skalen beobachtet werden, um eine umfassendere Analyse zu bieten.
Das System kann die Daten des optischen und Elektronenmikroskops integrieren, um eine umfassende Analyse der Probe zu erleichtern.
Die technologischen Vorteile von ZEISS Gemini bieten Ihnen folgende Vorteile:
1, kalibrierte Spiegel hat eine langfristige Stabilität, Sie müssen nur einfach die grundlegenden Parameter wie Beschleunigungsspannung, Sondenstrom usw. beim täglichen Gebrauch einstellen;
2, keine Leckage magnetische Objektiv Design, kann verschiedene Arten von Proben, einschließlich magnetischer Proben, verzerrungsfreie, hochauflösende Bildgebung;
Inlens Sekundärelektronen-Detektor hat eine hohe Effizienz der SE1-Signalaufnahme, um Ihnen ein realistisches Profilbild von der polären Oberfläche der Probe zu zeigen;
Der Rückstreuungsdetektor für Energiefilter im Spiegel mit seinem innovativen Designkonzept ermöglicht es Ihnen, bei niedriger Spannung eine hohe Auflösung, eine hohe Auskleidung und ein realistischeres Bild der Auskleidung des Probenmaterials zu erhalten.
