XTL-20 Hochbildtiefenmikroskop

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XTL-20 Hochbildtiefenmikroskop

Produktdetails

Eigenschaften:

Fortgeschrittene Beschichtungstechnik mit ausgezeichneter Helligkeit und Linie beim Beobachten
Breites Sichtfeld, große Bildtiefe, klares Bild und starkes Stereogefühl.
Der 1:6,5-Verdoppelterbereich ermöglicht eine bessere Bildqualität.
Der 45 Grad geneigte Beobachtungskopf kann um 360 Grad gedreht werden, um die Bedienung zu erleichtern.
Arbeitsbereich Handrad 50mm(bei 100 mmDer Abstand der Augen ist 52-76 mm.
Für zusätzliche Großobjektive 0,37X, 0,5X, 0,7X, 1,5X und 2,0X verfügbar

Produktverwendung

XTL-20MikroskopieSpiegelMit einem größeren Vervielfältigungsverhältnis, von niedrigen zu hohen kontinuierlichen Vervielfältigungen der gesamten Reihe klar ohne Blink, große Bildtiefe, lange Arbeitsdistanz; Komplett ausgestattet, mit einer Vielzahl von Basis- und Universal-Halterungen ausgestattet; Geeignet für die Prüfung von Elektronikproduktionslinien, Prüfung von Leiterplatten und Schweißfehler in gedruckten Schaltungskomponenten(Druckfehler, Absturz usw.)Prüfung, Single BoardPCPrüfung, VakuumfluorescenzbildschirmVFDMit der Messsoftware können verschiedene Daten gemessen werden.

Produktspezifikation

Spezifikationsparameter				XTL-20
Optische Systeme	Schrägoptische Systeme			●
Optische Komponenten	Augenbild	Horizontale Neigung 45°±6 Brechungsgrad		●
		Trianguläre horizontale Neigung 45°±6 Brechungsgrad
		Abstand der Augen: 52-76mm		●
	Brille	Vielfaches	Sichtfeld	●
		10×	Φ23
	Objektive	Kontinuierliche Verdoppelung	Arbeitsabstand
		1~6.5×	118mm
	Vergrößern	10×~65× (kann auf 390× aktualisiert werden)
Grundhalter	Handrad fokussieren	100 mm
	Spiegelmontageöffnung	Φ76mm
	Runder Tragstisch	Mitteltischdurchmesser: φ95mm
Lichtquelle	Externe Lichtquellen	220V
Upgradeable Zubehör	Brille	10× (mit Maßstab)		○
		15×/20×/30×		○
	Zusatzobjekte	0.37×/0.5×/0.7×/1.5×/2×		○
	CCD Adapterspiegel	1×/0.5×/0.3×		○
	Grundhalter	Auswahl an Basisstützen in verschiedenen Spezifikationen		○
	Mobile Plattform	X-Y mobile Plattform		○
	Lichtquelle	LED-Ringleuchte		○
		Ein-/Doppelfaser-Kaltlichtquellen		○
	Anwendungssoftware	2D-Messsoftware		○
	Digitale Bildgebungssysteme	CCD Adapterspiegel		○
		PUDA 3 Megapixel Digitalkamera
Hinweis: ● als Standard, ○ als erweiterbares Zubehör

Hauptoptische Parameter

Brille	Objektive	Gastgeber	0,37x großes Objektiv	0,5x großes Objektiv	1,5x großes Objektiv	2x großes Objektiv
Brille	Objektive	1X ~ 6,5X	0,37X ~ 2,4X	0,5X ~ 3,3X	1,5X ~ 9,8X	2x bis 13x
10x	Gesamtvergrößerung	10X ~ 65X	3,7X ~ 24,1X	5X ~ 32,5X	15X ~ 98X	20x bis 130x
10x	Anzahl der Sichtfelder (mm)	Φ23~Φ3.5	Φ62.2~Φ9.6	Φ46~Φ7	Φ15.3~Φ2.3	Φ11.5~Φ1.8
15x	Gesamtvergrößerung	15X ~ 97,5X	5,55X ~ 36,1X	7,5X ~ 48,8X	22,5 x ~ 147 x	30x bis 195x
15x	Sichtfeld (mm)	Φ17~Φ2.6	Φ45.9~Φ7.1	Φ34~Φ5.2	Φ11.3~Φ1.7	Φ8.5~Φ1.3
20x	Gesamtvergrößerung	20x bis 130x	7,4X ~ 48,1X	10X ~ 65X	30x bis 196x	40x bis 260x
20x	Sichtfeld (mm)	Φ14~Φ2.2	Φ37.8~Φ5.8	Φ28~Φ4.2	Φ9.3~Φ1.4	Φ7~Φ1.1
30x	Gesamtvergrößerung	30x bis 195x	11,1X ~ 72,2X	15X ~ 97,5X	45X ~ 294X	60X ~ 390X
30x	Sichtfeld (mm)	Φ9~Φ1.4	Φ24.3~Φ3.7	Φ18~Φ2.7	Φ6~Φ0.9	Φ4.5~Φ0.7
Arbeitsabstand (mm)		118	275	195	50	35

Komplettheit der Instrumente

Komplettheit der Instrumente
1. 1 Geräte	4 Brillen 2	Augenbekleidung 2	1 Farbfilter	1 Werkzeugstaubschutz
2 Brille 1 Gruppe	5 Gläser 0	Tragflächen 2	1 nationale Stromkabel	14 Zufällige Dateien 1 Satz
3 Objektiv 1	6 Mikrometer 0 Stück	9 Werkstückfedern 1 Gruppe	1 Ersatzlampe

Konfiguration digitaler Anwendungen

XTL-20C Computerkamerasystem		XTL-20D Digitalkamera Kamera
⑴	XTL-20 Triokuläres kontinuierliches Multiplexmikroskop	⑴	XTL-20 Triokuläres kontinuierliches Multiplexmikroskop
⑵	Hochwertiger CCD-Spiegel	⑵	Speziale Verzögerungsspiegel für Digitalkameras
⑶	PUDA 3 Millionen importierte USB-Chip-Mikroskopkamera (mit US-amerikanischem APTINA High-Performance-Chipset / USB2.0-Hochgeschwindigkeitskommunikation, hohe Auflösung, perfekte Farbwiedergabe / Ultra-Fine patentierte Farbwiedergabe)	⑶	10 Megapixel Digitalkamera (Nikon/Sony empfohlen)
⑷	ToupView professionelle Bildsoftware

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