-
E-Mail-Adresse
info.microscopy.cn@zeiss.com
-
Telefon
13761758023
-
Adresse
Freihandelszone Meiyo Road 60, Pudong New District, Shanghai
Produktkategorien
Carl Zeiss (Shanghai) Management GmbH
Zeiss Doppelstrahlelektroskop Crossbeam 550 Samplefab
VerhandlungsfähigAktualisieren am01/19
- Modell
- Natur des Herstellers
- Hersteller
- Produktkategorie
- Ursprungsort
Übersicht
Das ZEISS-Doppelstrahlelektroskop Crossbeam 550 Samplefab ist ein fokussiertes Ionenstrahlscannelektronenmikroskop (FIB-SEM), das speziell für die TEM-Probenbereitung in der Halbleiterindustrie entwickelt wurde, und bietet hervorragende Flexibilität, Automatisierungsfunktionen und benutzerfreundliches Design, um die Probenbereitung in der Halbleiterindustrie einfacher und effizienter zu gestalten.
Produktdetails
404
Ähnliches Produkt Empfehlen
