Wafer-Prüfmikroskop

Wafer-Prüfmikroskop(Große Plattform Wafer Detektion Mikroskop) ist eine erfolgreiche Entwicklung und Entwicklung eines High-Tech-Produkts durch die Kombination der ausgezeichneten optischen Mikroskop-Technologie, * der optoelektronischen Umwandlungstechnologie, * der Computerbildtechnik *. Sie können sowohl manuell beobachten, als auch auf dem Computer beobachten, dass das Bild sehr bequem und rechtzeitig beobachtet werden kann, und jederzeit erfassen werden kann, um das Metallographie zu analysieren, zu bewerten und so weiter, und Sie können auch hochpixelige Metallographiefotos speichern oder drucken.

Wafer-PrüfmikroskopDas System ist die Kombination des herkömmlichen optischen Mikroskops mit dem Computer (Digitalkamera) durch die optische Umwandlung organisch, kann nicht nur auf der Brille mikroskopische Beobachtung, sondern auch auf dem Computer (Digitalkamera) Display-Bildschirm in Echtzeit beobachten dynamische Bilder und die erforderlichen Bilder bearbeiten, speichern und drucken können.

(Große Plattform Wafer-Detektion-Mikroskop) mit einem großen Bewegungsbereich Tragstisch, Landing-Beleuchtung, Flachfeld-Farbdifferenz-Objektiv, große Sichtfeld-Brille, klares Bild, gute Linie, gleichzeitig mit Polarisationsgerät ausgestattet, ist das ideale Instrument für Metallologie, Mineralogie, Präzisionstechnik, Elektronik und andere Forschungen. Geeignet für den Einsatz in Schulen, Forschung, Fabriken und anderen Bereichen.